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基礎信息Product information

產品名稱:致遠(yuǎn)電(diàn)子周(zhōu)立(lì)功(gōng)ZLG LAB7504邏輯分析儀(yí)

產品型(xíng)號(hào):

更新(xīn)時(shí)間:2025-06-10

產品簡介(jiè):

堅融(róng)實(shí)業——一(yī)家致力於為祖(zǔ)國用(yòng)戶提(tí)供(gōng)致(zhì)遠電(diàn)子周(zhōu)立(lì)功ZLG LAB7504邏輯分(fēn)析(xī)儀(yí),致遠電(diàn)子周(zhōu)立功(gōng)ZLG LAB6052邏輯(jí)分(fēn)析(xī)儀 LAB6022 LA2832A plus 致遠(yuǎn)電子周立(lì)功(gōng)ZLG LA2832A邏輯分析儀儀器設備,測(cè)試方案(àn),技術培(péi)訓,維修計量全(quán)麵(miàn)服務的儀器設備綜(zōng)合服(fú)務(wù)商(shāng)。

產品(pǐn)特性(xìng)Product characteristics

專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應商(shāng)——上海(hǎi)堅(jiān)融實(shí)業(yè)有(yǒu)限公(gōng)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上(shàng)海)測(cè)量儀器(qì)有限公(gōng)司JETYOO INSTRUMENTS,為(wéi)原(yuán)安捷(jié)倫(lún)Agilent【現(xiàn)是德(dé)KEYSIGHT】品牌(pái)技術經理(lǐ)-堅JET與(yǔ)吉(jí)時利KEITHLEY【現(xiàn)泰克(kè)Tektronix】品牌(pái)產品經(jīng)理-融(róng)YOO於2011年共同(tóng)創辦,專(zhuān)注(zhù)工業(yè)測(cè)試(shì)領(lǐng)域十(shí)六(liù)年(nián),誌在(zài)破舊(jiù)立新!*進(jìn)口(kǒu)儀器(qì)設備大(dà)多數廠家僅在國(guó)內(nèi)設銷售(shòu)點,但技(jì)術支持薄(báo)弱甚至(zhì)沒有(yǒu),而代理經銷商(shāng)也(yě)隻(zhī)做商(shāng)務(wù),不做(zuò)售前技(jì)術支(zhī)持/測(cè)試方案和售(shòu)後(hòu)使用培訓/維修校(xiào)準的空白(bái)。我們的技(jì)術(shù)型(xíng)銷售均為本(běn)科以(yǐ)上學歷,且均有10年以上(shàng)測(cè)試行業(yè)經驗(yàn),以(yǐ)我們*進(jìn)*的經營理念(niàn),與客戶(hù)互惠(huì)互利合(hé)作雙(shuāng)贏,重在協助用(yòng)戶(hù)采(cǎi)購與(yǔ)技(jì)術工(gōng)程師的工作,提供(gōng)較有(yǒu)競(jìng)爭力(lì)的供應(yīng)鏈管(guǎn)理(lǐ)與售(shòu)前售後(hòu)技術支持。堅融(róng)實(shí)業——一(yī)家致力於(yú)為祖(zǔ)國用戶提(tí)供(gōng)儀(yí)器設備,測試方案,技(jì)術培訓(xùn),維(wéi)修計(jì)量全麵服務(wù)的儀器(qì)設(shè)備(bèi)綜合服務商(shāng)。


產品型號 致(zhì)遠(yuǎn)電子(zǐ)周立(lì)功ZLG LAB7504邏輯分析儀,致遠ZLG LAB6052邏(luó)輯分析儀,LA2832A plus 致遠電子周立(lì)功(gōng)ZLG LA2832A邏(luó)輯(jí)分(fēn)析(xī)儀

存儲(chǔ)容量(bits) 2G, 1G, 1G, 512M

存(cún)儲(chǔ)深(shēn)度(dù)(bits/CH) 64M/128M(半通(tōng)道), 32M, 64M, 32M 

高(gāo)速定時(shí)采(cǎi)樣率 5GHz,-- ,-- ,--, --

分段(duàn)存儲(段(duàn)數) --, --,65536,32768

定時(shí)采樣(yàng)率 500MHz/1GHz(半通(tōng)道), 500MHz, 200MHz, 200MHz

狀態采(cǎi)樣(yàng)率 250MHz ,250MHz ,80MHz ,80MHz

頻(pín)寬 250MHz, 250MHz, 80MHz, 80MHz

輸(shū)入通道(dào) 34CH ,32CH ,32CH ,32CH

記錄模式 -- ,-- ,支持, 支持(chí)

通道(dào)復用 32CH/16CH, -- ,32CH

壓縮存(cún)儲 支(zhī)持, 支(zhī)持

頻(pín)率計(jì) 支持(chí)2路(lù) ,支持(chí)32路(lù)

邏(luó)輯(jí)筆 支持, 支(zhī)持(chí)32路

外部觸(chù)發(fā) 支(zhī)持(chí)觸發輸出(chū),輸入(rù), 支持(chí)觸發(fā)輸出(chū),輸入

輸入(rù)範(fàn)圍 -30V~+30V, -30V~+30V

探(tàn)頭參(cān)數 100KΩ/15pF ,1MΩ/15pF

門限(xiàn)電壓 -10~+10V, -6~+6V

供電電源(yuán) DC 12V@2A(內正外(wài)負) ,DC 5V@1A(內(nèi)正外負)

協議解(jiě)碼選型: 邏(luó)輯(jí)分(fēn)析(xī)儀協(xié)議類(lèi)型選(xuǎn)型總(zǒng)覽表



1. 如何(hé)選擇邏(luó)輯分析儀

邏輯(jí)分(fēn)析儀(yí)是一種類似於示波器的(dí)波形測試設(shè)備(bèi),它(tā)是用於(yú)監測硬(yìng)件(jiàn)電路工作(zuò)時的邏輯電(diàn)平,並加(jiā)以存(cún)儲, 用(yòng)圖(tú)形(xíng)的(dí)方(fāng)式直觀(guān)地表(biǎo)達(dá)出來,便於(yú)用戶(hù)檢測, 分析電路設(shè)計(硬(yìng)件(jiàn)設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計) 中(zhōng)的(dí)錯誤。 邏輯分析儀是設(shè)計特(tè)別是數(shù)字(zì)設(shè)計(jì)中(zhōng)*的設備(bèi),通過(guò)它(tā),

可以(yǐ)迅(xùn)速地定位錯誤(wù),解決問題,達到事半(bàn)功(gōng)倍(bèi)的效(xiào)果(guǒ)。

相對於示(shì)波器, 邏輯(jí)分析(xī)儀往(wǎng)往給人有(yǒu)以(yǐ)下的感(gǎn)覺(jué):

1. 操作(zuò)復(fù)雜(zá), 對(duì)使用(yòng)者(zhě)的要求(qiú)高;

2. 與(yǔ)示波器(qì)功能差(chà)不多;

3. 價(jià)格(gé)昂貴(guì)。

其(qí)實不然,邏(luó)輯(jí)分析(xī)儀(yí)在近的(dí)幾年中隨著數字電(diàn)路的廣(guǎng)泛使用發展(zhǎn)迅(xùn)速,已(yǐ)經成為很(hěn)多(duō)電子開發(fā)公司(sī)的(dí)必選設備之一(yī)。

邏輯(jí)分(fēn)析儀的(dí)重(zhòng)要指標(biāo)有輸入通(tōng)道數,定時(shí)采樣(yàng)率,狀(zhuàng)態(tài)采樣率,存儲容(róng)量(liáng),觸(chù)發方式,分析(xī)功能,其他功能等。表(biǎo) 1 為廣(guǎng)州致遠電子(zǐ)有限公(gōng)司(sī)出(chū)品(pǐn)邏輯分(fēn)析(xī)儀(yí)的主要(yào)選型參數(shù),也(yě)是邏(luó)輯分(fēn)析儀(yí)的重要選型指(zhǐ)標。


采樣(yàng)通道數

在需(xū)要邏(luó)輯分(fēn)析儀的(dí)地方(fāng),要對一個係(xì)統(tǒng)進行(háng)全麵地分(fēn)析(xī), 邏輯(jí)分析儀的通道數至少應(yīng)當足以(yǐ)把所(suǒ)有需要觀測的信(xìn)號全部引入邏輯分(fēn)析儀當中。

定(dìng)時采樣(yàng)率

在定時采樣分析時(shí),要有足(zú)夠的定(dìng)時(shí)分辨率,就(jiù)應(yīng)當(dāng)有足(zú)夠(gòu)高的定時(shí)分析采樣速(sù)率,但並(bìng)不是(shì)隻有高速(sù)係統才(cái)需要高(gāo)的(dí)采(cǎi)樣(yàng)速(sù)率(shuài)。如果(guǒ)采樣(yàng)頻(pín)率(shuài)高(gāo),則(zé)可(kě)以(yǐ)看(kàn)見更(gēng)加精(jīng)細的結(jié)果。

像(xiàng) LAB7504 邏輯分(fēn)析(xī)儀(yí)擁(yōng)有(yǒu) 5GHz 的(dí)定時采樣率(shuài),對(duì)信(xìn)號間的(dí)時(shí)間分(fēn)辨(biàn)率高達(dá) 200ps,*現代器(qì)件 ns 級(jí)的測量(liáng)。

狀(zhuàng)態采樣率(shuài)

在(zài)進行狀態分析(xī)時,邏輯(jí)分析(xī)儀采(cǎi)樣(yàng)時鐘(zhōng)使(shǐ)用外(wài)部(bù)輸入時(shí)鐘(zhōng),在外(wài)部時(shí)鐘的(dí)驅(qū)動下進行數(shù)據存儲(chǔ)。外部(bù)輸(shū)入時(shí)鐘的高頻(pín)率(shuài)決定了(liǎo)邏(luó)輯(jí)分析(xī)儀(yí)的高狀態(tài)采樣率。 LAB7000 和LAB6000 係列邏輯(jí)分(fēn)析(xī)儀除(chú)了擁有標準(zhǔn)的(dí)狀態采(cǎi)樣模式(shì)外,還擁有帶(dài)時間戳的(dí)狀(zhuàng)態采(cǎi)樣模(mó)

式。帶(dài)時間(jiān)戳(chuō)的狀態采樣模(mó)式(shì)讓(ràng)用戶(hù)不(bù)但可以觀察到不同的輸入(rù)狀態(tài),更(gēng)加可(kě)以(yǐ)測每個輸(shū)入(rù)狀態(tài)與外部(bù)同步(bù)時(shí)鐘之(zhī)間的關係。

存儲(chǔ)容量

存儲容量是指邏輯(jí)分(fēn)析儀能夠(gòu)連續保(bǎo)存采樣點(diǎn)的數量,直接(jiē)一點(diǎn)說,就(jiù)是邏輯分(fēn)析(xī)儀(yí)能夠測量多長(cháng)時間(jiān)的(dí)波形(xíng)。存儲(chǔ)容量越大能夠(gòu)觀察(chá)的(dí)時(shí)間(jiān)就(jiù)越長,但由於(yú)高(gāo)速(sù)存(cún)儲器的價格(gé)都(dū)比較高,所以存(cún)儲容量越(yuè)大相應的(dí)邏(luó)輯分析(xī)儀價(jià)格(gé)就(jiù)越(yuè)高(gāo)。 LAB7000, LAB6000, LA2000A

係列(liè)邏(luó)輯(jí)分(fēn)析儀*的 Timing-State 模(mó)式(shì)可以很好的自(zì)動平(píng)衡(héng)存儲(chǔ)容量(liáng),觀測(cè)時間和測量(liáng)精(jīng)度(dù)的(dí)三(sān)者(zhě)關係,運用(yòng) Timing-State 技術可(kě)以(yǐ)使邏(luó)輯(jí)分析(xī)儀(yí)在(zài)相(xiāng)同(tóng)的存(cún)儲(chǔ)容量(liáng)下同時具(jù)有很(hěn)高測量(liáng)精度和(hé)更長(cháng)的觀(guān)測時(shí)間。

觸(chù)發方式

相(xiāng)比(bǐ)示波器(qì),邏(luó)輯分(fēn)析(xī)儀提供了(liǎo)豐富的(dí)觸(chù)發模式。除去邊緣(yuán)觸發(fā)外(wài),邏輯分(fēn)析(xī)儀(yí)一(yī)般都(dū)具(jù)有(yǒu)針(zhēn)對總綫(xiàn)範圍(wéi),總綫間關係(xì),事件次(cì)數等觸發(fā)方式(shì)。 LAB7000, LAB6000, LA2000A係(xì)列邏(luó)輯(jí)分(fēn)析儀(yí)還可以對(duì)數(shù)據進行範圍, =,! =, >, <等(děng)比(bǐ)較。同(tóng)時, LAB7000, LAB6000,

LA2000A 係(xì)列(liè)邏輯(jí)分析儀(yí)提供(gōng)可視觸發,協(xié)議觸(chù)發,插件觸發,用戶自(zì)定義觸發,高(gāo)速(sù) SPI觸發等(děng)多種(zhǒng)觸發方式。

分(fēn)析功能

分析(xī)功(gōng)能是邏輯分析儀(yí)的(dí)大(dà)亮點(diǎn),也是邏輯分(fēn)析儀(yí)區別(bié)於其他(tā)儀器的(dí)重要(yào)指標。邏(luó)輯(jí)分(fēn)析(xī)儀(yí)對輸(shū)入(rù)信(xìn)號進(jìn)行(háng)時(shí)序和(hé)狀態的分析。廣(guǎng)州致(zhì)遠電子有(yǒu)限(xiàn)公司出(chū)品的邏(luó)輯(jí)分析(xī)儀(yí)可以更(gēng)進一步的(dí)提供(gōng)針(zhēn)對 I2C, SPI, UART, ModBus, 1-Wire 等總(zǒng)綫分析(xī)和(hé) SD 卡, CF 卡等(děng)高層(céng)

協議的分析(xī),針對處理器的反(fǎn)匯(huì)編(biān)分析等功能(néng)。

其(qí)他功能(néng)

廣州致遠電(diàn)子(zǐ)有(yǒu)限公司(sī)出(chū)品(pǐn)的(dí)邏輯分(fēn)析儀提(tí)出了數字電路(lù)測量平台(tái)的(dí)概念,在(zài)設計(jì)之(zhī)初就(jiù)融(róng)入了(liǎo)頻(pín)率計,邏(luó)輯筆,總綫分析儀,協(xié)議分析儀等(děng)功能,用戶在一個軟件(jiàn)界(jiè)麵上(shàng)實現同(tóng)時(shí)對多種測量的(dí)觀察,一機(jī)多用(yòng),省去(qù)用戶重(zhòng)復投資。廣(guǎng)州(zhōu)致遠(yuǎn)電子(zǐ)有限(xiàn)公(gōng)司


2. 解答邏輯分析儀(yí)使用過程(chéng)中的(dí)常(cháng)見問(wèn)題解(jiě)答

2.1 邏輯(jí)分析儀處於(yú)離(lí)綫狀(zhuàng)態

如(rú)果(guǒ)在硬件連(lián)接(jiē)及軟(ruǎn)件安裝都完(wán)成後, 將(jiāng)邏輯分(fēn)析儀的(dí)電源接好,並(bìng)用(yòng) USB 綫將(jiāng)分析(xī)儀和(hé)電(diàn)腦(nǎo)連接(jiē),此(cǐ)時如(rú)果邏輯分(fēn)析(xī)儀(yí)處(chǔ)於離綫狀態, 原(yuán)因可能(néng)有(yǒu)以下(xià)三(sān)種(zhǒng):

一是(shì)供電不(bù)足,電(diàn)源綫沒有接好(hǎo)或(huò)者是沒有打(dǎ)開(kāi)電(diàn)源按鈕(niǔ);

二是(shì)硬件連接問(wèn)題(tí), 請檢查(chá) USB 綫(xiàn)是否(fǒu)有問(wèn)題(tí)或(huò)者 USB 綫是否(fǒu)連接正(zhèng)常(cháng)。

三(sān)是 USB 驅動安裝有(yǒu)問(wèn)題(tí)。 在 我的電(diàn)腦(nǎo)→右(yòu)擊(jī)屬性→硬(yìng)件(jiàn)→設備(bèi)管(guǎn)理器,在通用串(chuàn)行

總綫(xiàn)控製(zhì)器列表(biǎo)中尋(xún)找 zlglogic 設備,如果沒有此(cǐ)設(shè)備則證明確實是(shì)以上所陳述(shù)的兩種原因。

如(rú)果發現有一個前麵打問(wèn)號(hào)的 zlglogic 設備,則(zé)說明肯定是驅(qū)動(dòng)沒有(yǒu)安裝(zhuāng)好(hǎo),此時的解(jiě)決方法是進行強(qiáng)製(zhì)驅動安裝(zhuāng),您可在我們(mén)的網(wǎng)站上下載(zǎi)強(qiáng)製(zhì)驅動安裝(zhuāng)文件(jiàn)並進行(háng)手(shǒu)動安裝(zhuāng)。

四(sì)還(huán)是供(gōng)電不足(zú)的(dí)問題(tí),如(rú)果在設備管理器(qì)裏(lǐ)查看(kàn)設備的時候可(kě)以(yǐ)看到這個設(shè)備(bèi),而且前麵沒(méi)有(yǒu)問(wèn)號(hào),那(nà)就(jiù)有可能是供(gōng)電(diàn)不(bù)足的問(wèn)題,此(cǐ)時插上(shàng)電源適配器(qì),看是(shì)否在(zài)綫。

五是軟(ruǎn)件被攔截(jié)。如果(guǒ)以上四個原(yuán)因都已經排除, 則(zé)有(yǒu)可(kě)能(néng)是(shì)殺毒軟(ruǎn)件或者防(fáng)火(huǒ)牆(qiáng)軟(ruǎn)件等高(gāo)安全(quán)係數將邏(luó)輯分(fēn)析儀(yí)的軟件攔截了。將此類軟件(jiàn)先禁(jīn)用,看(kàn)問題(tí)是(shì)否(fǒu)可以解決(jué)。

六, 台(tái)式(shì)機前(qián)麵(miàn)的 USB 口和後麵(miàn)的 USB 口(kǒu)的(dí)信(xìn)號(hào)完整性不同,如(rú)果(guǒ)問題(tí)無法解決就換(huàn)到(dào)後麵的 USB 口(kǒu)試(shì)試,因(yīn)為後麵的 USB 口(kǒu)是(shì)直接(jiē)從主板(bǎn)上引(yǐn)出(chū)來(lái)的(dí)。

2.2 采集(jí)不(bù)到數(shù)據或(huò)者采(cǎi)集到(dào)錯誤(wù)數(shù)據

若(ruò)邏輯分析(xī)儀已經(jīng)處於在綫(xiàn)狀(zhuàng)態(tài)情(qíng)況下(xià), 信號(hào)綫(xiàn)卻(què)沒(méi)有任(rèn)何(hé)反(fǎn)應(yīng),則(zé)首先應檢(jiǎn)查(chá)測(cè)量(liáng)綫是(shì)否已經連(lián)接(jiē)在(zài)有(yǒu)信(xìn)號的被測信(xìn)號(hào)上(shàng),如果(guǒ)確(què)定有輸入的信號,則應該(gāi)檢(jiǎn)查(chá)接(jiē)地(dì)是否良好,常(cháng)常會(huì)因為沒有接(jiē)地(dì)良好,後(hòu)導(dǎo)致信號(hào)無(wú)法正(zhèng)常(cháng)采集(jí)。 甚至有時(shí)候被采集(jí)係統已經斷電(diàn)了(liǎo),

但邏(luó)輯分析(xī)儀(yí)仍(réng)然采集到(dào)了(liǎo)數據(jù),這(zhè)也是因(yīn)為(wéi)地綫沒(méi)有接(jiē)好。所(suǒ)以(yǐ)信(xìn)號采集出現(xiàn)問題(tí)時應首先檢查(chá)地(dì)綫(xiàn)是否(fǒu)接(jiē)好(hǎo)。

2.3 邏輯分(fēn)析儀測量綫在懸(xuán)空時測得(dé)的數據

邏(luó)輯分析儀(除 LA5034)的測(cè)量(liáng)綫(xiàn)在(zài)懸空(kōng)(即不接任何負(fù)載)的情(qíng)況下(xià),測得(dé)的信(xìn)號(hào)將是高(gāo)電平。而(ér) LA5034 的(dí)測量(liáng)綫在懸空時。測得(dé)的信號(hào)電平的(dí)狀(zhuàng)態(tài)跟(gēn)門限(xiàn)電壓的設(shè)置相關,處(chǔ)於不(bù)定(dìng)態(tài)。

2.4 邏(luó)輯分析儀通道有電(diàn)壓(yā)輸(shū)出,會不(bù)會影響(xiǎng)設備(bèi)?

用萬用(yòng)表測(cè)量邏(luó)輯分析儀(yí)測量通道的(dí)輸出,有 2.6V 左右的電(diàn)壓,會不(bù)會(huì)對設備提(tí)供(gōng)上(shàng)拉並(bìng)造成影(yǐng)響?

問(wèn)題解(jiě)答(dá): 邏(luó)輯(jí)分析儀(yí)的測(cè)量通(tōng)道(dào)直接接到高(gāo)速(sù)比(bǐ)較器輸(shū)入(rù)端,有(yǒu)可能由於比較(jiào)器存(cún)在(zài)漏電流而產生(shēng)漏(lòu)電壓。

通過(guò)仔細測試(shì),結(jié)果(guǒ)如(rú)下: A, B 口(kǒu)對外的電壓是高(gāo)速比(bǐ)較器(qì)的(dí)漏電流產生的,有(yǒu) 5uA左右(yòu)的電流(liú),這(zhè)個漏(lòu)電流在業界已經(jīng)很(hěn)小, 經測量,邏輯分析(xī)儀正向(xiàng)輸入電阻為(wéi) 50M,反向輸入(rù)電阻為(wéi) 5M。隻要被(bèi)測對象(xiàng)的輸(shū)出內阻(zǔ)小(xiǎo)於(yú) 500K 就不(bù)會對被(bèi)測對象(xiàng)造成(chéng)任何(hé)影(yǐng)響(xiǎng)。

因為萬用表(biǎo)的輸入阻抗(kàng)大概(gài)有 10M 左右(yòu),所以能夠測(cè)量出電(diàn)壓。一(yī)般(bān)我們設備輸出(chū)電阻(zǔ)都(dū)是(shì)很小的,如一(yī)個(gè) 5V 的(dí) TTL 器件(jiàn),其(qí)輸(shū)出(chū)電流(liú)一般有 10mA~20mA 以(yǐ)上,輸出電(diàn)阻(zǔ)為(wéi)5V/10mA=500 歐(ōu)姆以下(xià),隻(zhī)要(yào)你的輸(shū)出(chū)電(diàn)流(liú)能(néng)夠大(dà)於 5uA 就(jiù)不會(huì)對你(nǐ)的設備造成影(yǐng)響,所廣州致遠電子(zǐ)有限公司(sī)


以(yǐ)對(duì)於(yú)一(yī)般的(dí)應用(yòng)不會(huì)造成(chéng)影(yǐng)響(xiǎng)的。

2.5 邏(luó)輯分析儀(yí)在使(shǐ)用 Timing_state 模式時不能(néng)將(jiāng) 32 根(gēn)測量綫全(quán)部接入(rù)

由(yóu)於在(zài)使用(yòng) Timing_state 模(mó)式時(shí),有(yǒu)一(yī)根(gēn)測(cè)量綫(xiàn)是用(yòng)來存儲壓(yā)縮(suō)數據的,所以在使(shǐ)用Timing_state 模式(shì)時(shí),多(duō)隻能(néng)使(shǐ)用(yòng) 31 根(gēn)測(cè)量綫(xiàn)。

2.6 軟件觸發(fā)對話(huà)框(kuàng)出(chū)現(xiàn)亂(luàn)碼(mǎ)

安裝完軟(ruǎn)件後在(zài)觸發設置(zhì)菜單裏麵出現(xiàn)亂碼,如(rú)下(xià)圖(tú)所(suǒ)示(shì)。

問題解(jiě)答(dá): 在(zài)觸發設(shè)置(zhì)窗口區域(yù)內點(diǎn)擊(jī)鼠標(biāo)右(yòu)鍵,選擇(zé)“編碼(mǎ)→簡體(tǐ)中文(wén)"選項(xiàng)即可(kě),如下圖(tú)所(suǒ)示。如果還不(bù)行(háng),可將“自動選擇" 選(xuǎn)項勾選(xuǎn)上,然後(hòu)再選擇“簡體(tǐ)中文",多(duō)試(shì)兩次(cì)一定能夠(gòu)解決問題(tí)。

2.7 邏(luó)輯(jí)分析儀(yí)能采樣(yàng)多(duō)長時間(jiān)

這個(gè)問題要(yào)分兩種情況(kuàng)來分(fēn)析,一種(zhǒng)是(shì)采(cǎi)用定時采樣(yàng)(timing),第(dì)二(èr)種是采(cǎi)用(yòng)動(dòng)態采(cǎi)樣(yàng)(timing-state)。

一,定(dìng)時采樣(timing)

定時(shí)采(cǎi)樣能采集的(dí)時(shí)間(jiān)長短(duǎn)與采樣頻率(shuài)和存儲深(shēn)度有(yǒu)關(guān),每一個(gè)存儲單元存儲(chǔ)對應的時間(jiān)為采集(jí)時(shí)鐘的周期。設(shè)采樣頻率(shuài)為 Fc,每通道存(cún)儲(chǔ)容(róng)量為(wéi) M,則邏輯分析儀(yí)能夠(gòu)持續的

采樣時間為:T = M × 1/Fc

舉(jǔ)例說明,使(shǐ)用(yòng) LA2532 邏(luó)輯分析儀,采(cǎi)樣(yàng)頻(pín)率為 100MHz,則采樣時間為(wéi):T = 1Mbits × 1/100MHz = 1048576 × 10ns ≈ 10.5ms

即(jí) 1Mbits 存儲深度 100MHz 采(cǎi)樣頻(pín)率(shuài)能(néng)采集 10ms 長度的信號(hào)。因此(cǐ)邏輯分析儀的型(xíng)號(hào)一(yī)但確(què)定,那麼采集(jí)時(shí)間(jiān)隻(zhī)與(yǔ)采(cǎi)集頻(pín)率有(yǒu)關。

二,動態采樣(yàng)(timing-state)

動態(tài)采(cǎi)樣(yàng)(timing-state)是 LAB7000, LAB6000, LA2000A 係(xì)列邏輯分析儀*的采樣模式。 當(dāng)邏輯分析儀(yí)的(dí)硬(yìng)件(jiàn)確(què)定(dìng)後,采(cǎi)樣時間隻(zhī)與(yǔ)被采(cǎi)集信(xìn)號的變(biàn)化(huà)率(shuài)有關(guān)。被采樣信號頻(pín)率越低,能(néng)采(cǎi)樣(yàng)的時(shí)間(jiān)就(jiù)越長(cháng)。

如果(guǒ)您(nín)想在(zài)不升級硬件的(dí)基礎上(shàng)增(zēng)大采(cǎi)樣時間,您(nín)可(kě)以通過適當降低定(dìng)時(shí)采樣(yàng)率或者(zhě)將(jiāng)采樣(yàng)設置(zhì)裏(lǐ)的 timing-state 選項(xiàng)勾選上(shàng),一(yī)般(bān)情況下都是可(kě)以大大增(zēng)加采(cǎi)樣(yàng)時(shí)間的,但這是(shì)跟被采樣(yàng)信號(hào)的變化(huà)率息息(xī)相關的(dí),被(bèi)采樣信(xìn)號變(biàn)化率越低,可以增(zēng)加(jiā)的采樣(yàng)時(shí)間就越(yuè)長。

但如果采取這些措施(shī)後(hòu)仍然無(wú)法(fǎ)滿足時(shí)間(jiān)需求,您就(jiù)隻能對(duì)硬件進行升(shēng)級了。 即購買更高型號的邏(luó)輯分(fēn)析儀,從而增(zēng)大每通道(dào)的(dí)存(cún)儲深度,從(cóng)根(gēn)本(běn)上解決(jué)采樣時(shí)間的問題。


2.8 關於(yú)狀態(tài)優先(xiān)和位(wèi)置優先(xiān)的理解

位置(zhì)優(yōu)先(xiān): 位置(zhì)優先(xiān)模式保證了觸發點一定會落(là)在用(yòng)戶(hù)的(dí)觸發(fā)位(wèi)置上(shàng)。如圖所示。

從(cóng)圖(tú)中(zhōng)可以(yǐ)看出,用戶(hù)設置(zhì)的觸發位置(zhì)為 xx%,當(dāng)啟動邏(luó)輯分(fēn)析儀采集(jí)時,數(shù)據(jù)會馬(mǎ)上被采(cǎi)集並(bìng)存入存儲(chǔ)器(qì)中,在數據末(mò)存(cún)滿到(dào)的(dí)觸(chù)發(fā)位置前,即使有(yǒu)出現(xiàn)符合(hé)觸發(fā)條(tiáo)件(jiàn)的觸發(fā)信(xìn)號,它也(yě)不會觸(chù)發的(dí),隻有當(dāng)數(shù)據存滿(mǎn)至用(yòng)戶設(shè)置的觸(chù)發位(wèi)置後,出現(xiàn)符(fú)合觸發條件

的信(xìn)號才(cái)會(huì)觸(chù)發。

狀態(tài)優(yōu)先(xiān): 狀態優(yōu)先(xiān)不(bù)能(néng)保證(zhèng)觸發點一(yī)定會落(là)在(zài)用(yòng)戶(hù)的觸發(fā)位置上。它符合(hé)觸(chù)發條件(jiàn)的觸發(fā)信(xìn)號的出現有(yǒu)關,如圖(tú)所示。

從(cóng)圖(tú)中(zhōng)可以看出(chū),然後(hòu)用戶(hù)設(shè)置的(dí)觸發(fā)位置為 xx%,但是實際的(dí)觸(chù)發(fā)位(wèi)置確(què)是在(zài)前麵,也即(jí)是(shì)隻(zhī)要有符合觸發條件(jiàn)的(dí)信(xìn)號(hào),它就會(huì)立即(jí)觸發,而不(bù)管(guǎn)是(shì)否(fǒu)到了用戶設(shè)置的觸(chù)發位(wèi)置(zhì)。

當(dāng)然狀態優(yōu)先(xiān)也有可(kě)能會(huì)存(cún)在觸(chù)發點(diǎn)剛好在觸發(fā)位置(zhì)上(shàng)的情況,當數據存(cún)滿到(dào)用(yòng)戶觸發(fā)位(wèi)置前沒出現符合觸發條件的(dí)信號(hào),那麼它(tā)的觸發點將(jiāng)會(huì)落(là)在(zài)觸發位置上(shàng),如(rú)下圖所示。

狀(zhuàng)態(tài)優先(xiān)的存在是(shì)為了避免(miǎn)錯過(guò)出(chū)現(xiàn)機(jī)率(shuài)較少的觸(chù)發(fā)條件,假(jiǎ)若(ruò)隻使用(yòng)位置優先(xiān),觸發條件隻(zhī)出現(xiàn)一次,且出(chū)現在數(shù)據(jù)存(cún)滿(mǎn)觸(chù)發位置(zhì)之前(qián),那麼(mó)該(gāi)觸(chù)發將(jiāng)捕抓不(bù)到,造成無(wú)觸(chù)發(fā)的錯誤分析(xī)。


上麵分析(xī)所(suǒ)講的存(cún)儲空(kōng)間,其(qí)地址和觸(chù)發位(wèi)置都是(shì)相(xiāng)對的(dí),並不是存儲(chǔ)器的(dí)物(wù)理(lǐ)地址,這點要(yào)注意(yì)。另外為了(liǎo)便於(yú)理解,你可以(yǐ)認(rèn)為當數據(jù)存(cún)到(dào)觸發位置(zhì)時,之後每(měi)存一(yī)個(gè)數據(jù),先(xiān)存(cún)的那個(gè)數(shù)據就丟掉(diào),這(zhè)樣觸發(fā)位(wèi)置就(jiù)一直保持在(zài)用(yòng)戶設置(zhì)的觸(chù)發(fā)位(wèi)置(zhì)點上,隻(zhī)需

等待符合觸發條(tiáo)件的(dí)信號到達就(jiù)可(kě)以(yǐ)繼(jì)續往前存(cún)儲(chǔ)了,直(zhí)到(dào)存(cún)滿存儲器。

2.9 關於邏輯分析儀觸發(fā)次(cì)數(shù)的理解(jiě)

邏輯分析儀采集(jí)數據直(zhí)到(dào)存儲(chǔ)器滿才能觸發一次,即觸(chù)發(fā)一(yī)次(cì)後(hòu),如果(guǒ)還有觸(chù)發信(xìn)號(hào)到來時,它(tā)並不會提示(shì)觸發,但會(huì)繼續記錄數據,直至此(cǐ)次采(cǎi)集數據(jù)完成。因此並(bìng)不是一(yī)有(yǒu)觸發信(xìn)號觸(chù)發(fā)次數就會增加。

2.10 UART 不(bù)能進行插(chā)件(jiàn)觸發

UART 的分(fēn)析,實(shí)質上是(shì)由(yóu)邏(luó)輯分(fēn)析儀(yí)對信(xìn)號(hào)進(jìn)行抽樣(yàng)分析(xī),分(fēn)析檢測(cè)原理(lǐ)和 UART接(jiē)收器一(yī)樣,需要 16 倍 UART 波(bō)特率以上的采樣(yàng)頻率(shuài)才能(néng)正確解析。因此要求(qiú)邏(luó)輯分析儀(yí)的采(cǎi)樣頻(pín)率至(zhì)少(shǎo)要(yào)是 UART 波特(tè)率(shuài)的(dí) 16 倍(bèi)以上才能正確(què)的(dí)進行(háng)插件(jiàn)分析(xī)和插件(jiàn)觸(chù)發。如(rú)采(cǎi)

115200bps 的(dí)信號(hào),則至少(shǎo)要(yào)用 2MHz 的采樣(yàng)頻(pín)率(shuài)。

2.11 以(yǐ) CSV 格式導出(chū)的文(wén)件中 Time 間(jiān)隔(gé)不(bù)一(yī)樣

在(zài)邏輯(jí)分析儀采(cǎi)集完(wán)數(shù)據後(hòu), 這些(xiē)數據往往需要(yào)被(bèi)導出(chū)並(bìng)進行二(èr)次利用。因(yīn)此(cǐ)我們(mén)的軟件具有數據導出(chū)功能(néng),可(kě)以(yǐ)以(yǐ) CSV 格式或(huò)者二進(jìn)製文件格式進行導出。

以CSV文(wén)件格式導出後(hòu)的結果如下圖所示(shì),其中Time的時(shí)間是狀態變(biàn)化(huà)的時(shí)刻(kè)的時間,隻要信號變化不(bù)大(dà),則(zé)時(shí)間(jiān)也不會改變,因此(cǐ)時間欄的時間不(bù)是等長的。

然而(ér), 保存(cún)成 Bin 格式(shì)文件(jiàn)時,它(tā)是按 Timing 格式保(bǎo)存,也即是(shì)不(bù)管(guǎn)壓不(bù)壓(yā)縮,都(dū)按32位(因為有32個通(tōng)道(dào))采(cǎi)樣點(diǎn)來(lái)保存,即兩數據(jù)間的(dí)時間是等長的(dí);如采樣頻率為(wéi)100MHz,則兩(liǎng)個數據之(zhī)間的(dí)間隔(gé)為(wéi) 10nS。

2.12 CAN 總(zǒng)綫測(cè)量方案(àn)

由(yóu)於我們的(dí)邏輯分析隻(zhī)能測量單端(duān)信號(hào),而(ér) CAN 總綫(xiàn)是差(chà)分信號,所(suǒ)以隻(zhī)能(néng)單獨測(cè)CAN 總(zǒng)綫的 CANH 或(huò)者 CANL,不(bù)能(néng)同時(shí)測量兩根信(xìn)號(若要(yào)同時測也(yě)有(yǒu)辦法(fǎ),見下述第(dì)三種測量方式(shì))。根據 CAN 的電(diàn)平(píng)屬(shǔ)性(CANH 平時為 2.5V,高時為(wéi) 4~5 伏, CANL 平(píng)時

為(wéi) 2.5V,低時為 0V),所(suǒ)以(yǐ) CAN 總綫(xiàn)有三種測量(liáng)方式。

一種測量方式,邏輯分(fēn)析(xī)儀的地綫(xiàn)接係(xì)統(tǒng)地,其中一(yī)通(tōng)道(dào)接(jiē) CANH,然(rán)後(hòu)設置邏輯(jí)分析(xī)的(dí)比較門限電平(píng)為 3V 左右就可以。

第(dì)二種測量方式,係統地沒引(yǐn)出來(lái),邏輯(jí)分析(xī)儀的(dí)地綫接 CANL,測(cè)量(liáng)通(tōng)道接(jiē) CANH,這種(zhǒng)方式要特(tè)別(bié)注(zhù)意(yì),由於 PC 地(即邏輯分析儀地(dì))與被測係統地是共(gòng)地的,所以需要做隔

離(lí),這個要(yào)特(tè)別(bié)注意,操(cāo)作方法(fǎ)如下(xià),需(xū)要用(yòng)筆記(jì)本電腦(nǎo)測(cè),而且電腦不(bù)能(néng)接(jiē)外置電源(yuán),以保證隔離效果。

第三種(zhǒng)測(cè)量方(fāng)式,同(tóng)時測(cè) CANL 和 CANH,邏輯分析儀的 PODA,和(hé) PODB 的比(bǐ)較電壓(yā)是可(kě)以(yǐ)單獨調(tiáo)的,這(zhè)時我(wǒ)們(mén)可以用 PODA 的測量(liáng)通(tōng)道接 CANH,並且設置 PODA 的比較(jiào)電平設(shè)為 3V 左右。用 PODB 的(dí)測量通(tōng)道(dào)接(jiē) CANL,並且設置(zhì) PODB 的(dí)比較(jiào)電平為 1.5V 左

右。這樣就可以(yǐ)同(tóng)時觀測兩(liǎng)個信(xìn)號(hào)。

2.13 邏輯分析(xī)儀保存(cún)的文件不能(néng)打開

以前用(yòng)邏輯(jí)分(fēn)析儀保存的文(wén)件(jiàn),現在(zài)打(dǎ)不開。

問題解答(dá): 以前的(dí)軟件(3.x 版本)和(hé)現在的軟件(4.x 版(bǎn)本)的架(jià)構(gòu)是(shì)不(bù)同的(dí),保(bǎo)存(cún)的(dí)文件格(gé)式(shì)是(shì)不兼容的(dí),所(suǒ)以會(huì)出(chū)現(xiàn)上(shàng)述問題(tí)。隻能用回(huí)舊(jiù)的軟(ruǎn)件(jiàn)來打(dǎ)開文(wén)件。

2.14 IIC 插(chā)件分析錯誤碼(mǎ)

IIC 插件分(fēn)析每(měi)次分(fēn)析結(jié)果(guǒ)都(dū)不一(yī)樣,而數據實際(jì)上(shàng)是一樣的,如下圖所(suǒ)示,兩個(gè)圖(tú)的IIC 數(shù)據目測(cè)都能(néng)看(kàn)得出(chū)來 IIC 地(dì)址都(dū)是 0x2A 是一(yī)樣(yàng)的(dí),而分析結(jié)果(guǒ)有(yǒu)時(shí)確(què)是錯誤(wù)的。

問(wèn)題解答: IIC插件分析是(shì)根據SCL信號(hào)跳(tiào)變(biàn)來(lái)判斷(duàn)的,如(rú)果(guǒ)分析的(dí)數(shù)據中出現(xiàn)有毛(máo)刺,極有(yǒu)可能會(huì)造(zào)成(chéng)協議(yì)分析(xī)錯(cuò)誤(wù)。這裏(lǐ)可(kě)將(jiāng)數(shù)據放(fàng)大,觀(guān)察(chá) SCL 信(xìn)號(hào)綫的邊沿附(fù)近是否有(yǒu)毛

刺。將上(shàng)麵協議(yì)分析錯(cuò)誤(wù)部分放大(dà),如下圖所示(shì),確實可(kě)以觀察(chá)到有毛(máo)刺存在,從(cóng)而導致(zhì)協(xié)議(yì)分析(xī)錯誤。

由於 IIC 總(zǒng)綫的(dí)時鐘頻率比較低(dī),因(yīn)此可以(yǐ)通過(guò)降低采(cǎi)樣(yàng)頻率來(lái)解決(jué)協(xié)議分(fēn)析錯誤(wù)的(dí)問題,或(huò)者打開軟(ruǎn)件濾波(bō)將毛(máo)刺過濾(lǜ)掉,使插件解碼(mǎ)正(zhèng)確(què)。

2.15 RS485 總(zǒng)綫測(cè)量方(fāng)案

使用(yòng)單端采樣方式進(jìn)行分(fēn)析;

分(fēn)析過程: RS-485 的協議(yì)和(hé) RS-232 是一樣的,隻(zhī)不過電(diàn)平特性(xìng)是差分(fēn)的(dí),因為我(wǒ)們的(dí)邏(luó)輯(jí)分析(xī)隻能測(cè)量(liáng)單端(duān)信(xìn)號,因此隻能單(dān)獨(dú)測(cè) RS-485 總綫的 A 端(duān)或 B 端。因為 RS485 協議(yì)規定當在接(jiē)收端(duān) A-B 之間有大(dà)於+200mV 的電(diàn)平時(shí),輸(shū)出為(wéi)正邏(luó)輯電(diàn)平(píng);小於(yú)-200mV 時,

輸(shū)出為負(fù)邏(luó)輯電(diàn)平。單(dān)端(duān)信號綫的協(xié)議(yì)和 UART 協(xié)議是(shì)一(yī)樣的(dí),因此可以對 A 端(duān)數據進行(háng)UART 分(fēn)析(xī),邏輯分析(xī)儀的地綫接設備(bèi)係統地。如(rú)果不知哪個(gè)是 A 端,可(kě)以先(xiān)用邏輯(jí)分(fēn)析進(jìn)行(háng)預(yù)采樣判斷, A, B 端都接(jiē)到邏(luó)輯分析儀,然(rán)後進行采樣,如下圖所(suǒ)示,空閒時(shí)為高(gāo)電(diàn)

毛(máo)刺(cì)平的綫(xiàn)的(dí)為(wéi) A 端。

通訊(xùn)參數的(dí)設置和(hé) UART 協議一樣。分(fēn)析的結果(guǒ)如(rú)下圖所(suǒ)示:

注意(yì)事項: 由於差分信(xìn)號(hào)根(gēn)據係(xì)統的不同及傳輸距(jù)離的(dí)的(dí)長(cháng)度不(bù)同(tóng),電壓(yā)幅(fú)值(zhí)範(fàn)圍不定(dìng)。

因此分(fēn)析(xī)之(zhī)前(qián)要(yào)調整(zhěng)好邏(luó)輯(jí)分析(xī)的比(bǐ)較電壓(yā),以(yǐ)確(què)保能夠(gòu)正確采(cǎi)樣到數(shù)據。如果有必要的話(huà)可(kě)以先用示波器(qì)測量 A 端的信號幅值(zhí)範圍,然後再確(què)定(dìng)一(yī)個中間比較值(zhí),如(rú)果沒(méi)有(yǒu)示波器的話(huà),可(kě)以用默(mò)認的 1.5V 比(bǐ)較(jiào)電(diàn)平進行采(cǎi)樣(yàng),然後(hòu)按(àn)照(zhào)已采集的(dí)數據進行(háng)協議(yì)分(fēn)析,如果

不(bù)正確的話則(zé)要重新(xīn)調整比較(jiào)電壓(yā),直(zhí)到(dào)正確(què)分析為止(zhǐ)。

如果(guǒ)能保證設備(bèi)的地和 PC 的地是(shì)隔(gé)離的,也可(kě)以用(yòng)邏輯分析儀的(dí)測(cè)試通道(dào)接 A 端(duān),邏(luó)輯分析儀的地(dì)綫接(jiē) B 端進行測量分(fēn)析(注(zhù)意:設(shè)備的(dí)地和(hé) PC 的地是(shì)一定要是隔(gé)離(lí)的才(cái)能(néng)這(zhè)麼(mó)接,否(fǒu)則可能(néng)會損壞(huài)設(shè)備)。

2.16 SPI, IIC, SSI 具有時鐘(zhōng)信號數據分析(xī)錯(cuò)誤(wù)問(wèn)題描述(shù): SPI, IIC, SSI 等(děng)具有 CLK 時鐘(zhōng)信(xìn)號的協議,在分析數(shù)據(jù)時。在(zài)不(bù)夠位(wèi)數的情(qíng)況下分析出數(shù)據,數據分(fēn)析(xī)混亂(luàn),出錯(cuò)。

問(wèn)題分析(xī): 出現此種情況(kuàng)一般(bān)是(shì)由於(yú) CLK 信(xìn)號(hào)出(chū)現毛刺造成的。 例如(rú),在此圖中 0xC 是 8bit 位的是(shì) 5 個(gè) CLK 信號就顯示出來, 其(qí)錯(cuò)位原(yuán)因(yīn)主(zhǔ)要是(shì)因為(wéi)在(zài)上(shàng)圖畫紅綫的地(dì)方出現了(liǎo)毛(máo)刺(cì)。放(fàng)大前(qián)兩個(gè)時鐘(zhōng)部分分別是:

解決(jué)辦(bàn)法:

1,在(zài)采集(jí)數(shù)據時(shí)開啟數據(jù)濾(lǜ)波(部(bù)分(fēn)邏輯分(fēn)析(xī)儀支(zhī)持(chí))

2,降低(dī)采樣(yàng)頻率(shuài)(此(cǐ)方法(fǎ)可以降(jiàng)低,但是(shì)還是(shì)有一定(dìng)的(dí)幾(jī)率)

3,微(wēi)調門(mén)限電壓(yā)



致遠(yuǎn)電子(zǐ)周立功ZLG LAB7504邏(luó)輯分(fēn)析(xī)儀(yí),LAB6052,LA2832Aplus,LA2832A何謂(wèi) " 邏輯分析(xī)儀 "邏(luó)輯(jí)分析儀(yí)是一(yī)種類似於示波器的波(bō)形分析(xī)設(shè)備,能夠連續(xù)不(bù)斷地(dì)采(cǎi)集電路(lù)的邏(luó)輯(jí)電(diàn)平(píng),並通(tōng)過存儲和波(bō)形顯(xiǎn)示直觀(guān)地呈(chéng)現(xiàn)信(xìn)號(hào)時序(xù)關(guān)係(xì),幫助(zhù)用戶快速調試電路中(zhōng)存在的通(tōng)信問題。

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