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產品特(tè)性Product characteristics

      中(zhōng)國電子行(háng)業(yè)儀器優(yōu)質供(gōng)應商——堅(jiān)融實(shí)業JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(yǒu)(上海)測(cè)量儀(yí)器(qì)JETYOO INSTRUMENTS，專業為中(zhōng)國(guó)區用戶(hù)提供(gōng)儀器設備，技術(shù)培(péi)訓與售後維(wéi)修服(fú)務(wù)，Support，銷售Sale，服(fú)務Service，3S公司，為上海華東(dōng)地區一(yī)家(jiā)以技術為(wéi)導向(xiàng)的(dí)儀器綜合(hé)服務商，是(shì)您值得(dé)信(xìn)賴(lài)的(dí)電子行業儀器專(zhuān)家。

英(yīng)國(guó)Chilworth靜(jìng)電(diàn)衰減(jiǎn)分析儀JCI155v6
Electrostatic Charge Decay Time Analyser JCI-155v6
JCI-155 靜(jìng)電(diàn)衰減(jiǎn)分析儀(yí)由英(yīng)國(guó)Chilworth公司(sī)開發(fā)製造. Chilworth是(shì)的(dí)爆(bào)炸(zhà)/燃燒危害(hài)檢(jiǎn)測機構, 同(tóng)時也(yě)是(shì)相關專業(yè)儀(yí)器和設(shè)備(bèi)的製造(zào)商. JCI-155 靜(jìng)電衰減(jiǎn)分析(xī)儀(yí)經歷(lì)了(liǎo)3代的(dí)發(fā)展過(guò)程(chéng), 從(cóng)zui初的155v4 到155v5, 型號為155v6.
JCI-155靜電(diàn)衰減儀可對固(gù)體(tǐ),粉體和液體(tǐ)材料進(jìn)行(háng)監測(cè), 軟件功(gōng)能(néng)*, 是(shì)美(měi)國(guó)國(guó)家航(háng)空和宇宙航行局(jú)(NASA)采用(yòng)產品(pǐn). 同時JCI-155v6衰(shuāi)減分析儀(yí)還(huán)是IEC 61340-2-1標(biāo)準規範的模板設備.
JCI 155v6用(yòng)於測(cè)試(shì)材料(liào)的(dí)靜電衰(shuāi)減時間和(hé)電(diàn)容負(fù)載
可(kě)直接將(jiāng)JCI 155v6 放(fàng)置(zhì)在測試材料(liào)上測(cè)量(liáng)
測量範圍(wéi): 10毫(háo)秒-99小時(shí)
測(cè)試反(fǎn)應時(shí)間: 10毫秒
測試電(diàn)壓(yā)(電(diàn)暈放電(diàn)): 0-9.9kV(可(kě)以選擇正負極性(xìng))
衰減測(cè)試比例: 1%-99%的(dí)衰減時(shí)間
同(tóng)時(shí)測量(liáng)環境溫(wēn)濕度
特別(bié)設計(jì)氣閘效(xiào)應, 消除殘(cán)留空氣離子幹擾(rǎo)
高(gāo)精(jīng)度靜(jìng)電壓(yā)測試探(tàn)頭(tóu)
采(cǎi)用(yòng)配套(tào)JCI176樣品台可測量(liáng)轉移(yí)到測(cè)試料樣(yàng)上(shàng)的電量(liáng), 並(bìng)計(jì)算出(chū)電(diàn)容(róng)負(fù)載(zǎi)
采(cǎi)用(yòng)配套JCI173樣(yàng)品杯可(kě)以(yǐ)測量粉(fěn)體和液(yè)體(tǐ)的靜電衰減期
配(pèi)套JCI-Graph軟件(jiàn)在電腦(nǎo)中(zhōng)儲存(cún)分(fēn)析數(shù)據,衰減(jiǎn)曲(qū)綫和形成報告

品(pǐn)牌: JCI
製(zhì)造商(shāng): Chilworth Technology Ltd
產地(dì): 英(yīng)國(guó)
訂(dìng)購(gòu)編號(hào):     描述(shù):
JCI155v6     包含(hán)以下(xià)物(wù)品(pǐn)
      測試(shì)儀
      JCI176樣(yàng)品台, 用(yòng)於測(cè)試(shì)平麵材(cái)料(liào), 可(kě)以(yǐ)測試材料(liào)電(diàn)荷負(fù)載(zǎi)
      JCI173樣(yàng)品杯, 用(yòng)於測(cè)試粉體和液(yè)體(tǐ)
      測(cè)試儀(yí)和樣(yàng)品(pǐn)台連(lián)接纜綫(xiàn), 1條
      接地綫, 2條(tiáo)
      長USB數據(jù)綫, 1條, 用於連(lián)接儀器和電腦
      短(duǎn)USB數據(jù)綫, 1條, 用於外接(jiē)U盤
      配套軟件(jiàn)
      校正書和(hé)說明(míng)書(shū)
 
 
 
英(yīng)國(guó)Chilworth靜電(diàn)衰(shuāi)減分(fēn)析(xī)儀(yí)JCI155v6性能優(yōu)點(diǎn)
JCI-155v6靜電分析(xī)儀(yí)是(shì)IEC 61340-2-1規(guī)範(fàn)所采用的*設備 
JCI-155v6靜電(diàn)分(fēn)析儀(yí)式是美國國(guó)家(jiā)航空和宇(yǔ)宙航行局(jú)（NASA）采用(yòng)產品 
 
JCI-155v6是(shì)一(yī)款小巧(qiǎo)輕便的測(cè)試(shì)儀(yí)器，采用電暈放(fàng)電方式施加(jiā)電(diàn)荷(hé)到被測材(cái)料(liào)表麵，可以(yǐ)快(kuài)速，精(jīng)確(què)地測(cè)量(liáng)材(cái)料(liào)的(dí)靜電消散能(néng)力(lì)和評估一定(dìng)數(shù)量(liáng)的(dí)電(diàn)荷轉移到材料(liào)上時，是否會(huì)產(chǎn)生明(míng)顯的(dí)靜電位。 
 
JCI-155v6主(zhǔ)要(yào)由電壓計(jì)，電(diàn)暈放(fàng)電裝置(zhì)，計時(shí)器(qì)，機(jī)械(xiè)運動結構，內部(bù)處理器和(hé)儲存器(qì)構(gòu)成。高壓(yā)電(diàn)暈(yùn)放電(diàn)施加(jiā)電荷到(dào)測(cè)試料樣(yàng)表麵，電壓計對(duì)表麵電壓進行(háng)測量，計時器對過程計時，所有(yǒu)過程由(yóu)內部(bù)處(chǔ)理(lǐ)器控製(zhì)及(jí)處理(lǐ)數據。 
 
所有(yǒu)的操作(zuò)和(hé)數(shù)據(jù)處理(lǐ)都由JCI-155v6的(dí)處理器(qì)和軟(ruǎn)件(jiàn)完成，通(tōng)過5個多功(gōng)能(néng)按鍵(jiàn)來(lái)進行(háng)人機交互。測(cè)試測(cè)試(shì)數(shù)據(jù)保(bǎo)存在儀器內存中(zhōng)，可以通(tōng)過(guò)USB接(jiē)口(kǒu)輸出到個(gè)人電腦。 
 
儀(yí)器(qì)本(běn)身大(dà)屏(píng)幕LCD可以顯示(shì)測(cè)試(shì)讀(dú)數(shù)和曲綫圖。采(cǎi)用(yòng)USB連接綫連(lián)接個人電(diàn)腦後(hòu)，通過配(pèi)套JCI-Graph軟(ruǎn)件可(kě)以在電(diàn)腦(nǎo)端(duān)控(kòng)製儀器，設(shè)置測試(shì)參(cān)數(shù)。所有(yǒu)數(shù)據(jù)可(kě)以(yǐ)輸(shū)出到(dào)電腦並保(bǎo)存為(wéi)表單文件，測(cè)試(shì)數(shù)據和圖(tú)形(xíng)可以直(zhí)接打印，復製粘(nián)貼(tiē)到其他應(yīng)用程序（例(lì)如(rú)WORD）。 
 
配(pèi)套(tào)JCI-176樣品(pǐn)台提(tí)供(gōng)一(yī)個標(biāo)準的(dí)測(cè)試平(píng)台，可以(yǐ)方(fāng)便(biàn)地固(gù)定(dìng)被測材料。JCI-176還(huán)可以測(cè)試材(cái)料(liào)所獲(huò)得的電荷(hé)量(liáng)，進而計算(suàn)電(diàn)容負載。在JCI-176樣品(pǐn)台(tái)的(dí)基(jī)礎(chǔ)上加(jiā)上JCI-173樣(yàng)品杯可(kě)以測(cè)試粉(fěn)體和液體。 
 
JCI-155v6采(cǎi)用(yòng)特(tè)殊(shū)結(jié)構(gòu)，不(bù)同(tóng)於(yú)傳統的靜(jìng)電衰減監測儀。傳統的靜電衰(shuāi)減監測(cè)儀要(yào)求(qiú)把被測(cè)試(shì)材(cái)料按規(guī)定(dìng)尺寸(cùn)切割(gē)後(hòu)放置在一(yī)個旋轉的接(jiē)地(dì)平台(tái)上，被測試材料周(zhōu)期性的經(jīng)過，電(diàn)壓探(tàn)頭下(xià)方，以此來周(zhōu)期性的(dí)獲取信(xìn)號(hào)來(lái)計算衰減特(tè)性(xìng)。 
 
JCI-155v6采(cǎi)用旋轉葉(yè)片式電壓探頭(tóu)，這樣(yàng)可(kě)以(yǐ)直(zhí)接周期性的(dí)獲(huò)取(qǔ)信號(hào)，被測試(shì)料樣不用特殊處理，也(yě)不(bù)需(xū)要(yào)運動。因(yīn)此JCI-155v6的(dí)整體(tǐ)結(jié)構更加(jiā)緊密(mì)輕(qīng)巧，可以直接(jiē)放置在(zài)被測材(cái)料上進行(háng)測試(shì)。 
 
 
主要(yào)參數(shù) 
電暈(yùn)放電電(diàn)壓：0-9900V（默認設置7000V） 
電暈(yùn)放電時間：0-50ms，以2ms增幅(fú)設置(zhì)（默認設(shè)置20ms） 
初(chū)始電(diàn)壓取(qǔ)值(zhí)時間：0-100ms，以(yǐ)10ms增幅設(shè)置（默認(rèn)設(shè)置20ms） 
測(cè)試結束點：可以(yǐ)選擇以(yǐ)下4種(zhǒng) 
低於+/-2V自(zì)動結(jié)束(shù)測試 
到(dào)達1/e 和(hé)設置的衰減百分比（可設置1%-99%），默(mò)認(rèn)設置10% 
開始測(cè)試後1-99h（按1h增(zēng)幅(fú)設(shè)置(zhì)） 
手(shǒu)動停止(zhǐ)測試 
滑板(bǎn)開(kāi)啟並(bìng)移動速度：20ms（快(kuài)），0.75s（慢） 
 
 
采用JCI-176樣品(pǐn)台可以測量電(diàn)容負(fù)載（相(xiāng)對電容(róng)） 
測試固體材(cái)料(liào)時，把被測試材(cái)料加入JCI-176樣品(pǐn)台 
測(cè)試粉(fěn)體(tǐ)，液體材料時(shí)，把JCI-173樣(yàng)品(pǐn)杯夾入JCI-176樣品台