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JESD22環(huán)境可(kě)靠(kào)性測(cè)試標(biāo)準

日(rì)期:2017-04-17瀏覽(lǎn):25490次

JESD22環境可靠性測(cè)試標(biāo)準主要(yào)功能(néng)包(bāo)括(kuò)術語(yǔ),定(dìng)義,產品特征描(miáo)述與操作(zuò),測(cè)試(shì)方(fāng)法,生產(chǎn)支持(chí)功能(néng),產品質量(liáng)與(yǔ)可靠(kào)性(xìng),機械外形(xíng),固態存(cún)儲器,DRAM,閃(shǎn)存卡(qiǎ)及模(mó)塊(kuài),以及(jí)射頻(pín)識(shí)別(RFID)標簽(qiān)等的確定(dìng)與標準化。

標準編(biān)號(hào)

JESD22-A100C:2007

標(biāo)準(zhǔn)名(míng)稱(chēng)

濕熱循(xún)環偏壓(yā)壽命(mìng)試(shì)驗

試(shì)驗(yàn)目的

評(píng)估非固(gù)態封裝(zhuāng)產(chǎn)品在(zài)溫度循環(huán),高(gāo)濕,偏(piān)壓及結露(lòu)環(huán)境(jìng)下。產(chǎn)品(pǐn)抗腐蝕和(hé)耐(nài)須晶生長性能(néng)。

試驗方法(fǎ)/條(tiáo)件

ramp time 2h~4h;storage 4h~8h;30~65℃,90%~98%RH

嚴(yán)酷(kù)等(děng)級(jí)

默認(rèn)除(chú)非特例

時間

1008(-24,+168)h

匹(pǐ)配設(shè)備(bèi)

ESPEC的J係列,LHU係(xì)列(liè),SH係(xì)列(liè),Walk-in等(děng)

設備(bèi)要(yào)求(qiú)

可(kě)編程交替(tì)溫濕(shī)度變化(huà)

 

 

標準編號(hào)

JESD22-A102D:2010

標(biāo)準名稱(chēng)

高加(jiā)速蒸(zhēng)煮試(shì)驗

試驗(yàn)目的

這個(gè)測(cè)試(shì)方法(fǎ)主(zhǔ)要適用於抗(kàng)濕(shī)熱(rè)的(dí)健壯性測試(shì),通(tōng)過高溫(wēn)高壓飽(bǎo)和濕氣環境,引(yǐn)發分層或金(jīn)屬化腐蝕等(děng)失(shī)效。主要針對新(xīn)封(fēng)裝(zhuāng)材料(liào)及結(jié)構變化(huà)的考(kǎo)量。

試驗方法(fǎ)/條(tiáo)件

121±2℃,100%RH,205KPa

嚴酷等級

Condition A~F

時間

24(0,+2)h;48(0,+2)h;96(0,+5)h;168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h

匹配(pèi)設備(bèi)

EHS-211,EHS-411

設備要求

高(gāo)壓蒸(zhēng)煮(zhǔ)設備

 

 

標準(zhǔn)編號

JESD22-A103D:2010

標(biāo)準名(míng)稱

高溫儲存(cún)壽命試驗

試(shì)驗目的

高溫存儲測試通常(cháng)用於確定(dìng)時(shí)間(jiān)和
溫度(dù)對產品的影響。

試(shì)驗(yàn)方法(fǎ)/條件

125(0,+10)℃;150(0,+10)℃;175(0,+10)℃;200(0,+10)℃;250(0,+10)℃;300(0,+10)℃;

嚴(yán)酷等(děng)級

Condition A~F

時(shí)間

Condition B  1000h or specifying in accordance with JESD47

匹配(pèi)設(shè)備

ESPEC的PH/V係(xì)列,J係(xì)列,MC,SH/U,Walk-in,Z2係(xì)列等(děng)

設備(bèi)要(yào)求(qiú)

試驗(yàn)過(guò)程能穩(wěn)定控溫(wēn)

 

 

標準編(biān)號

JESD22-A104D:2009

標準名(míng)稱

溫(wēn)度循(xún)環(huán)

試驗目(mù)的

本實(shí)驗用(yòng)來(lái)確(què)定組件,互(hù)聯器件對(duì)交(jiāo)替溫度極限(xiàn)變化產(chǎn)生的機械應力的耐受性。

試驗(yàn)方法/條件

-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)       

嚴酷等(děng)級

Condition A~N

時間(jiān)

500~1000h根據(jù)具(jù)體(tǐ)條(tiáo)件(jiàn)

匹配設備

TCC,Global-N係列

設備要(yào)求

較高(gāo)的(dí)溫變(biàn)速(sù)率(shuài)

 

 

標準編號(hào)

JESD22-A105C:2004

標準名稱

上電和溫度循(xún)環(huán)

試驗目的

適用(yòng)於(yú)半導體(tǐ)器件(jiàn),在交替的高低溫(wēn)極限中周期(qī)的施加卸除(chú)偏壓,用於模(mó)擬樣件所(suǒ)遭受的zui惡劣(liè)環(huán)境

試驗方(fāng)法(fǎ)/條件

-40(+0,-10)℃~+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min
-40(+0,-10)℃~+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min
power on/off 5min

嚴(yán)酷等級

Typical condition A~B 

時間

10 minutes at each extreme temperature 

匹配設(shè)備

J係列(liè),MC,AR係列,BTZ,Global-N係列(liè)

設備(bèi)要求(qiú)

具有可編程(chéng)控製能達(dá)到的(dí)溫度(dù)變化數(shù)率

 

 

標(biāo)準編(biān)號(hào)

JESD22-A106B:2004

標準名(míng)稱(chēng)

熱(rè)衝(chōng)擊(jī)

試(shì)驗目的(dí)

這(zhè)個(gè)測(cè)試是(shì)為了確(què)認樣(yàng)品(pǐn)暴露於(yú)溫(wēn)度(dù)變化(huà)的抵抗(kàng)力(lì)和(hé)造(zào)成的(dí)影響(xiǎng)。

試(shì)驗方(fāng)法/條(tiáo)件(jiàn)

85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃  TT less than 20s

嚴酷(kù)等(děng)級

Condition A~D

時(shí)間

協(xié)議(yì)商(shāng)定

匹配設備

TSB

設(shè)備(bèi)要求

液(yè)體導熱媒介

 

 

標準(zhǔn)編號(hào)

JESD22-A107B:2004

標(biāo)準名稱

鹽霧實驗

試(shì)驗(yàn)目的(dí)

用來確定固(gù)態(tài)器(qì)件抵抗鹽霧腐(fǔ)蝕能力

試驗方法/條件(jiàn)

35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方(fāng)米(mǐ)每24小(xiǎo)時,pH 6.0~7.5.  

嚴酷等(děng)級(jí)

Condition A~D

時(shí)間

24h;48h;96h;240h.

匹配(pèi)設備(bèi)

板橋(qiáo)理化的(dí)SQ係(xì)列

設備要(yào)求

適(shì)合(hé)完成(chéng)中性鹽(yán)霧條件的試驗箱

 

 

標準(zhǔn)編(biān)號

JESD22-A108D:2010

標(biāo)準名稱(chēng)

高溫環境(jìng)條件下的工作壽命試驗

試(shì)驗目的(dí)

這個(gè)測(cè)試用於(yú)確(què)定偏差的(dí)和(hé)溫度對固體(tǐ)器件的影(yǐng)響。短時間一種高溫(wēn)偏壓的(dí)壽命測試(shì),俗稱老化(huà),可(kě)能被用來剔(tī)除早夭期相(xiāng)關故障(zhàng)。

試(shì)驗(yàn)方法(fǎ)/條(tiáo)件(jiàn)

125℃/-10℃

嚴(yán)酷等級

由測試時間決定

時(shí)間(jiān)

168h;336h;504h或(huò)另外商定

匹配(pèi)設(shè)備

ESPEC的PH/V係列(liè),J係列,MC,SH/U,Walk-in,Z2係列等(děng)

設(shè)備要(yào)求

樣品在(zài)通電狀(zhuàng)態下(xià)溫箱溫差(chà)控製(zhì)在5攝(shè)氏度內(nèi)

 

 

標準(zhǔn)編號

JESD22-A110D

標準(zhǔn)名稱(chēng)

高(gāo)加速壽命(mìng)試驗(yàn)

試(shì)驗目的

高加速溫濕度應(yīng)力(lì)試(shì)驗是為(wéi)評(píng)估非(fēi)氣密性(xìng)固態(tài)器件(jiàn)在潮(cháo)濕及(jí)電偏壓的環境(jìng)中(zhōng)的可(kě)靠性。

試(shì)驗方法(fǎ)/條(tiáo)件

130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power

嚴酷(kù)等(děng)級

由所(suǒ)選溫度點(diǎn)決(jué)定(dìng)

時間

96h;264h

匹(pǐ)配設備(bèi)

EHS-211,EHS-411

設(shè)備要求

能夠達到的溫濕度條件,並(bìng)且(qiě)具(jù)備給試(shì)樣(yàng)施(shī)加(jiā)電偏(piān)壓的結(jié)構(gòu)

 

 

標準(zhǔn)編(biān)號(hào)

JESD22-A118A:2011

標準名稱(chēng)

不上(shàng)電的(dí)高加速(sù)濕(shī)氣滲(shèn)透試(shì)驗

試(shì)驗(yàn)目(mù)的

高(gāo)加速(sù)溫濕度(dù)應力(lì)試驗是為評估(gū)非(fēi)氣(qì)密性(xìng)固(gù)態設備器(qì)件(jiàn)在潮濕的環境中(zhōng)的可靠(kào)性。

試驗(yàn)方法(fǎ)/條件(jiàn)

130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;

嚴(yán)酷(kù)等(děng)級

由所選溫度點決定

時(shí)間(jiān)

96h;264h

匹配(pèi)設備(bèi)

EHS-211,EHS-411

設備要求(qiú)

能(néng)夠達(dá)到(dào)的(dí)溫濕(shī)度(dù)條件

 

 

標準編號(hào)

JESD22-B103B:2002

標準名稱(chēng)

振動(dòng)和掃頻試驗

試驗目(mù)的(dí)

這個測(cè)試是評估電(diàn)氣設備組(zǔ)件。它的目(mù)的(dí)是(shì)確定組件)承受(shòu)中度(dù)到重(zhòng)度的振動(dòng)運動的結(jié)果    運輸或(huò)野(yě)外作(zuò)業產生的。

試(shì)驗(yàn)方法/條件(jiàn)

正弦掃頻實驗,隨機(jī)振(zhèn)動試(shì)驗

嚴酷等級(jí)

正弦(xián)掃(sǎo)頻實驗(yàn)分8個等(děng)級;隨機振動(dòng)試驗從試驗(yàn)等級(jí)A~I

時(shí)間

正(zhèng)弦(xián)1decade/min掃過等(děng)級的規(guī)定(dìng)的頻率(shuài)範圍(wéi),4次每(měi)個軸,3個軸(zhóu);隨(suí)機每(měi)個(gè)軸30分鐘,3個(gè)軸

匹配(pèi)設備

DC-3200-36

設備要求(qiú)

電磁振動台(tái)

 

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