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日(rì)期:2017-04-17瀏覽(lǎn):25490次
JESD22環境可靠性測(cè)試標(biāo)準主要(yào)功能(néng)包(bāo)括(kuò)術語(yǔ),定(dìng)義,產品特征描(miáo)述與操作(zuò),測(cè)試(shì)方(fāng)法,生產(chǎn)支持(chí)功能(néng),產品質量(liáng)與(yǔ)可靠(kào)性(xìng),機械外形(xíng),固態存(cún)儲器,DRAM,閃(shǎn)存卡(qiǎ)及模(mó)塊(kuài),以及(jí)射頻(pín)識(shí)別(RFID)標簽(qiān)等的確定(dìng)與標準化。
標準編(biān)號(hào) | JESD22-A100C:2007 |
標(biāo)準(zhǔn)名(míng)稱(chēng) | 濕熱循(xún)環偏壓(yā)壽命(mìng)試(shì)驗 |
試(shì)驗(yàn)目的 | 評(píng)估非固(gù)態封裝(zhuāng)產(chǎn)品在(zài)溫度循環(huán),高(gāo)濕,偏(piān)壓及結露(lòu)環(huán)境(jìng)下。產(chǎn)品(pǐn)抗腐蝕和(hé)耐(nài)須晶生長性能(néng)。 |
試驗方法(fǎ)/條(tiáo)件 | ramp time 2h~4h;storage 4h~8h;30~65℃,90%~98%RH |
嚴(yán)酷(kù)等(děng)級(jí) | 默認(rèn)除(chú)非特例 |
時間 | 1008(-24,+168)h |
匹(pǐ)配設(shè)備(bèi) | ESPEC的J係列,LHU係(xì)列(liè),SH係(xì)列(liè),Walk-in等(děng) |
設備(bèi)要(yào)求(qiú) | 可(kě)編程交替(tì)溫濕(shī)度變化(huà) |
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標準編號(hào) | JESD22-A102D:2010 |
標(biāo)準名稱(chēng) | |
試驗(yàn)目的 | 這個(gè)測(cè)試(shì)方法(fǎ)主(zhǔ)要適用於抗(kàng)濕(shī)熱(rè)的(dí)健壯性測試(shì),通(tōng)過高溫(wēn)高壓飽(bǎo)和濕氣環境,引(yǐn)發分層或金(jīn)屬化腐蝕等(děng)失(shī)效。主要針對新(xīn)封(fēng)裝(zhuāng)材料(liào)及結(jié)構變化(huà)的考(kǎo)量。 |
試驗方法(fǎ)/條(tiáo)件 | 121±2℃,100%RH,205KPa |
嚴酷等級 | Condition A~F |
時間 | 24(0,+2)h;48(0,+2)h;96(0,+5)h;168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h |
匹配(pèi)設備(bèi) | EHS-211,EHS-411 |
設備要求 | 高(gāo)壓蒸(zhēng)煮(zhǔ)設備 |
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標準(zhǔn)編號 | JESD22-A103D:2010 |
標(biāo)準名(míng)稱 | |
試(shì)驗目的 | 高溫存儲測試通常(cháng)用於確定(dìng)時(shí)間(jiān)和 |
試(shì)驗(yàn)方法(fǎ)/條件 | 125(0,+10)℃;150(0,+10)℃;175(0,+10)℃;200(0,+10)℃;250(0,+10)℃;300(0,+10)℃; |
嚴(yán)酷等(děng)級 | Condition A~F |
時(shí)間 | Condition B 1000h or specifying in accordance with JESD47 |
匹配(pèi)設(shè)備 | ESPEC的PH/V係(xì)列,J係(xì)列,MC,SH/U,Walk-in,Z2係(xì)列等(děng) |
設備(bèi)要(yào)求(qiú) | 試驗(yàn)過(guò)程能穩(wěn)定控溫(wēn) |
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標準編(biān)號 | JESD22-A104D:2009 |
標準名(míng)稱 | 溫(wēn)度循(xún)環(huán) |
試驗目(mù)的 | 本實(shí)驗用(yòng)來(lái)確(què)定組件,互(hù)聯器件對(duì)交(jiāo)替溫度極限(xiàn)變化產(chǎn)生的機械應力的耐受性。 |
試驗(yàn)方法/條件 | -55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0) |
嚴酷等(děng)級 | Condition A~N |
時間(jiān) | 500~1000h根據(jù)具(jù)體(tǐ)條(tiáo)件(jiàn) |
匹配設備 | TCC,Global-N係列 |
設備要(yào)求 | 較高(gāo)的(dí)溫變(biàn)速(sù)率(shuài) |
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標準編號(hào) | JESD22-A105C:2004 |
標準名稱 | 上電和溫度循(xún)環(huán) |
試驗目的 | 適用(yòng)於(yú)半導體(tǐ)器件(jiàn),在交替的高低溫(wēn)極限中周期(qī)的施加卸除(chú)偏壓,用於模(mó)擬樣件所(suǒ)遭受的zui惡劣(liè)環(huán)境 |
試驗方(fāng)法(fǎ)/條件 | -40(+0,-10)℃~+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min |
嚴(yán)酷等級 | Typical condition A~B |
時間 | 10 minutes at each extreme temperature |
匹配設(shè)備 | J係列(liè),MC,AR係列,BTZ,Global-N係列(liè) |
設備(bèi)要求(qiú) | 具有可編程(chéng)控製能達(dá)到的(dí)溫度(dù)變化數(shù)率 |
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標(biāo)準編(biān)號(hào) | JESD22-A106B:2004 |
標準名(míng)稱(chēng) | 熱(rè)衝(chōng)擊(jī) |
試(shì)驗目的(dí) | 這(zhè)個(gè)測(cè)試是(shì)為了確(què)認樣(yàng)品(pǐn)暴露於(yú)溫(wēn)度(dù)變化(huà)的抵抗(kàng)力(lì)和(hé)造(zào)成的(dí)影響(xiǎng)。 |
試(shì)驗方(fāng)法/條(tiáo)件(jiàn) | 85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃ TT less than 20s |
嚴酷(kù)等(děng)級 | Condition A~D |
時(shí)間 | 協(xié)議(yì)商(shāng)定 |
匹配設備 | TSB |
設(shè)備(bèi)要求 | 液(yè)體導熱媒介 |
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標準(zhǔn)編號(hào) | JESD22-A107B:2004 |
標(biāo)準名稱 | |
試(shì)驗(yàn)目的(dí) | 用來確定固(gù)態(tài)器(qì)件抵抗鹽霧腐(fǔ)蝕能力 |
試驗方法/條件(jiàn) | 35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方(fāng)米(mǐ)每24小(xiǎo)時,pH 6.0~7.5. |
嚴酷等(děng)級(jí) | Condition A~D |
時(shí)間 | 24h;48h;96h;240h. |
匹配(pèi)設備(bèi) | 板橋(qiáo)理化的(dí)SQ係(xì)列 |
設備要(yào)求 | 適(shì)合(hé)完成(chéng)中性鹽(yán)霧條件的試驗箱 |
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標準(zhǔn)編(biān)號 | JESD22-A108D:2010 |
標(biāo)準名稱(chēng) | 高溫環境(jìng)條件下的工作壽命試驗 |
試(shì)驗目的(dí) | 這個(gè)測(cè)試用於(yú)確(què)定偏差的(dí)和(hé)溫度對固體(tǐ)器件的影(yǐng)響。短時間一種高溫(wēn)偏壓的(dí)壽命測試(shì),俗稱老化(huà),可(kě)能被用來剔(tī)除早夭期相(xiāng)關故障(zhàng)。 |
試(shì)驗(yàn)方法(fǎ)/條(tiáo)件(jiàn) | 125℃/-10℃ |
嚴(yán)酷等級 | 由測試時間決定 |
時(shí)間(jiān) | 168h;336h;504h或(huò)另外商定 |
匹配(pèi)設(shè)備 | ESPEC的PH/V係列(liè),J係列,MC,SH/U,Walk-in,Z2係列等(děng) |
設(shè)備要(yào)求 | 樣品在(zài)通電狀(zhuàng)態下(xià)溫箱溫差(chà)控製(zhì)在5攝(shè)氏度內(nèi) |
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標準(zhǔn)編號 | JESD22-A110D |
標準(zhǔn)名稱(chēng) | 高(gāo)加速壽命(mìng)試驗(yàn) |
試(shì)驗目的 | 高加速溫濕度應(yīng)力(lì)試(shì)驗是為(wéi)評(píng)估非(fēi)氣密性(xìng)固態(tài)器件(jiàn)在潮(cháo)濕及(jí)電偏壓的環境(jìng)中(zhōng)的可(kě)靠性。 |
試(shì)驗方法(fǎ)/條(tiáo)件 | 130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power |
嚴酷(kù)等(děng)級 | 由所(suǒ)選溫度點(diǎn)決(jué)定(dìng) |
時間 | 96h;264h |
匹(pǐ)配設備(bèi) | EHS-211,EHS-411 |
設(shè)備要求 | 能夠達到的溫濕度條件,並(bìng)且(qiě)具(jù)備給試(shì)樣(yàng)施(shī)加(jiā)電偏(piān)壓的結(jié)構(gòu) |
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標準(zhǔn)編(biān)號(hào) | JESD22-A118A:2011 |
標準名稱(chēng) | 不上(shàng)電的(dí)高加速(sù)濕(shī)氣滲(shèn)透試(shì)驗 |
試(shì)驗(yàn)目(mù)的 | 高(gāo)加速(sù)溫濕度(dù)應力(lì)試驗是為評估(gū)非(fēi)氣(qì)密性(xìng)固(gù)態設備器(qì)件(jiàn)在潮濕的環境中(zhōng)的可靠(kào)性。 |
試驗(yàn)方法(fǎ)/條件(jiàn) | 130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h; |
嚴(yán)酷(kù)等(děng)級 | 由所選溫度點決定 |
時(shí)間(jiān) | 96h;264h |
匹配(pèi)設備(bèi) | EHS-211,EHS-411 |
設備要求(qiú) | 能(néng)夠達(dá)到(dào)的(dí)溫濕(shī)度(dù)條件 |
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標準編號(hào) | JESD22-B103B:2002 |
標準名稱(chēng) | 振動(dòng)和掃頻試驗 |
試驗目(mù)的(dí) | 這個測(cè)試是評估電(diàn)氣設備組(zǔ)件。它的目(mù)的(dí)是(shì)確定組件)承受(shòu)中度(dù)到重(zhòng)度的振動(dòng)運動的結(jié)果 運輸或(huò)野(yě)外作(zuò)業產生的。 |
試(shì)驗(yàn)方法/條件(jiàn) | |
嚴酷等級(jí) | 正弦(xián)掃(sǎo)頻實驗(yàn)分8個等(děng)級;隨機振動(dòng)試驗從試驗(yàn)等級(jí)A~I |
時(shí)間 | 正(zhèng)弦(xián)1decade/min掃過等(děng)級的規(guī)定(dìng)的頻率(shuài)範圍(wéi),4次每(měi)個軸,3個軸(zhóu);隨(suí)機每(měi)個(gè)軸30分鐘,3個(gè)軸 |
匹配(pèi)設備 | DC-3200-36 |
設備要求(qiú) | 電磁振動台(tái) |