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產(chǎn)品中心(xīn)您(nín)當(dāng)前的位(wèi)置:首頁 > 產品(pǐn)中(zhōng)心 > DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試(shì) > 靜電(diàn)場/靜電(diàn)消散/離(lí)子平衡(héng) > 美國DESCO子(zǐ)品牌(pái)SCS EM EYE靜電(diàn)事件探測儀(yí)

基(jī)礎信息(xī)Product information

產品名(míng)稱:美國DESCO子品牌(pái)SCS EM EYE靜電事(shì)件探(tàn)測儀(yí)

產(chǎn)品(pǐn)型號(hào):

更新(xīn)時間:2025-06-08

產品(pǐn)簡(jiǎn)介:

堅融實業——一(yī)家(jiā)致(zhì)力於為祖國(guó)用戶提供美(měi)國DESCO子(zǐ)品牌(pái)SCS EM EYE靜電事(shì)件探測(cè)儀儀(yí)器設備,測(cè)試方案,技術培訓,維修計量全(quán)麵服務的儀器設(shè)備(bèi)綜合(hé)服務商(shāng)。

產(chǎn)品特性(xìng)Product characteristics

專業儀器設(shè)備與測試(shì)方(fāng)案(àn)供(gōng)應商(shāng)——上海堅融實業有(yǒu)限(xiàn)公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(yǒu)(上(shàng)海(hǎi))測(cè)量(liáng)儀器有限(xiàn)公(gōng)司(sī)JETYOO INSTRUMENTS,為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是(shì)德(dé)KEYSIGHT】品(pǐn)牌技(jì)術(shù)經理-堅JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克(kè)Tektronix】品牌產品經理-融(róng)YOO於2011年(nián)共(gòng)同(tóng)創辦,專注工業(yè)測(cè)試(shì)領(lǐng)域十六年(nián),誌在破舊(jiù)立新(xīn)!*進(jìn)口儀(yí)器(qì)設備大多(duō)數廠家(jiā)僅(jǐn)在(zài)國(guó)內(nèi)設銷售點,但(dàn)技(jì)術支持薄(báo)弱(ruò)甚至(zhì)沒有,而(ér)代理經銷(xiāo)商(shāng)也隻做商(shāng)務,不做售前技術支持(chí)/測試(shì)方(fāng)案(àn)和(hé)售後使用培訓(xùn)/維(wéi)修校準的(dí)空白(bái)。我們的(dí)技術型銷售(shòu)均為本科以(yǐ)上(shàng)學歷(lì),且均有10年以(yǐ)上(shàng)測(cè)試行(háng)業(yè)經(jīng)驗(yàn),以(yǐ)我(wǒ)們*進(jìn)*的經營理(lǐ)念,與客戶互惠(huì)互(hù)利(lì)合(hé)作雙贏,重在(zài)協助用戶采購與技(jì)術(shù)工(gōng)程(chéng)師的(dí)工作(zuò),提(tí)供較有(yǒu)競爭力的(dí)供應鏈(liàn)管理(lǐ)與(yǔ)售(shòu)前售後(hòu)技術支持。堅融(róng)實(shí)業(yè)——一家致(zhì)力(lì)於為(wéi)祖(zǔ)國用(yòng)戶(hù)提供美國DESCO子(zǐ)品牌(pái)SCS EM EYE靜電事件探測儀儀(yí)器設備,測(cè)試方案,技術(shù)培(péi)訓,維修(xiū)計量(liáng)全(quán)麵服務的儀器(qì)設(shè)備綜合服務商(shāng)。


美國(guó)DESCO子(zǐ)品牌SCS EM EYE靜(jìng)電事件(jiàn)探測儀(yí)EM EYE METER 操(cāo)作手(shǒu)冊 Operation Manual

1. 產品描述

是一款靜電事件探測儀(yí),可以測試靜電放(fàng)電的次數(shù)和放電(diàn)電壓(yā)。儀器(qì)具(jù)有(yǒu)分(fēn)辨信號的能力,區分(fēn) EMI 和(hé) ESD 信(xìn)號,剔(tī)除非(fēi) ESD 相關事件。用(yòng)戶(hù)可(kě)以(yǐ)選擇(zé)測試 CDM,HBM,MM 放電(diàn)模(mó)型,儀(yí)器根據

放電(diàn)模型(xíng),探測距(jù)離和信號(hào)強(qiáng)度計算(suàn)出(chū)大致的(dí)放(fàng)電(diàn)電(diàn)壓(yā)。

1 主(zhǔ)機(jī)身(shēn)

2 SD 內(nèi)存卡(qiǎ)(已(yǐ)插入(rù)主(zhǔ)機身(shēn))

3 CTC021 探(tàn)測模(mó)塊(含 CTS001 天綫)

4 CTC113-6FT 遠端全(quán)向天綫,1.8 米(mǐ)長(cháng)纜綫(xiàn)

5 電源適配(pèi)器(qì)

6 CTC115-6FT 遠端(duān)全向(xiàng)天綫,抗(kàng)高溫,1.8 米長(cháng)纜(lǎn)綫(xiàn)

標(biāo)配(pèi):1 +2 +3 +4 +5

選配:6


2. 部(bù)件功(gōng)能及安裝

備注(zhù):

 CTS001 為定向(xiàng)天(tiān)綫,隻可(kě)以探測到正前(qián)方(fāng)的(dí)信號

 CTC113 為(wéi)全向(xiàng)天綫(xiàn),可(kě)以探測到 360 度任何方向的(dí)信號

 如(rú)果需(xū)要探(tàn)測高溫區域的靜(jìng)電放電事件(jiàn),選(xuǎn)購 CTC115 高溫天綫

 如果新機(jī)衝(chōng)不(bù)了電,把電源適配器(qì)插(chā)上,然後頂 1 下(xià)重(zhòng)置(zhì)鍵(jiàn)激(jī)活電池

CTC113 遠(yuǎn)端(duān)天(tiān)綫(全向天綫(xiàn)),如果需要(yào)探(tàn)測(cè)狹窄空(kōng)間,可(kě)采用(yòng)該(gāi)天綫(xiàn)


3. 觸(chù)控(kòng)屏操(cāo)作(zuò)

 開機(jī):手指(zhǐ)按住(zhù)顯示屏任意(yì)位(wèi)置(zhì) 3 秒

 關(guān)機(jī):手(shǒu)指按住(zhù) Power/C 鍵 4 秒

1 弧形(xíng)圓點(diǎn),示意 10 個(gè)級別的放(fàng)電強度,點擊可(kě)設(shè)置報警閾(yù)值(zhí)

2 閃電(diàn)/三(sān)角符號(hào):點擊可切換符(fú)號

閃電符號,隻顯(xiǎn)示靜電(diàn)相關(guān)放電(diàn)事件(jiàn)(ESD)

三角符(fú)號,顯(xiǎn)示(shì)所有放電事(shì)件(jiàn)(包含 ESD 和 EMI)

3 探(tàn)測(cè)距離(lí):天綫(xiàn)到(dào)被測試物/測試點(diǎn)的(dí)距離(lí),點擊可(kě)設(shè)置距離

4 聲(shēng)音(yīn)符(fú)號:點擊該符號可選擇報警(jǐng)聲類(lèi)型及(jí)音量(liáng)。鈴(líng)鐺符(fú)號(hào)為(wéi)“叮鈴"聲(shēng),隻有一個音(yīn)量,不(bù)能(néng)調節。

點(diǎn)擊(jī)切(qiē)換成喇叭符(fú)號,這時的儀器(qì)發(fā)出(chū)類似(sì)收音機(jī)調頻聲,聲(shēng)音根據(jù)信(xìn)號強度的(dí)大小變(biàn)化(huà)。繼(jì)續點(diǎn)擊可(kě)以調節音(yīn)量(liáng)大小,在喇叭上(shàng)出現叉(chā),表示靜(jìng)音。

5 Power/C 按鍵(jiàn):單擊(jī)該(gāi)鍵屏幕清(qīng)零;按(àn)住該鍵(jiàn) 4 秒關(guān)機(jī)

6 Menu/F 按鍵(jiàn):點(diǎn)擊進入(rù)儀器基(jī)本設置界(jiè)麵(miàn)

7 Hold 按(àn)鍵(jiàn):點擊 1 次鎖定當前(qián)值(zhí);再(zài)點擊 1 次標(biāo)識(shí)該(gāi)值(zhí)為最(zuì)大(dà)值(zhí);再點擊(jī) 1 次取(qǔ)消(xiāo)鎖定

8 時間(jiān):顯示當前時間

9 電(diàn)量(liáng)符(fú)號:示意剩(shèng)餘電量;點(diǎn)擊(jī)該(gāi)符號(hào)設置日(rì)期和時間(jiān)

10 內存卡符號:點(diǎn)擊(jī)該(gāi)符(fú)號(hào),進入(rù)查看界麵(miàn),可(kě)以查看測試(shì)記錄

11 放(fàng)電模(mó)型:點擊進(jìn)入設(shè)置界麵(miàn),可以選擇 CDM,MM,HBM 放(fàng)電(diàn)模型(xíng)或 Raw Input(信號電(diàn)平(píng))

12 靜電放電電壓值



3.1. 開機(jī)界(jiè)麵

按住屏(píng)幕(mù)任意(yì)位(wèi)置大(dà)概 3 秒後儀器(qì)開機(jī)。開機(jī)後(hòu)先顯示儀器固件號,如(rú)下(xià)所(suǒ)示:

稍後,進(jìn)入(rù)待機界麵(miàn)。如果未(wèi)插(chā)入(rù) SD 卡或(huò)不能識(shí)別(bié) SD 卡(qiǎ),出現以(yǐ)下(xià)提示:

無(wú) SD 卡(qiǎ)也可(kě)以正常(cháng)使(shǐ)用該儀(yí)器(qì),但測試(shì)數(shù)據不會(huì)被保(bǎo)存。點擊黃色(sè)區域關閉提(tí)示窗(chuāng)口(kǒu)並(bìng)進入待(dài)機(jī)界麵。

注意!拔插 SD 卡(qiǎ)時,儀(yí)器(qì)處於關(guān)機狀(zhuàng)態。

3.2. 儀器(qì)基本(běn)設置(zhì)

點擊(jī) Menu/F 鍵(jiàn)進(jìn)入基(jī)本(běn)設置(zhì)界麵,顯示(shì)如下:

 第(dì)一(yī)行顯(xiǎn)示(shì)儀(yí)器(qì)主板(bǎn)編號(hào)

 第二(èr)行為屏(píng)幕(mù)亮度(dù),點擊圓盤的(dí)◄/►增(zēng)加或降低(dī)亮度(dù),默認 50%

 點擊(jī)▲/▼滾動(dòng)到(dào)第三(sān)行“Off time"項(xiàng),設(shè)置(zhì)自(zì)動(dòng)關(guān)機時間(jiān)(默認(rèn) 5 分鐘),點擊(jī)◄/►改變(biàn)時間,一直(zhí)點擊◄到 0,表(biǎo)示(shì)不(bù)啟用(yòng)自(zì)動(dòng)關機(jī)功能

 點擊(jī)▲/▼滾(gǔn)動到第(dì)四(sì)行“Local antenna"項(xiàng),點擊◄/►切換(huàn) Local antenna/Remote antenna

 Local antenna:采(cǎi)用 CTS001 定向天綫時(shí)選(xuǎn)擇該項(xiàng)

 Remote antenna:采(cǎi)用(yòng) CTC113 或 CTC115 遠(yuǎn)端全(quán)向(xiàng)天綫(xiàn)時選擇該項(xiàng)設(shè)置完成後,點(diǎn)擊(jī)圓盤中間的8 返回待(dài)機界麵(miàn)


3.3. 設置日期(qī)和(hé)時(shí)間(jiān)

點擊電(diàn)池符(fú)號進(jìn)入(rù)日(rì)期(qī)和時間設置界麵,顯(xiǎn)示如下(xià):

 第(dì)一(yī)行設(shè)置時(shí)間,點(diǎn)擊圓盤▲/▼改變數值(zhí),點(diǎn)擊(jī)◄/►移動(dòng)光(guāng)標向(xiàng)前或向(xiàng)後

 第(dì)二行(háng)設置日(rì)期,格(gé)式(shì)為(wéi):月(yuè)/日(rì)/年(08/15/16 表(biǎo)示(shì) 2016 年 8 月(yuè) 15 日)

 第(dì)三(sān)行選擇(zé) 12/24 小時製,點(diǎn)擊▲/▼選擇 12H 或 24H

 設置(zhì)完成後,點擊圓(yuán)盤中(zhōng)間(jiān)的8 返回待機(jī)界麵(miàn)


4. 測(cè)試(shì)靜電放(fàng)電(ESD)事件(jiàn)

4.1. 設置探測距離(lí)和(hé)放電模(mó)型

儀器采(cǎi)用(yòng)專li的算法,根據探(tàn)測距離,獲(huò)得信(xìn)號強度(dù)和放電(diàn)模型計算出(chū)大致(zhì)的放電電(diàn)壓。用戶需要設(shè)置探測距離和(hé)放(fàng)電(diàn)模型(xíng)。

探(tàn)測距離(lí):

天綫(xiàn)距離被測試物/測試點(diǎn)的(dí)距(jù)離(lí),設置(zhì)範圍(wéi) 0.5~15.0 英寸(1.3~38.1cm)

注(zhù)意(yì):實(shí)際(jì)測試(shì)時(shí),天(tiān)綫(xiàn)距(jù)離被測試物/測(cè)試點(diǎn)應該(gāi)為所設置的距離。

放電(diàn)模型:

CDM:器件(jiàn)本(běn)身(shēn)帶有(yǒu)靜(jìng)電,當接觸到接地導體或其他電(diàn)位(wèi)導(dǎo)體(tǐ)時發生靜電放電(diàn)

MM:帶靜電(diàn)的設(shè)備或工(gōng)具(jù)接(jiē)觸(chù)到(dào)接(jiē)地(dì)的器件,發(fā)生靜電放電

HBM:帶靜電(diàn)的(dí)人體接(jiē)觸(chù)到(dào)接(jiē)地的器件,發生(shēng)靜電放(fàng)電

Raw Input:天綫所獲得(dé)的(dí)實(shí)際(jì)信(xìn)號(hào)強度(電(diàn)平信(xìn)號),該讀數用於(yú)儀器(qì)校準


點(diǎn)擊(jī)屏幕的距離(lí)或放電(diàn)模(mó)型(xíng)方(fāng)框,進(jìn)入設(shè)置界(jiè)麵,屏(píng)幕(mù)顯(xiǎn)示如下:

 點(diǎn)擊圓盤(pán)▲/▼設(shè)置探(tàn)測距(jù)離,選擇範圍(wéi) 0.5~15.0 英寸(cùn)(1.3cm~38.1cm),0.5 英(yīng)寸以(yǐ)下,每點擊 1 次遞(dì)增 0.5 英寸(cùn);10 英(yīng)寸(cùn)以(yǐ)上(shàng),每點(diǎn)擊 1 次(cì)遞增 1 英(yīng)寸。

 點(diǎn)擊(jī)圓盤(pán)◄/►設(shè)置(zhì)放電模(mó)型,可以(yǐ)選(xuǎn)擇 CDM,MM,HBM,Raw Input

 設(shè)置完(wán)成(chéng)後,點(diǎn)擊圓盤(pán)中間(jiān)的8 返(fǎn)回(huí)待機(jī)界(jiè)麵(miàn)

4.2. 報(bào)警(jǐng)閾值設置

點(diǎn)擊弧(hú)形圓(yuán)點,進入設置界(jiè)麵(miàn)。(備(bèi)注:儀器(qì)內(nèi)存隻(zhī)記錄(lù)超(chāo)過閾(yù)值(zhí)的(dí)靜電放電(diàn)事件)

 點(diǎn)擊(jī)圓盤◄/►設置報警閾值,範圍 000~990V:

 0~10V 按(àn) 1V 增幅(fú)設置(zhì)

 10~990V 按(àn) 10V 增幅(fú)設(shè)置

 如(rú)果選擇了(liǎo)“Raw Input"測試(shì)模式(shì),可(kě)以選(xuǎn)擇(zé) 1~1500mV

 設置完(wán)成後,點(diǎn)擊圓(yuán)盤(pán)中間的(dí)8 返回(huí)待機界麵(miàn)



按(àn)以上(shàng)設置完成(chéng)後,即(jí)可(kě)開(kāi)始(shǐ)測試。測試時屏(píng)幕出現閃(shǎn)電(diàn)符號(hào),表示開啟(qǐ)了(liǎo)信號屏蔽功能(néng),儀器剔除了非ESD 放電信號,隻顯示靜電放(fàng)電(diàn)事(shì)件。點擊(jī)該(gāi)符號(hào)切換到全信號模(mó)式,這(zhè)時(shí)出(chū)現(xiàn)三角(jiǎo)形(xíng)符號(hào),表示儀器(qì)顯(xiǎn)

示(shì)所有探測(cè)到的(dí)信號(hào),包括(kuò) EMI 背(bèi)景(jǐng)噪(zào)音和(hé) ESD 放電(diàn)信號。

測試(shì)時,屏幕(mù)顯(xiǎn)示的電(diàn)壓值為(wéi)估算的放(fàng)電(diàn)電壓,數字(zì)為超過閾值(zhí)的(dí)放(fàng)電(diàn)次數。最高可(kě)以記錄 32767 次放電(diàn)次數。點(diǎn)擊 Power/C 鍵可(kě)以(yǐ)清零放電次數,重(zhòng)新(xīn)累計(jì)。

4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規範(fàn)進(jìn)行靜(jìng)電(diàn)放電(diàn)事件(jiàn)風(fēng)險評估流程(chéng)

備(bèi)注:

 首(shǒu)先(xiān)確定靜電敏(mǐn)感(gǎn)器件(jiàn)是否(fǒu)有導體部位接(jiē)觸(chù)或非(fēi)常(cháng)接(jiē)近(jìn)導電的物體(tǐ),例如金(jīn)屬(shǔ)-金屬(shǔ)接(jiē)觸(chù),如果沒有(yǒu),通常不會有(yǒu)靜電放電風險,無(wú)需進一步進行風(fēng)險(xiǎn)評估。

 空(kōng)載測(cè)試:在(zài)製(zhì)程中(zhōng)不要(yào)放入(rù)靜電(diàn)敏感(gǎn)器(qì)件,記錄下(xià)測(cè)到(dào)的靜電放電現象

 放入靜(jìng)電敏(mǐn)感器(qì)件後,如(rú)果沒有(yǒu)探測到(dào)更(gēng)多(duō)的放電現(xiàn)象,表(biǎo)示(shì)探測到的(dí)是幹(gān)擾信號/背景噪(zào)音(yīn),而非放入(rù)靜(jìng)電(diàn)敏感(gǎn)器件(jiàn)後造成的靜電(diàn)放(fàng)電(diàn),評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險

 如果探測到(dào)更多(duō)的放(fàng)電(diàn)現象(xiàng),根據測(cè)到的放電電壓值和器件的靜(jìng)電敏(mǐn)感閥值來評(píng)估(gū)風(fēng)險,如果放(fàng)電電壓值超過(guò)器件所列明的(dí)閥值,采(cǎi)取(qǔ)措(cuò)施消除(chú)危(wēi)險(xiǎn),例如采取接(jiē)地(dì),離子(zǐ)中(zhōng)和(hé)等方式采取(qǔ)消除風(fēng)險的措施(shī)後,再(zài)次進行評估

1 是否和靜電(diàn)敏感器(qì)件(jiàn)直(zhí)接(jiē)

接觸或距(jù)離非常(cháng)近(jìn)

評估(gū)結(jié)束-低(dī)風(fēng)險

2 進(jìn)行空載測試

3 把(bǎ)靜電(diàn)敏感(gǎn)器件放入(rù)後測試,對(duì)比(bǐ)測(cè)試(shì)結果

4 是否(fǒu)測到更多(duō)的靜電(diàn)放電事(shì)件(jiàn)?

5 評估結束(shù)-低風(fēng)險

否(fǒu)

否(fǒu)

6 評(píng)估風險(xiǎn)程(chéng)度(dù)

消除風險

按 2~5 步(bù)驟再次(cì)評估



5. 數據查(chá)看(kàn)和處理(lǐ)

5.1. 安裝(zhuāng) SD 卡

1)把(bǎ) SD 卡插(chā)入儀器(qì),注(zhù)意(yì)方向(xiàng),有字(zì)的(dí)麵朝(zhāo)上,有金屬(shǔ)觸腳(jiǎo)的(dí)在(zài)裏(lǐ)麵(miàn)。注意!一定(dìng)要(yào)在儀器關(guān)機(jī)的情況下拔插 SD 卡。

2)插(chā)好(hǎo)卡後(hòu),儀器(qì)開機(jī),儀器(qì)會(huì)對(duì)新(xīn)卡或(huò)空卡(qiǎ)進行(háng)初始(shǐ)化(huà)。然後進(jìn)入待機界麵,在屏(píng)幕右(yòu)中可(kě)以看(kàn)見(jiàn) SD卡圖(tú)標,表(biǎo)示成功(gōng)。如果不(bù)顯(xiǎn)示 SD 卡圖標或有紅叉(chā),表(biǎo)示(shì)該卡不(bù)兼容(róng)。

3)所有測(cè)試(shì)記(jì)錄(lù)會保存在 SD 卡上。注:隻有(yǒu)超過報(bào)警(jǐng)閾值的值才(cái)會(huì)被(bèi)記錄(lù)下來(lái)。

在待機界麵(miàn),點擊 SD 卡(qiǎ)符號(hào),進入查(chá)看界麵。點擊圓(yuán)盤的(dí)▲/▼和◄/►可以上(shàng)/下(xià)和左/右滾(gǔn)動查看。

5.2. 數據處理(lǐ)

向(xiàng)供應商獲(huò)取 EMEYE_Converter.zip 軟(ruǎn)件(jiàn),解壓(yā)後雙擊(jī) setup.exe 安(ān)裝,按(àn)指(zhǐ)示進(jìn)行(háng)安(ān)裝,最(zuì)後(hòu)點擊 Close完(wán)成。

把 SD 卡從(cóng)儀(yí)器(qì)中取出(chū),放(fàng)入配套的(dí)卡托,插到(dào)電腦的卡(qiǎ)槽上

1) 打開(kāi)安裝的 Em Eye File Converter Rev.5 軟(ruǎn)件(在桌麵(miàn)有快捷(jié)圖標(biāo))

2) 點(diǎn)擊(jī) File > Open Ctrl+O,選擇 SD 卡(qiǎ)上(shàng)的 ESD3M0003.esd 文件(jiàn)

3) 打開後可(kě)以看(kàn)見(jiàn)所有的測試記錄,每條表示一(yī)個時(shí)間(jiān)點的(dí)測試記(jì)錄。例如(rú)下圖(tú)第(dì)一行,表示 2016 年(nián) 8月(yuè) 29 日 22 點 39 分 17 秒的(dí)測(cè)試(shì)記(jì)錄,共有 7 個 ESD 事件發(fā)生(報(bào)警(jǐng)閾值(zhí)為 370V)

4) 點擊任一條測(cè)試(shì)記(jì)錄,然後點(diǎn)擊 File > Save 保(bǎo)存。例如下圖,保(bǎo)存(cún)在 C 盤下的“ESD 測(cè)試(shì)"文(wén)件(jiàn)夾(jiā)

5) 用 EXCEL 打開(kāi)該所保(bǎo)存的(dí)文件可以(yǐ)顯示(shì)詳細(xì)的測試數據(jù)

例如上圖,打開(kāi)所保存(cún)的 2016 年(nián) 8 月(yuè) 29 日(rì) 22 點 39 分 17 秒(miǎo)的(dí)測(cè)試記錄(lù),

可以看(kàn)見詳細的 7 個(gè) ESD 事件。

備(bèi)注:當(dāng) SD 卡滿後(hòu),把(bǎ) SD 卡(qiǎ)插入電腦(nǎo),然後(hòu)清(qīng)空該卡(qiǎ)即可。

重新把(bǎ)空卡插入儀器(qì)後(hòu),儀器會(huì)自(zì)動初(chū)始化。


6. 故(gù)障信(xìn)息(xī)

屏(píng)幕(mù)提示 解(jiě)決方法

ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.

未(wèi)裝上(shàng)探測(cè)模塊就(jiù)開(kāi)機。先關(guān)機,裝上探測(cè)模(mó)塊後(hòu)再(zài)開機使用。

ERROR:Card was removed. Data may be lost and card could be damaged.

Click here to close the window.

在開機(jī)狀(zhuàng)態下,拔(bá)出(chū)了(liǎo) SD 卡(qiǎ),可能(néng)會導致(zhì)數據丟失和(hé)SD 卡損壞。點(diǎn)擊關(guān)閉(bì)該提示(shì),關機後插回(huí) SD 卡。

WARNING:No memory card. You can add it at any time.

Click here to close the window.

儀器(qì)未(wèi)插(chā)入 SD 卡(qiǎ),可以(yǐ)在任(rèn)何時候(hòu)插入 SD 卡(qiǎ)。點擊(jī)關閉(bì)該(gāi)提示。

PREPARING CARD FOR RECORDING!!!

DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正(zhèng)在初始化 SD 卡(qiǎ),不(bù)要(yào)拔出 SD 卡(qiǎ)。

ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.

Click here to close the window.

SD 卡格(gé)式(shì)不(bù)兼容(róng),先在(zài)電(diàn)腦上(shàng)格式化成(chéng) FAT32 格式再使(shǐ)用。

ERROR!!! STACK OVERFLOWED.

Click here to turn device off.

出(chū)現嚴(yán)重故(gù)障(zhàng)。需要(yào)重(zhòng)置(zhì)儀器(qì),如果問題未解(jiě)決(jué),必(bì)需返(fǎn)回原廠(chǎng)維修。

備注:當儀器出現死屏或嚴重(zhòng)故(gù)障時(shí),用回形(xíng)針頂一下儀器(qì)底(dǐ)部(bù)的重(zhòng)置孔(kǒng),儀器恢復(fù)到出廠(chǎng)狀態(tài),通(tōng)常(cháng)能解決故障(zhàng)。

備注(zhù):儀器長(cháng)期(qī)閒(xián)置(zhì),電(diàn)池可(kě)能(néng)耗(hào)盡(jìn)電量(liáng)。這時(shí)插上電源適配(pèi)器,用回形針頂一下儀(yí)器底部的(dí)重(zhòng)置孔,電池重新(xīn)被(bèi)激(jī)活,儀(yí)器開始充(chōng)電。


7. 儀(yí)器(qì)校(xiào)準(zhǔn)

測試靜電放電電(diàn)壓(yā),測試(shì)方法(fǎ)是獲(huò)取(qǔ)放電信(xìn)號的強(qiáng)度(dù)然(rán)後采用專有算(suàn)法計(jì)算(suàn)出(chū)放電(diàn)電(diàn)壓值(zhí)。

原廠校準書僅(jǐn)顯(xiǎn)示儀(yí)器能否正確接(jiē)收(shōu)到(dào)放電信號(hào),校準方法(fǎ)是(shì)采(cǎi)用脈衝電源輸(shū)出 100mV,150mV,1.0V,1.5V 信(xìn)號(hào),然後驗(yàn)證儀器接收(shōu)到的(dí)信號(hào)強度(dBμV)是否準(zhǔn)確(què)。

疑問一:如(rú)何在第三方進行校準?

答(dá):不能在第三方(fāng)機構進(jìn)行(háng)校準,因為(wéi)原(yuán)廠對儀器的天(tiān)綫(xiàn)數(shù)據(jù)(電容,阻抗(kàng))等(děng)均無公開。第(dì)三(sān)方無法對(duì)儀器能否(fǒu)接收正確放電信號(hào)進行(háng)驗(yàn)證(zhèng)。即(jí)使(shǐ)第三(sān)方可以(yǐ)驗證儀器是否(fǒu)準(zhǔn)確(què)獲取(qǔ)放(fàng)電(diàn)信號(hào),後(hòu)續也無法(fǎ)根據(jù)

信(xìn)號強(qiáng)度(dù)計算出放電(diàn)電壓值(zhí),該算(suàn)法為(wéi)原廠(chǎng)專(zhuān)有(yǒu)算法,無(wú)公開(kāi)。

所以儀(yí)器(qì)必需(xū)返(fǎn)回(huí)原(yuán)廠(chǎng)進(jìn)行(háng)校準(zhǔn),亞(yà)洲用戶(hù)可以返回 DESCO 日(rì)本公司(sī)進行(háng)校準。

疑(yí)問二(èr):該(gāi)儀器(qì)測試(shì)放電(diàn)電(diàn)壓(yā),但(dàn)為什麼沒有(yǒu)測(cè)試精度參數?

答(dá):靜電(diàn)放電電壓和實際物(wù)體(tǐ)的(dí)電容有(yǒu)關,儀(yí)器無法(fǎ)事先(xiān)知道(dào)被測物體的電(diàn)容(róng),隻能(néng)采(cǎi)取一(yī)個經驗值(zhí)(根(gēn)據實(shí)驗取一(yī)個能(néng)兼顧大多(duō)數器件的(dí)經(jīng)驗值(zhí))來計算放(fàng)電(diàn)電壓。所以儀(yí)器的讀數(shù)是接近實際(jì)放電電(diàn)壓值,而

沒有一個定量(liáng)的(dí)測試(shì)精(jīng)度。

疑問三(sān):如(rú)何(hé)直觀地驗證(zhèng)儀(yí)器的測(cè)試準(zhǔn)確度?

答:下圖(tú)顯示了靜電模擬(nǐ)器(qì)的(dí)放電(diàn)過程,儀(yí)器實測讀(dú)數(shù)接近(jìn)放電電(diàn)壓。用戶可以(yǐ)用靜電放(fàng)電(diàn)槍做(zuò)這類驗證。



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