上一(yī)篇(piān):美(měi)國(guó)吉(jí)時利KEITHLEY2000萬用表測(cè)試(shì)軟(ruǎn)件程序
產品名(míng)稱:美國(guó)吉時利(lì)KEITHLEY6487皮安表測試(shì)軟(ruǎn)件程序
產(chǎn)品型號:
更新(xīn)時間:2025-06-09
產品(pǐn)簡介:
美(měi)國(guó)吉時利KEITHLEY6487皮(pí)安(ān)表測試(shì)軟(ruǎn)件程序功能(néng)介紹1.電流測量:可設(shè)置(zhì)輸出(chū)電壓,電流量程,電(diàn)流限製,零點(diǎn)校正,測量速(sù)度,采集(jí)間(jiān)隔,采(cǎi)集(jí)時長(cháng),數據(jù)實時顯示。2.電(diàn)阻測量:可(kě)設(shè)置(zhì)輸出(chū)電(diàn)壓,電阻(zǔ)量(liáng)程,電流限製(zhì),采集間隔(gé),采集時長,數(shù)據實(shí)時(shí)顯示(shì)。3.IV掃(sǎo)描(miáo):可設置(zhì)起(qǐ)始終止電壓,步(bù)進(階梯(tī)電壓),掃描(miáo)點間(jiān)隔(gé)時(shí)間(jiān),可(kě)循環(huán)多(duō)次掃描(miáo)。
專業儀器設(shè)備(bèi)和(hé)測(cè)試方案(àn)供應商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限(xiàn)公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上(shàng)海)測(cè)量(liáng)儀器有限公司(sī)JETYOO INSTRUMENTS,由前(qián)安捷(jié)倫(lún)Agilent【現 是德(dé)KEYSIGHT】產品(pǐn)技術支(zhī)持工(gōng)程師——堅(jiān) JET 和 吉(jí)時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn) 泰克Tektronix】忠實用(yòng)戶使用(yòng)工(gōng)程師(shī)——融 YOO於2012年共同(tóng)創立,誌在(zài)破(pò)舊立(lì)新(xīn)!*電子測量行業代理經(jīng)銷(xiāo)商(shāng)隻專(zhuān)業做(zuò)商(shāng)務銷售,不專業(yè)做售(shòu)前測(cè)試方案,不專(zhuān)業做售後使(shǐ)用培(péi)訓的空白。我(wǒ)們的技術銷售(shòu)工(gōng)程(chéng)師均為(wéi)本科以(yǐ)上(shàng)學(xué)歷,且(qiě)均(jūn)有10年(nián)以(yǐ)上(shàng)儀器行業工(gōng)作經驗(yàn),專業為中國(guó)區(qū)用戶提(tí)供美國吉時利(lì)KEITHLEY6487皮(pí)安表測(cè)試軟件程序(xù),為上(shàng)海(hǎi)華東地區(qū)一(yī)家以技(jì)術為(wéi)導向(xiàng)的儀器設(shè)備綜(zōng)合服務(wù)商(shāng)。
堅(jiān)融(róng)公(gōng)司(sī)潛心研究(jiū)十年(nián),KEITHLEY6487皮安表應用(yòng)領(lǐng)域(yù):
碳(tàn)納米(mǐ)管(guǎn)
半導(dǎo)體納(nà)米(mǐ)綫
碳納米管 FET
納米傳感(gǎn)器和陣(zhèn)列(liè)
單電子晶體管
分子(zǐ)電子(zǐ)
有機(jī)電子
基本運放電路(lù)
二極(jí)管(guǎn)和電(diàn)路
晶體(tǐ)管電路(lù)
雙(shuāng)極結型晶(jīng)體管設(shè)計
結型(xíng)場(cháng)效應(yīng)晶(jīng)體管設計
金(jīn)屬氧(yǎng)化(huà)物半導體(tǐ)場效(xiào)應晶體管設計
太陽(yáng)能(néng)電池(chí)和(hé) LED 設計(jì)
高電子遷(qiān)移率晶體(tǐ)管(guǎn)設計
復(fù)合半(bàn)導(dǎo)體器件設計(jì)
分析納米(mǐ)材(cái)料和實(shí)驗器(qì)件
碳(tàn)納(nà)米(mǐ)管的(dí)電測量(liáng)標準
測量碳納(nà)米(mǐ)管電氣(qì)特性
提(tí)高(gāo)納米電子(zǐ)和分(fēn)子(zǐ)電子器件(jiàn)的低電流(liú)測(cè)量(liáng)
在(zài)低(dī)功率(shuài)和低壓(yā)應(yīng)用中實現(xiàn)準確(què),可靠的電(diàn)阻測量
納米級器(qì)件和(hé)材(cái)料的(dí)電(diàn)氣測(cè)量
提高(gāo)超高電(diàn)阻和電(diàn)阻率(shuài)測量(liáng)的可重復性
一(yī)種微(wēi)分(fēn)電(diàn)導(dǎo)的改進(jìn)測(cè)量方(fāng)法(fǎ)
納(nà)米(mǐ)技術準(zhǔn)確電(diàn)氣測(cè)量(liáng)的技術(shù)
納米級材(cái)料的電(diàn)氣測(cè)量(liáng)
降(jiàng)低(dī)外(wài)部(bù)誤(wù)差(chà)源(yuán)影(yǐng)響的(dí)儀器(qì)技術
迎(yíng)接(jiē)65nm節點(diǎn)的測量挑戰
測量半(bàn)導(dǎo)體材(cái)料的高電阻率和霍(huò)爾電壓(yā)
用微微微安(ān)量(liáng)程(chéng)測量電(diàn)流
柵(zhà)極電(diàn)介質(zhì)電(diàn)容(róng)電壓(yā)特(tè)性(xìng)分析(xī)
評(píng)估氧(yǎng)化層(céng)的可靠(kào)性
用低噪聲(shēng)美國吉(jí)時(shí)利KEITHLEY4200-SCS進行超(chāo)低電(diàn)流測量
4探(tàn)針(zhēn)電阻率和霍(huò)爾(ěr)電壓(yā)測(cè)量
波束監測(cè)與放射(shè)監(jiān)測
絕(jué)緣(yuán)體,開(kāi)關(guān),繼電器(qì)和(hé)其(qí)他元(yuán)件的漏流(liú)測(cè)試
SEM波束(shù)電流測量
光電子器(qì)件測(cè)試與特征分析
光纖校準(zhǔn)
DCLF電路中的(dí)電路(lù)測(cè)試與分(fēn)析(xī)
傳感(gǎn)器(qì)特(tè)征分(fēn)析
半導(dǎo)體等(děng)器件(jiàn)的(dí)I-V測量
納(nà)米電(diàn)子器(qì)件特征分(fēn)析(xī)
教學實(shí)驗
測(cè)量二極管(guǎn)
晶體管
運放(fàng)
有源器件(jiàn)
新的半導(dǎo)體器(qì)件(jiàn)結構設計和(hé)試驗(yàn)低(dī)電(diàn)阻,低功耗半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)器
輸(shū)出極低電(diàn)流和測(cè)量(liáng)極低(dī)電(diàn)壓(yā)分析(xī)現代(dài)材(cái)料(liào),半導體和納米電(diàn)子元件(jiàn)的電阻
低阻測(cè)量(低至(zhì)10nΩ)分(fēn)析導通電阻(zǔ)參(cān)數,互連(lián)和(hé)低功率半導(dǎo)體。
用於*進CMOS技術的(dí)脈衝(chōng)可(kě)靠(kào)性測(cè)試(shì)
高K柵極(jí)電介質(zhì)電(diàn)荷(hé)俘獲行為的脈(mài)衝特性分析(xī)
用6綫(xiàn)歐(ōu)姆測量技(jì)術進(jìn)行更(gēng)高(gāo)準確度的電(diàn)阻(zǔ)測量(liáng)
序(xù):
皮(pí)安表隻能簡單(dān)測(cè)微(wēi)小電流值(zhí),而我們(mén)公司(sī)開發(fā)的皮安表測試軟件程(chéng)序,應(yīng)用(yòng)算法將測量的(dí)值換(huàn)算(suàn)成(chéng)您需要(yào)的數(shù)據和曲綫圖,您的皮安表配(pèi)上該(gāi)軟(ruǎn)件,僅需(xū)一(yī)套(tào)軟(ruǎn)件,相當於您增加了幾台儀器測(cè)試(shì)功(gōng)能。這皮(pí)安(ān)表+軟件(jiàn)廣(guǎng)泛(fàn)應用於全國(guó)幾十(shí)所高(gāo)校,研(yán)究所(suǒ),大大(dà)幫助和(hé)提(tí)升了教授們(mén)做科研(yán)實(shí)驗(yàn),寫(xiě)論(lùn)文報告。
中科院上海(hǎi)應(yīng)用物理(lǐ)研究(jiū)所,中(zhōng)科院(yuàn)大連物(wù)理化(huà)學研(yán)究(jiū)所,上(shàng)海科(kē)技大學,南方(fāng)科(kē)技(jì)大(dà)學(xué),北(běi)京大(dà)學,清華(huá)大學,北京(jīng)理工大學,北京(jīng)師範大學(xué),北京航(háng)空(kōng)航天大(dà)學,北京郵電大(dà)學(xué),華(huá)東師(shī)範大學,東(dōng)華(huá)大(dà)學,華(huá)東理工(gōng)大學,上海(hǎi)交通大(dà)學(xué),復旦大學(xué),上(shàng)海(hǎi)大學(xué),同(tóng)濟大學(xué),上(shàng)海理工大學,南開(kāi)大學,天津(jīn)大學(xué),河北(běi)工業(yè)大(dà)學,重慶(qìng)大(dà)學,西南(nán)大(dà)學,太(tài)原(yuán)理(lǐ)工(gōng)大(dà)學,內(nèi)蒙古大學(xué),大連(lián)理工(gōng)大(dà)學,東北(běi)大學,吉(jí)林(lín)大(dà)學(xué),東(dōng)北師範大學,哈爾(ěr)濱工業大學(xué),哈(hā)爾濱工(gōng)程大(dà)學(xué),南京大(dà)學(xué),蘇州大學(xué),江(jiāng)南大學,南京航空(kōng)航天大(dà)學(xué),東南(nán)大學,南(nán)京師(shī)範大(dà)學,南京理工(gōng)大(dà)學(xué),浙(zhè)江大(dà)學(xué),中國(guó)科學技術(shù)大(dà)學(xué),合肥工業(yè)大(dà)學,安徽大學,廈(shà)門(mén)大學,福州大學(xué),南昌大(dà)學(xué),山東大(dà)學(xué),中國海洋(yáng)大(dà)學,鄭州大學(xué),武漢大(dà)學(xué),武(wǔ)漢(hàn)理(lǐ)工(gōng)大學,華中師範(fàn)大學(xué),華中科技大學(xué),湖南大(dà)學(xué),中南大學,中山(shān)大學,華南(nán)理(lǐ)工(gōng)大學,華(huá)南師範(fàn)大學(xué),廣(guǎng)西大(dà)學(xué),桂林理工大學,桂林電子科技大學(xué),四(sì)川(chuān)大學,電子(zǐ)科技大(dà)學,西北大學,西北(běi)工(gōng)業大學(xué),西安電(diàn)子科(kē)技(jì)大(dà)學,西(xī)安交通大(dà)學(xué),蘭州大學都有(yǒu)在(zài)選用我(wǒ)們公司的皮安(ān)表(biǎo)測(cè)試軟件(jiàn)程(chéng)序係統(tǒng)。
美(měi)國(guó)吉時利KEITHLEY皮(pí)安表(biǎo)測(cè)試軟(ruǎn)件程序(xù)
1.軟件為中文界麵,操作(zuò)簡便
2.可設(shè)置零點(diǎn)校正。
3.可設置測(cè)量(liáng)量(liáng)程(chéng)(自(zì)動(dòng),20mA,2mA,200uA等)。
4.可調節(jié)測量速度(dù)(快速,中速(sù),慢速(sù))。
5.自(zì)定義(yì)采樣(yàng)間隔。
6.數(shù)據實(shí)時(shí)顯(xiǎn)示(shì)和(hé)保存,可(kě)由(yóu)Excel直接(jiē)打開(kāi),也(yě)可導入(rù)Origin中(zhōng)作進一步(bù)分析(xī)。
可(kě)根(gēn)據(jù)客戶要求(qiú)進行修(xiū)改(gǎi)定製(zhì)。
美(měi)國(guó)吉時(shí)利(lì)KEITHLEY6487皮安表測(cè)試軟件(jiàn)程序功能(néng)介(jiè)紹
1.電流測量:可設(shè)置輸出電(diàn)壓,電(diàn)流(liú)量(liáng)程,電(diàn)流限(xiàn)製,零點(diǎn)校(xiào)正,測(cè)量速度(dù),采(cǎi)集(jí)間隔(gé),采集(jí)時長,數據(jù)實(shí)時顯示。
2.電阻測(cè)量(liáng):可設(shè)置(zhì)輸出電(diàn)壓,電(diàn)阻量(liáng)程(chéng),電流(liú)限(xiàn)製(zhì),采(cǎi)集間隔(gé),采集時長,數據實時顯示。
3.IV掃(sǎo)描:可(kě)設(shè)置(zhì)起始(shǐ)終(zhōng)止(zhǐ)電壓,步進(階(jiē)梯電(diàn)壓),掃(sǎo)描點間(jiān)隔(gé)時間(jiān),可循環多(duō)次掃描(miáo)。
圖形實時(shí)顯(xiǎn)示,數據自動(dòng)保存,傻(shǎ)瓜(guā)式操(cāo)作(zuò),免(miǎn)安裝(zhuāng),解(jiě)壓縮後(hòu)即使(shǐ)用(yòng),支持(chí)WinXP,Win7,Win8,Win10。
數據直接記事本,Excel打(dǎ)開,也(yě)可(kě)導入(rù)Origin內進行分析。