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產品特(tè)性(xìng)Product characteristics

    中國(guó)電子行業儀器(qì)優(yōu)質供(gōng)應商——上海(hǎi)堅(jiān)融(róng)實業有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(yǒu)（上(shàng)海(hǎi)）測量儀器(qì)有(yǒu)限(xiàn)公司JETYOO INSTRUMENTS，我(wǒ)們的技(jì)術(shù)和銷(xiāo)售人員均(jūn)為本科(kē)以上學歷，且均有10年以上儀器行業工(gōng)作經驗，專(zhuān)業為(wéi)中國(guó)區用(yòng)戶(hù)提供儀(yí)器設備(bèi)，測試方(fāng)案，技(jì)術(shù)培訓和維修服務(wù)，為(wéi)上海華東地區(qū)一家以(yǐ)技術為導向(xiàng)的儀器代理經銷商(shāng)。

繞(rào)綫(xiàn)元件脈衝測(cè)試(shì)器(qì)chroma19301A主要特色：
高(gāo)低感量(liáng)測(cè)試應(yīng)用(yòng)(0.1uH~100uH)
10V~1000V脈衝(chōng)測試電壓,0.25V測(cè)量(liáng)解(jiě)析度
高速測(cè)量(liáng) 120mS(Pulse 1.0,標(biāo)準(zhǔn)充電(diàn)時(shí)間(jiān))
具(jù)備電感(gǎn)測量接觸檢(jiǎn)查功(gōng)能
具備電(diàn)感(gǎn)差(chà)異(yì)電壓補償功(gōng)能(néng)
脈衝(chōng)測(cè)試高(gāo)取(qǔ)樣率(200MHz),10bits
崩(bēng)潰(kuì)電(diàn)壓分析功能(néng)
低電壓(yā)量(liáng)測檔位,提(tí)高波(bō)形分析靈敏(mǐn)度(dù)(32V/64V/128V/256V/512V/1024V)
繁(fán)中(zhōng)/ 簡中 / 英文操(cāo)作(zuò)介麵(miàn)
USB波(bō)形儲存與畫(huà)麵擷取功(gōng)能
圖形化彩(cǎi)色顯示(shì)
標準(zhǔn)LAN,USB,RS232介麵

繞綫元(yuán)件脈衝測(cè)試器chroma19301A產品應(yīng)用(yòng)
高速(sù)自(zì)動化(huà)測試應用 
低感量電(diàn)感應用(yòng)於智慧(huì)型手機或平板電腦等3C產品，產品(pǐn)外(wài)觀(guān)尺(chǐ)寸趨(qū)向(xiàng)輕薄(báo)短小(xiǎo)設(shè)計(jì)，電(diàn)感於(yú)生產(chǎn)上(shàng)也采(cǎi)用全(quán)自動(dòng)化 測包(bāo)機(jī)進行(háng)生(shēng)產，其自(zì)動化(huà)機台產速相當(dāng)高，因(yīn)此(cǐ)產(chǎn)品生(shēng)產應用(yòng)需(xū)搭(dā)配高(gāo)速(sù)測(cè)量(liáng)設(shè)備(bèi)才(cái)能滿(mǎn)足生(shēng)產條(tiáo)件。為(wéi)了滿足高 速自(zì)動化(huà)測(cè)試應用(yòng)，Chroma 19301具有(yǒu)超高速測(cè)量功能及(jí)雙同軸綫四綫測(cè)量方(fāng)式降低配綫(xiàn)長(cháng)度(dù)之影響(xiǎng)，可(kě)直接(jiē)搭配(pèi)層(céng) 測(cè)自動(dòng)化機(jī)上(shàng)應用(yòng)，為客戶自動(dòng)化(huà)生產帶來更(gēng)大效(xiào)益。

SMD POWER CHOKE 測(cè)試治(zhì)具(jù) 
低感量Power Choke產品(pǐn)體(tǐ)積(jī)小，為(wéi)了使層間(jiān)短路測試(shì)操作上能更加便利(lì)，Chroma 開發(fā)之(zhī)SMD Power Choke四端 測試(shì)治具(jù)() ，可搭(dā)配(pèi)19301之(zhī)電感差(chà)異自(zì)動電壓補(bǔ)償功能特(tè)點(diǎn)應(yīng)用(yòng)，為產(chǎn)品開發(fā)或(huò)品(pǐn)保人員帶(dài)來更(gēng)為方便(biàn)進(jìn)行測(cè)試 提(tí)高測試效率。

結合(hé)了(liǎo) 高低感量測技(jì)術(shù)應用，擁有1000Vdc脈(mài)衝電壓(yā)與(yǔ) 200MHz高(gāo)速取樣率，可提(tí)供0.1uH~100uH 大範圍(wéi) 感量(liáng)產品測試滿(mǎn)足絕(jué)大(dà)部(bù)份功率電感測試需求(qiú)， 擁(yōng)有波(bō)形麵積(jī)比較(jiào)，波(bō)形(xíng)麵積(jī)差比較(jiào)，波形顫動 偵(zhēn)測(cè)(FLUTTER)及波(bō)形二(èr)階微分偵測(cè)(LAPLACIAN) 等判(pàn)定(dìng)方(fāng)法(fǎ)，可(kě)有效(xiào)檢測綫(xiàn)圈自體絕緣(yuán)不(bù)良(liáng)。

繞(rào)綫元件於生產檢(jiǎn)測包(bāo)含電(diàn)氣特(tè)性，電(diàn)氣安規 耐(nài)壓進行測試，而(ér)綫圈之自(zì)體(tǐ)絕緣(yuán)不良通常是 造成(chéng)綫圈於使用環境中(zhōng)發生層間(jiān)短路(lù)，出腳短(duǎn)路 之(zhī)根源。其形(xíng)成(chéng)原因(yīn)可(kě)能(néng)源於初始(shǐ)設(shè)計不(bù)良， molding加工製程不良，或絕(jué)緣(yuán)材(cái)料之劣化等(děng)所 引起，故(gù)加(jiā)入(rù)綫圈層間短路測試有(yǒu)其必要(yào)性。

Chroma 19301為(wéi)針對(duì)繞綫元(yuán)件測試需(xū)求(qiú)所(suǒ)設(shè)計(jì)， 利(lì)用一高(gāo)壓充電之(zhī)微(wēi)小電(diàn)容(測試能(néng)量低)與(yǔ)待(dài)測 綫圈形成RLC並(bìng)聯諧振(zhèn)，由(yóu)振(zhèn)蕩之衰(shuāi)減(jiǎn)波形，透 過(guò)高速(sù)且精密(mì)的取樣(yàng)處理分析技(jì)術，可檢驗出綫 圈(quān)自體(tǐ)之絕緣不良，提供(gōng)功(gōng)率電(diàn)感元(yuán)件進(jìn)行繞綫 品質(zhì)及磁芯之(zhī)耐(nài)壓測試(shì)，讓元件生(shēng)產廠商(shāng)及使用 者(zhě)能(néng)更有效(xiào)的為產品(pǐn)品(pǐn)質(zhì)把關。

Chroma 19301應(yīng)用於低(dī)感量(liáng)繞(rào)綫元(yuán)件(jiàn)測試，zui小 感(gǎn)量(liáng)可達(dá)0.1uH，針(zhēn)對低感量測試(shì)特性提(tí)供(gōng)四(sì)綫 式(shì)測(cè)量(liáng)，接(jiē)觸(chù)檢查功(gōng)能(néng)，電感(gǎn)檢(jiǎn)查(chá)與電壓(yā)補償功(gōng) 能，可避免因待測(cè)物(wù)感量(liáng)變化(huà)大(dà)或(huò)配綫等效(xiào)電感(gǎn) 而(ér)造成(chéng)測試電壓(yā)誤(wù)差大，為低感(gǎn)量繞綫(xiàn)元(yuán)件脈衝(chōng) 測(cè)試(shì)*利器(qì)。

Chroma 19301於(yú)自(zì)動化(huà)生產(chǎn)上(shàng)應用(yòng)，擁(yōng)有超高速(sù) 測(cè)量速度有效(xiào)縮短測試(shì)時間提(tí)升(shēng)生(shēng)產效率，且電 壓補償(cháng)功能(néng)改(gǎi)善(shàn)了自(zì)動化(huà)機台(tái)配綫等效電感(gǎn)之影(yǐng) 響。

全新(xīn)的(dí)人機操(cāo)作介麵，整(zhěng)合圖(tú)形(xíng)化彩(cǎi)色顯(xiǎn)示(shì)並(bìng)提 供(gōng)畫麵(miàn)擷(xié)取功能(néng)，透過(guò)前麵板(bǎn)USB儲存波形，不(bù) 僅(jǐn)適(shì)用於生產現場，更(gēng)可應用(yòng)於研(yán)發(fā)，品(pǐn)保單位 使用進行樣品分析比(bǐ)對，大(dà)幅提(tí)升(shēng)操(cāo)作(zuò)便(biàn)利性。

量(liáng)測(cè)技術(shù)
脈衝測試(shì)概論(lùn)與原理(lǐ)
所謂的『繞(rào)綫(xiàn)元件(jiàn)脈衝(chōng)測試(shì)』基本(běn)上(shàng)是(shì)以(yǐ)一『非破壞性』，高速(sù)，低(dī)能(néng)量之電壓脈衝(chōng)施加在(zài)待(dài)測(cè)物上，以一(yī)脈(mài)衝(chōng)電(diàn)壓(yā)加於並聯(lián)綫圈的(dí)振(zhèn)蕩電(diàn)容(róng)(Cs)上(shàng)，使(shǐ) 並(bìng)聯(lián)電容與(yǔ)綫圈產(chǎn)生LCR振蕩，觀察振蕩衰減情況來(lái)了(liǎo)解(jiě)綫圈內部狀態(tài)，包(bāo)含綫圈(quān)自體(tǐ)之絕緣，綫(xiàn)圈感(gǎn)量及(jí)並聯電(diàn)容量(Cw)等(děng)狀態(tài)(如圖(tú)1: 測試等效電路圖(tú) ) ，再(zài)藉由(yóu)分(fēn)析(xī)／比對待(dài)測物良品(pǐn)與不良(liáng)品之等效波形(xíng)以達(dá)到判定良(liáng)否之目的(dí)。繞(rào)綫元件脈(mài)衝測(cè)試主(zhǔ)要功能(néng)乃(nǎi)在早期(qī)發現(xiàn)繞(rào)綫元件(jiàn)中各種潛(qián)在之缺陷(xiàn)，例(lì) 如：繞綫(xiàn)層(céng)間短路，電(diàn)極(jí)焊接不良(liáng)，內部綫(xiàn)圈或磁(cí)芯絕緣(yuán)不良等。

Chroma Model 19301繞(rào)綫元件脈(mài)衝測(cè)試器(qì)-測試等效(xiào)電(diàn)路圖(tú)

波形判(pàn)定模(mó)式(shì) 
波形(xíng)麵積比較 (AREA SIZE) 
將樣(yàng)本(běn)和待測物彼此之(zhī)麵積(jī)大小進(jìn)行比(bǐ)對，麵(miàn) 積(jī)大(dà)小(xiǎo)與待(dài)測物綫(xiàn)圈絕緣有(yǒu)關(guān)，綫圈絕緣不(bù)良(liáng) 造成(chéng)波(bō)形(xíng)快速衰減。

波形(xíng)麵積(jī)差比(bǐ)較 (DIFFERENTIAL AREA) 
對(duì)任(rèn)意之(zhī)區域(yù)求出樣(yàng)本和(hé)待測物差(chà)異部分(fēn) 之(zhī)麵(miàn)積與判定條(tiáo)件進(jìn)行比對，與待測(cè)物感量變 化(huà)有關(guān)聯，感(gǎn)量差(chà)異造成後段綫圈(quān)自體(tǐ)震(zhèn)蕩頻 率(shuài)改(gǎi)變(biàn)使波(bō)形麵積差異(yì)。

波形顫動(dòng)偵測(cè) (FLUTTER DETECTION) 
以微(wēi)分演(yǎn)算求(qiú)出(chū)波形(xíng)上產(chǎn)生之總放電(diàn)量(liáng)在(zài)與(yǔ)樣本之波形總放電(diàn)量(liáng)做比對(duì)。 
放(fàng)電量二次微(wēi)分(fēn)偵測 (LAPLACIAN VALUE) 
以(yǐ)二階微(wēi)分演(yǎn)算(suàn)後，與樣本之(zhī)讀值(zhí)做(zuò)比對，可(kě) 有效檢測出因(yīn)電氣放電(diàn)或電極焊接不(bù)良引(yǐn)起(qǐ)波(bō) 形快(kuài)速(sù)變化(huà)現(xiàn)象(xiàng)。

Chroma Model 19301繞綫(xiàn)元(yuán)件脈衝(chōng)測(cè)試器-波形判定(dìng)模(mó)式(shì)

低感量脈衝測試(shì)技術
Chroma 19301 為(wéi)針對低(dī)感量繞綫元(yuán)件(jiàn)待測物(wù)而開發，zui小感量可從0.1uH~100uH產品進行(háng)層間(jiān)短(duǎn)路(lù)測試(shì)，低(dī)感(gǎn)量待(dài)測(cè)物有別於(yú)一(yī)般感量(liáng)產品測試應(yīng)用， 因待測(cè)物感量(liáng)較低(dī)相對於容易(yì)受到測試回(huí)路(lù)上(shàng)配綫等(děng)效電感之影(yǐng)響，使得(dé)測試(shì)電壓(yā)產生分(fēn)壓於(yú)配(pèi)綫上使(shǐ)待測(cè)物(wù)端電(diàn)壓會遠低於(yú)量(liáng)測(cè)時的設定(dìng)電(diàn)壓(yā)，另外(wài)如(rú) 低感量Power choke其工作電壓(yā)應用於較(jiào)低電壓，因(yīn)此(cǐ)其(qí)脈衝(chōng)測(cè)試電壓(yā)通(tōng)常會低於一(yī)般(bān)感量產(chǎn)品。

低電(diàn)壓檔(dàng)位 
低(dī)感量產品(pǐn)如智慧型(xíng)手(shǒu)機中的Power choke，其(qí)工(gōng)作電壓較低(dī)且體積(jī)較小，可(kě)測試(shì)電(diàn)壓相對(duì)較低(dī)，因(yīn)此用(yòng)於(yú)量(liáng)測(cè)低感(gǎn)量(liáng)之(zhī)脈(mài)衝測(cè)試(shì)設(shè)備需具(jù)備(bèi)較低電壓檔(dàng) 位(wèi)來進行(háng)波形(xíng)分析，Chroma 19301具(jù)有六個(gè)電壓檔位分別為(wéi)32V,64V,128V,256V,512V及(jí)1024V與zui低(dī)0.25V電(diàn)壓辨(biàn)識度(dù)，zui小測試電壓(yā)可(kě)從10V開(kāi)始(shǐ)進行測(cè) 試，可有(yǒu)效提高波(bō)形判(pàn)定辨識能力(lì)。

Chroma Model 19301繞(rào)綫元(yuán)件(jiàn)脈衝(chōng)測(cè)試(shì)器-低感(gǎn)量脈衝測試(shì)技術

四端測(cè)量 
一般兩(liǎng)綫式層間短(duǎn)路測試設備(bèi)因電(diàn)壓偵(zhēn)測(cè)在(zài)電(diàn)流回(huí)圈(quān)內部，在(zài) 低感量待測物，測得(dé)電(diàn)壓與實際待(dài)測物(wù)上(shàng)有很大(dà)差距(jù)，Chroma 19301采用雙(shuāng)同(tóng)軸(zhóu)綫(xiàn)四(sì)綫偵測方式，大幅(fú)提高電(diàn)壓(yā)精度(dù)，達到(dào)正確 測試效果(guǒ)。

崩(bēng)潰電(diàn)壓(yā)分析(xī) Breakdown Voltage ( B.D.V) 
Chroma 19301 具有崩(bēng)潰電(diàn)壓測試功(gōng)能(néng)，設定起始(shǐ)電(diàn)壓與結(jié)束(shù)電壓 及電(diàn)壓(yā)爬(pá)升率(shuài)，利用(yòng)電(diàn)壓爬升過(guò)程偵測波形麵(miàn)積比(Area)與二階微(wēi) 分(fēn)偵測(Laplacian)判(pàn)定(dìng)是否超(chāo)過設定值，測試(shì)出綫(xiàn)圈可(kě)承(chéng)受(shòu)電(diàn)壓(yā)強(qiáng) 度(dù)，藉(jiè)由(yóu)這(zhè)些(xiē)功(gōng)能(néng)，研(yán)究人(rén)員(yuán)可以對產品(pǐn)進(jìn)行(háng)分析與研(yán)究，針(zhēn)對 綫(xiàn)圈較弱的(dí)地方做改善。

接觸(chù)檢(jiǎn)查(chá)功能(néng) ( ) 
Chroma 19301 於測試前會(huì)進行接觸(chù)檢查(chá)，避免因為接(jiē)觸(chù)不良或(huò)開 路(lù)使得內部(bù)以zui大(dà)電壓輸出造成(chéng)治具端(duān)探針接(jiē)綫因高(gāo)壓而(ér)跳火(huǒ)， 導致待測物(wù)受到損(sǔn)壞(huài)。並可延長探針使用(yòng)壽(shòu)命。

Chroma Model 19301繞(rào)綫元件(jiàn)脈(mài)衝測試器(qì)

電壓(yā)補(bǔ)償(cháng)功能 ( ) 
一般(bān)如(rú)變(biàn)壓器(qì)等(děng)感量(liáng)較大(dà)的綫圈進(jìn)行測試時 ，配綫(xiàn)等(děng)效感(gǎn)量(liáng)相(xiāng)對較小(xiǎo)， 但(dàn)在低感(gǎn)量測試時(如0.2uH)， 配(pèi)綫等(děng)效(xiào)感量(liáng)大小會(huì)影(yǐng)響待測物上(shàng)之實(shí)際電壓，尤(yóu) 其在自動(dòng)化(huà)測試應用(yòng)時(shí)， 降(jiàng)低配綫影(yǐng)響是一(yī)重要(yào)設(shè)計(jì)考量。過高(gāo)的(dí)配綫(xiàn)阻抗會使(shǐ)低感量測試時電(diàn)壓(yā)分壓(yā)在測(cè)綫(xiàn)上(shàng)， 導致待測物上的電(diàn)壓低(dī)於設(shè)定值而無(wú) 法有效檢(jiǎn)出不(bù)良品。且電感(gǎn)產品感量規格zui高可達正負(fù)30%，因此於低(dī)感(gǎn)量測試應用(yòng)時，會因待(dài)測(cè)物感(gǎn)量變化(huà)而造(zào)成(chéng)實際(jì)端(duān)點(diǎn)上電(diàn)壓(yā)差異更加(jiā)明(míng)顯，導致 波形麵(miàn)積判(pàn)定失(shī)效或測試(shì)電壓(yā)未(wèi)達(dá)要(yào)求之電壓(yā)。Chroma 19301 具(jù)備(bèi)電(diàn)感(gǎn)差異電壓補償功能，改(gǎi)善(shàn)上(shàng)述(shù)問題(tí)及降低因感(gǎn)量(liáng)差異造成於(yú)端(duān)點上實際電壓的差 異(yì)，進(jìn)而降(jiàng)低(dī)誤(wù)判(pàn)的可能性(xìng)。

Chroma Model 19301繞(rào)綫元件(jiàn)脈(mài)衝測試器(qì)-電壓補(bǔ)償(cháng)功能()

高(gāo)低(dī)感量產品測(cè)試 
Chroma 19301 除了低(dī)感量產品測試技術外，也同時涵蓋到較(jiào)高感量(liáng)產品測(cè)試應用(yòng)，可從0.1uH ~ 100uH 。於(yú)測(cè)試初始進(jìn)行(háng)樣(yàng)品取(qǔ)樣時(shí)，透過(guò)內部電感量(liáng)偵 測(cè)功能得知待測物(wù)感量大小(xiǎo)，自動切換(huàn)到(dào)合適檔位(wèi)進行(háng)測試(shì)(切(qiē)換(huàn)點可設定)，使(shǐ)待測物在適(shì)當(dāng)波形下進(jìn)行比對測量，對使(shǐ)用(yòng)者(zhě)操(cāo)作來說是(shì)相(xiāng)當(dāng)便(biàn)利(lì)的(dí)一項 功(gōng)能。單(dān)一(yī)台層間(jiān)短路測試(shì)器即結(jié)合了高低感量產(chǎn)品(pǐn)測(cè)試應用(yòng)，客戶(hù)於生產綫上進(jìn)行(háng)產品更換時(shí)可省略設(shè)備(bèi)更(gēng)換時間，不僅(jǐn)縮(suō)短(duǎn)了產品換(huàn)綫工時同時也(yě)降 低工(gōng)廠設(shè)備(bèi)負(fù)擔，有(yǒu)助(zhù)於工廠端(duān)生產管理(lǐ)也替客戶節省設備資本支(zhī)出之成(chéng)本(běn)。

訂(dìng)貨(huò)信(xìn)息
Model    Description
19301A    繞(rào)綫元件(jiàn)脈(mài)衝測(cè)試器(qì)    
A193001    SMD Choke 測(cè)試治具    
A193002    1m測試綫(xiàn)+測(cè)試夾    
A193003    1m測(cè)試綫+截平頭    
A193004    1m測試綫(xiàn) BNC to BNC(含BNC公(gōng)頭(tóu)*2)