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產品(pǐn)特(tè)性(xìng)Product characteristics

堅融(róng)實業——專(zhuān)注工業測試行業十(shí)六年！

十(shí)六(liù)年(nián)致力於(yú)儀器設備(bèi)售(shòu)前(qián)演示(shì)實(shí)測，測(cè)試(shì)方案應用，技(jì)術(shù)使(shǐ)用(yòng)培訓及售後(hòu)維(wéi)修(xiū)服(fú)務。

堅融實業—— 一家(jiā)真正有技術支(zhī)持的(dí)儀器儀(yí)表設備(bèi)供(gōng)應商！

我(wǒ)們銷售的(dí)每(měi)一台儀(yí)器(qì)都附(fù)有(yǒu)製造廠商出(chū)具(jù)的合格證書(shū)及檢測(cè)計(jì)量報(bào)告。保證產(chǎn)品功(gōng)能(néng)完(wán)好，附件(jiàn)齊全，指標達(dá)到出廠(chǎng)標準(zhǔn)。公司同時設有(yǒu)維(wéi)修(xiū)部(bù)，每(měi)台(tái)儀器(qì)都提供三年或一(yī)年的(dí)保修，終(zhōng)身維(wéi)護(hù)，可免(miǎn)除您的後(hòu)顧之(zhī)憂。

愛(ài)斯佩(pèi)克ESPEC絕緣(yuán)電阻(zǔ)劣(liè)化(huà)離子(zǐ)遷移(yí)評估係(xì)統，愛斯佩克ESPEC絕緣(yuán)電阻劣化(huà)離子遷移AMI-U主要(yào)應用領(lǐng)域

電(diàn)子產(chǎn)品(pǐn)因結(jié)露(lòu)吸濕(shī)等(děng)因(yīn)素造成的絕緣不良現(xiàn)象(xiàng)日益突出，本係(xì)統搭配以(yǐ)高(gāo)溫(wēn)高(gāo)濕試(shì)驗箱(xiāng)聯(lián)動，高(gāo)精度連(lián)續監(jiān)測(cè)，高效簡便評估因(yīn)離子(zǐ)遷移(yí)現(xiàn)象(xiàng)引起(qǐ)的(dí)壽命及(jí)絕(jué)緣電(diàn)阻(zǔ)劣化(huà)等(děng)問(wèn)題。

●助焊(hàn)劑，印(yìn)刷電路(lù)板，光(guāng)刻膠，釺(qiān)料，樹(shù)脂，導電膠等(děng)有關印刷(shuā)電(diàn)路(lù)板(bǎn)，高密度(dù)封(fēng)裝(zhuāng)的(dí)材料(liào)

●BGA， CSP 等(děng)精細節距 IC 封(fēng)裝件

●有機(jī)半導(dǎo)體相(xiāng)關(guān)（有(yǒu)機(jī) EL)

●電(diàn)容，連接器(qì)等其(qí)他電子(zǐ)元器件(jiàn)及材料(liào)

●各種絕緣材(cái)料的吸(xī)濕性(xìng)特性(xìng)評估

愛斯佩克(kè)ESPEC絕緣電阻劣化離子遷移AMI-U主要特(tè)點

•高精準測量(liáng)

自主開發連(lián)續(xù)通(tōng)電掃描繼(jì)電器方式，配備國際(jì)標準(zhǔn)的測量(liáng)儀表(biǎo)，與環(huán)境試(shì)驗(yàn)箱聯動(dòng)，操(cāo)作更簡(jiǎn)便更安(ān)全(quán)。

•應(yīng)力(lì)電壓範(fàn)圍廣(guǎng)泛

標配(pèi) 100V 應(yīng)力(lì)電(diàn)壓（應(yīng)力電壓(yā)/測(cè)量(liáng)電壓），更(gēng)有(yǒu) 1000V， 2500V 高(gāo)電(diàn)壓(yā)可選。

•連(lián)續通電掃(sǎo)描方式(shì)

掃描動(dòng)作技術(shù)，切換(huàn)掃描(miáo)時(shí)不發(fā)生(shēng)無電壓(yā)狀態(tài)，測量電壓與偏置電壓均使用(yòng)同一(yī)電(diàn)壓(yā)源(yuán)控製(zhì)，可(kě)準確控製(zhì)電壓(yā)。

•漏電流檢測功(gōng)能

高(gāo)速準確捕捉(zhuō)離(lí)子(zǐ)遷(qiān)移(yí)現(xiàn)象發生(shēng)的細微變化(huà)，離(lí)子(zǐ)遷移實時監測。

•專用統(tǒng)計軟件

可實(shí)時(shí)編輯(jí)預覽監測實時獲(huò)得的(dí)數(shù)據(jù)。

•專(zhuān)用(yòng)連接試樣(yàng)夾具

選配可使(shǐ)連(lián)接(jiē)試樣及(jí)綫(xiàn)纜更方便，試驗(yàn)效率更(gēng)高。

麵(miàn)對電子產(chǎn)品越來越(yuè)小(xiǎo)型(xíng)輕量及(jí)高(gāo)密度封裝(zhuāng)，因(yīn)結(jié)露吸濕等因素造(zào)成(chéng)的(dí)絕緣不良(liáng)現象(xiàng)暨離子(zǐ)遷移現象日益(yì)突(tū)出,絕緣(yuán)電(diàn)阻劣化(離子遷移)評估(gū)係(xì)統(tǒng)配之(zhī)以高溫(wēn)

高(gāo)濕試(shì)驗箱(xiāng)聯動(dòng)，可高精度(dù)連(lián)續監測，高(gāo)效(xiào)簡便(biàn)評估(gū)因離(lí)子(zǐ)遷移現象(xiàng)引(yǐn)起的壽(shòu)命及(jí)絕緣電阻(zǔ)劣(liè)化相關問(wèn)題(tí)。 適用標準(zhǔn)： JPCA-ET04， IPC-TM-650_2.6.3F ，IPC-TM-650_2.6.3.1E， IPC-TM-650_2.6.3.4A ， IPC-TM-650_2.6.3.6。 

係統(tǒng)配置：

最大可接入路數：512 路(lù)（128 路，256 路(lù)，384 路，512 路可選配）。

試(shì)驗時間(jiān)：0000:00:00 ～ 9999:59:59h，可任(rèn)意設定。

測試電壓(yā)：5～1000VDC（可外接電(diàn)源至(zhì) 3000V，其他電(diàn)壓可定製）

測試電壓(yā)精(jīng)度(dù)： 5～20VDC（±3%）；21～1000VDC（±1%）

絕(jué)緣(yuán)電阻(zǔ)測試範圍：1╳10⁶ - 1╳10¹⁴ Ω

電阻(zǔ)測(cè)量精度(dù)：

測試(shì)電(diàn)壓為(wéi) 5V 時：1╳10⁶ - 1╳10¹⁰ Ω ≤±5%；1╳10¹⁰ - 1╳10¹¹ Ω ≤±10%

測試電壓為 50V 時：1╳10¹¹ - 1╳10¹² Ω ≤±15%

測(cè)試電(diàn)壓為(wéi) 500V 時：1╳10¹² - 1╳10¹³ Ω ≤±20%