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產品(pǐn)中(zhōng)心您(nín)當(dāng)前的位(wèi)置(zhì):首頁(yè) > 產(chǎn)品中心(xīn) > 體(tǐ)積電阻(zǔ),電(diàn)阻計(jì),記錄儀 > LCR電橋(qiáo)/阻抗分析(xī)儀(yí) > MICROTEST6630精密阻抗(kàng)分析(xī)儀

基(jī)礎信息(xī)Product information

產(chǎn)品(pǐn)名(míng)稱(chēng):MICROTEST6630精密阻抗(kàng)分析儀(yí)

產(chǎn)品型號:

更(gēng)新時(shí)間:2025-06-10

產(chǎn)品簡介:

專(zhuān)業為(wéi)祖國(guó)用(yòng)戶提(tí)供(gōng)MICROTEST6630精密(mì)阻抗分析儀(yí)LCR測(cè)試儀 儀器設(shè)備,測(cè)試方(fāng)案,技術培(péi)訓(xùn),維修服(fú)務,為(wéi)上(shàng)海(hǎi)華東(dōng)地區(qū)一(yī)家(jiā)以(yǐ)技術(shù)為(wéi)導向(xiàng)的(dí)儀器(qì)設備綜合服務商。

產(chǎn)品特(tè)性Product characteristics

      專業(yè)儀(yí)器(qì)設(shè)備與測(cè)試方案供(gōng)應商——上海(hǎi)堅融(róng)實業有(yǒu)限(xiàn)公(gōng)司(sī)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海(hǎi))測量(liáng)儀器(qì)有(yǒu)限(xiàn)公(gōng)司JETYOO INSTRUMENTS,為(wéi)原安(ān)捷倫Agilent技術工程師(shī)-堅JET和吉(jí)時利(lì)KEITHLEY應用工(gōng)程師-融(róng)YOO於2011年共(gòng)同創辦的以技(jì)術(shù)支持為特色的代理貿易(yì)公司,誌(zhì)在破舊(jiù)立新(xīn)!*進口儀器設備大多廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點,技(jì)術支持薄弱(ruò)或(huò)者沒有,而代(dài)理經銷商(shāng)也(yě)隻專業做商務銷(xiāo)售,不專(zhuān)業做售(shòu)前(qián)儀(yí)器設備選(xuǎn)型配置/測試(shì)方案係統搭建,不專業做售後操(cāo)作(zuò)使用(yòng)培訓/維修(xiū)校(xiào)準保養的(dí)空白(bái)。我(wǒ)們(mén)的技術(shù)銷售工程師均(jūn)為(wéi)本(běn)科以上學歷(lì),且均(jūn)有(yǒu)10年以上測試行業(yè)經驗,以(yǐ)我(wǒ)們(mén)*進*的經營理念(niàn),專(zhuān)業(yè)為(wéi)祖國用(yòng)戶提(tí)供(gōng)儀器設備(bèi),測(cè)試方案(àn),技術培訓,維修服務,為上海(hǎi)華東(dōng)地區(qū)一家(jiā)以技術(shù)為導向的儀器(qì)設備綜合(hé)服務(wù)商(shāng)。

 

MICROTEST6630精密阻(zǔ)抗分析儀LCR測試儀 10Hz~1/3/5/10/20/30MHz應(yīng)用(yòng)範(fàn)圍

被動(dòng)元件(jiàn) 電(diàn)容,電(diàn)感(gǎn),電(diàn)阻,變壓(yā)器(qì),陶瓷諧(xié)振器,石英晶體(tǐ)

半導體元(yuán)件  變(biàn)容二(èr)極(jí)體(tǐ)之 cv 特性分(fēn)析(xī),二極體(tǐ)

介電質(zhì)材料(liào)  塑(sù)膠,陶瓷(cí),印刷(shuā)電路板的(dí)電容(róng)率(shuài)和損(sǔn)耗(hào)正切評(píng)估(gū)導(dǎo)

其(qí)他元(yuán)件 電路板上(shàng)的(dí)元件阻(zǔ)抗(kàng)評估

 

6630 LCR 測試(shì)儀,提供 6 種頻率(shuài)選(xuǎn)項(10 Hz 至(zhì)1/3/5/10/20/30 MHz),可以(yǐ)進(jìn)行交(jiāo)流信號(hào)的(dí)LCR測(cè)試(shì),測(cè)試頻率(shuài)和(hé)測(cè)試(shì)級別(bié)可(kě)進行(háng)連續變化的階(jiē)段測(cè)量。可在不同測(cè)試,模式條件下(xià),進(jìn)行(háng)高(gāo)速地(dì)連續測試(shì)。提供輸出阻(zǔ)抗25Ω/100Ω可(kě)切換(huàn),ALC補償(cháng),多步測試;BIN 分類及比較器(qì)功能(néng)在(zài)自(zì)動元(yuán)件生(shēng)產時(shí)進(jìn)行(háng)良品與不(bù)良(liáng)品(pǐn)分(fēn)類。並支(zhī)援RS-232,GPIB,Handler,LAN,USB Host/Device 介(jiè)麵(miàn)。

6630 LCR 測(cè)試儀(yí)可(kě)搭配各式(shì)各樣(yàng)的測試治(zhì)具(jù)與(yǔ)配(pèi)件。介電常數測試治具(jù) FX-0000C7,儀器內(nèi)建公式(shì)直接算出(chū)材(cái)料介(jiè)電數值(zhí) εr',εr"。評估(gū) PCB 空板或陶(táo)瓷板等。使用液態(tài)介(jiè)電治具 FX-000C20,用來(lái)評估電化(huà)學材料特性分(fēn)析。使(shǐ)用導(dǎo)磁(cí)係數測(cè)試治具 FX-0000C8,儀器(qì)內建公式直(zhí)接(jiē)算各種(zhǒng)環(huán)形磁芯或(huò)鐵(tiě)氧(yǎng)體(tǐ)磁(cí)芯及(jí)電磁(cí)屏蔽塗層(céng)材(cái)料的導磁(cí)係數 μr',μr"。

 

信(xìn)號源(yuán)頻率範(fàn)圍(wéi):DC, 10Hz-1/3/5/10/20/30MHz

基(jī)本阻抗量測精度 ±0.05%

自(zì)動電平控製(zhì) (ALC) 功能(néng)

輸出(chū)阻(zǔ)抗 25Ω/100Ω 可(kě)切(qiē)換(huàn)

提供電(diàn)表模式,多步測(cè)試(shì)並(bìng)搭配多(duō)樣(yàng)治具,如:液(yè)態介電,介(jiè)電(diàn)常(cháng)數(shù)治(zhì)具和(hé)導磁(cí)係數量(liáng)測(cè)

超快量測(cè)速(sù)度(dù) < 3mS

開路 / 短(duǎn)路(lù) / 負(fù)載(zǎi)校正(zhèng)功能(néng)

電(diàn)表(biǎo)模(mó)式(shì)下(xià)多可顯示四(sì)個元(yuán)件(jiàn)參數 , 電感(gǎn)值(zhí)及(jí) DCR 值可同時(shí)顯示

可同(tóng)時(shí)量(liáng)測和顯(xiǎn)示(shì)自(zì)動(dòng)元(yuán)件分(fēn)類:比較器(qì)功(gōng)能及(jí) Handler 接(jiē)口BIN 分類功能

支援 RS-232,GPIB,Handler,LAN,USB Host/Device 等(děng)介麵

適(shì)用(yòng)於研(yán)發,製(zhì)程(chéng),實(shí)驗室(shì)等檢測領域(yù)

可加(jiā)購(gòu)電腦連綫軟(ruǎn)體(tǐ),全麵采集(jí)分析(xī)量測(cè)數據(jù)

   

 

800*400 7 吋(dòu)彩(cǎi)色(sè)螢幕(mù),可(kě)以同(tóng)時設(shè)定(dìng)即(jí)顯(xiǎn)示四種不(bù)同(tóng)的參數。

量測(cè)待(dài)測物之(zhī)前(qián),需(xū)要先做開路(lù),短路,高頻(bīn)負載(zài)校正,及定頻(bīn)負載校正(zhèng)。

用(yòng)於電感元(yuán)件(jiàn)特性的量測(cè),量測(cè)直流(liú)的(dí)電(diàn)阻(zǔ)特(tè)性(xìng)。一(yī)般用(yòng)來評估(gū)電感(gǎn)的(dí)參數值(zhí)為(wéi) Ls/Lp/Q/SRF/DCR。電感(gǎn)匝數與繞(rào)線材(cái)料會影(yǐng)響(xiǎng)DCR 值。

多步(bù)列(liè)表測(cè)試自動編(biān)成功能,多(duō) 15 組(zǔ) ( 可存 50 個編程(chéng) )。

輸(shū)出(chū)阻(zǔ)抗 25Ω/100Ω 可(kě)以切(qiē)換(huàn)。自(zì)動(dòng)電平(píng)控製(zhì) (ALC) 為工(gōng)程(chéng)師更精確(què)量測元(yuán)件(jiàn)。如積層陶(táo)瓷電容(MLCC),電(diàn)容值>1uF,需打(dǎ)開ALC 量(liáng)測, 因(yīn)為(wéi)電容(róng)值在(zài)量測時(shí)有可能會低於(yú)真實(shí)的電(diàn)容量(liáng)。一(yī)般(bān)評估電(diàn)容的參數值(zhí)有(yǒu) Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。

用介(jiè)電常(cháng)數(shù)測試治具 FX-0000C7,6630 內建公(gōng)式(shì)直(zhí)接算出材(cái)料介電數(shù)值(zhí) εr',εr"。評估 PCB 空板或(huò)陶(táo)瓷(cí)板等(děng)。

使用液態介電治(zhì)具 FX-000C20,用(yòng)來(lái)評估電(diàn)化學(xué)材料(liào)特(tè)性分析(xī)。

使(shǐ)用(yòng)導(dǎo)磁係數測試(shì)治具 FX-0000C8,6630 內(nèi)建公式直接算各種環(huán)形(xíng)磁芯(xīn)或鐵氧(yǎng)體磁(cí)芯及(jí)電磁屏蔽塗層材料的(dí)導磁係數(shù) μr',μr"。

連接 RS-232,LAN,GPIB 或(huò) Handler 搭載(zài)自(zì)動化(huà)高速(sù)量測 (測試速度<3mS),生產(chǎn)有(yǒu)效率。

 

   

MICROTEST6630精(jīng)密阻抗(kàng)分析儀(yí)規(guī)格參數(shù)指(zhǐ)標(biāo)

測(cè)試(shì)頻(pín)率

6630-1 10Hz ~ 1MHz

6630-3 10Hz ~ 3MHz

6630-5 10Hz ~ 5MHz

6630-10 10Hz ~ 10MHz

6630-20 10Hz ~ 20MHz

6630-30 10Hz ~ 30MHz

小分辨率 100mHz, 6位(wèi)元頻率輸(shū)入

準確度(dù) 7 ppm±100mHz

基本(běn)測量(liáng)準(zhǔn)確度(dù) ± 0.05% 

AC 測試信號為準(zhǔn),測(cè)試信(xìn)號電(diàn)壓(yā)範(fàn)圍 10mV - 2Vrms,電壓小分辨率 1mV

準確(què)度(dù) ALC ON:6% * 設定電壓(yā) ±2mV

ALC OFF:10% * 設(shè)定電(diàn)壓(yā) ±2mV

測試(shì)信(xìn)號(hào)電(diàn)流範圍(wéi) 200µA - 20mArms

電(diàn)流(liú)小(xiǎo)分(fēn)辨率 10µA

準確(què)度 ALC ON:6% * 設(shè)定電流(liú) ± 20µA

ALC OFF:10% * 設定電流(liú) ± 20µA

DC 測試(shì)信(xìn)號為準(zhǔn) 1V(固定)

測量時間< 3ms

輸出(chū)阻(zǔ)抗(kàng) 可(kě)切換(huàn)25Ω,100Ω (標稱值)

測試參(cān)數(shù) |Z|(阻抗),|Y|(導納),θ(相位(wèi)角),X(電抗(kàng)),R(串(chuàn)並(bìng)聯電(diàn)阻),G(電(diàn)導(dǎo)),B(電(diàn)納(nà)),L(電感),D(損耗(hào)因數),Q(品質(zhì)因數(shù)),DCR(直流(liú)電(diàn)阻) ,C(電容(róng)), Vdc-Idc(直流電(diàn)壓(yā)電流(liú)),ESR(等效串(chuàn)聯(lián)電(diàn)阻(zǔ)),ε (相對介電(diàn)係(xì)數(shù)),μr (相(xiāng)對導磁係數(shù))

測(cè)量模(mó)式 電表模(mó)式(shì),多步(bù)列表

等(děng)效電(diàn)路 串聯(lián),並聯(lián)

校(xiào)正(zhèng) 開(kāi)路(lù),短路,負(fù)載

多(duō)步(bù)列(liè)表測試(shì) 50組多(duō)步測試設(shè)定(dìng)(每(měi)組15個(gè)測(cè)試步(bù)驟)

BIN分類 9級(大)

比(bǐ)較(jiào)器 ABS,ΔABS,Δ%,OFF

內部儲存 100組(zǔ)LCR Meter測試設定文件 ,50組(zǔ)多步測試(shì)設定(dìng)

USB Host 儲存(cún) LCR Meter測試(shì)設(shè)定文(wén)件,多(duō)步測試(shì)設定(dìng)文件,BMP圖像(xiàng)

介(jiè)麵 RS-232,GPIB,Handler,LAN,USB Host/Device

電源(yuán)要(yào)求 電壓(yā)90V ~ 264Vac

頻率 47Hz ~ 63Hz

功耗(hào) 低(dī)功(gōng)耗:大(dà)30W (標稱(chēng)值(zhí))

液晶螢幕(mù) 7吋(dòu)TFT, 彩色顯(xiǎn)示(shì)(800*480)

操作(zuò)環境(jìng) 溫度(dù): 10℃ ~ 40℃, 濕度: ≦80%RH

外觀(guān)尺(chǐ)寸(cùn)(W*H*D) 336x147x340 mm

重(zhòng)量 3 kg

參(cān)數量測範圍 

|Z| 0.000 mΩ - 9999.99 MΩ

R, X ± 0.000 mΩ - 9999.99 MΩ

|Y| 0.00000 uS - 999.999 kS

G, B ± 0.00000 uS - 999.999 kS

θRAD ± 0.00000 - 3.14159

θDEG ± 0.000° - 180.000°

Cs, Cp ± 0.00000 pF - 9999.99 F

Ls, Lp ± 0.00 nH - 9999.99 kH

D 0.00000 - 9999.99

Q 0.00 - 9999.99

Δ ± 0.00% - 9999.99%

Rdc 0.00 mΩ - 99.9999 MΩ

εr' εr'' 0 - 100000

μr' μr'" 0 - 100000

 

 

配(pèi)件/治具

標準配件(jiàn)

電(diàn)源綫,使用手冊(cè),電子檔(dàng)光碟,高(gāo)頻(pín)DIP元(yuán)件(jiàn)測(cè)試治(zhì)具(FX-000C19)

選(xuǎn)購配(pèi)件(jiàn)

凱(kǎi)爾文測試夾綫含BNC Box(F423906A),DIP 元(yuán)件測試治具(F423503),延伸 DIP 元件測(cè)試(shì)盒(F423504),高(gāo)頻DIP元(yuán)件測試治具(FX-0000C6),SMD 測試治(zhì)具(F423905),高頻精密型(xíng)下壓式(shì)SMD測試(shì)治(zhì)具(jù)(FX-0000C10),高(gāo)頻精(jīng)密行鑷(niè)子(zǐ)式(shì)測試綫(xiàn)夾(FX-000C11),高(gāo)頻(pín)精密型(xíng)SMD測試治具(jù)(FX-000C12),介(jiè)電常數治(zhì)具(jù)(FX-0000C7),導磁係數治具(FX-0000C8),材料測試治(zhì)具(jù)(FX-0000C9),BNC液(yè)體(tǐ)介電測試治具(FX-000C20),BNC 測(cè)試延長綫(F663001 A/B/C),外(wài)部(bù)偏壓盒(hé)±200V (F420001),外部(bù)偏壓(yā)盒(hé)±40V(F420003)

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