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產(chǎn)品特性Product characteristics

專業(yè)儀器(qì)設備與(yǔ)測試方案(àn)供應商(shāng)——上海堅融實業有限公(gōng)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測(cè)量(liáng)儀(yí)器(qì)有限公(gōng)司JETYOO INSTRUMENTS，為(wéi)原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術經(jīng)理(lǐ)-堅JET與吉(jí)時利(lì)KEITHLEY【現泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品(pǐn)經(jīng)理-融YOO共同創(chuàng)辦(bàn)，專注工(gōng)業測試(shì)領(lǐng)域(yù)十(shí)六(liù)年，誌在(zài)破(pò)舊立新！*進(jìn)口(kǒu)儀器設備大多數(shù)廠(chǎng)家(jiā)僅在國(guó)內(nèi)設銷售點，但技(jì)術(shù)支(zhī)持薄(báo)弱甚至沒有，而代(dài)理經(jīng)銷商(shāng)也隻做商務，不(bù)做售(shòu)前技(jì)術(shù)支(zhī)持(chí)/測試方(fāng)案(àn)和售後(hòu)使(shǐ)用培(péi)訓/維修校(xiào)準的空(kōng)白。我(wǒ)們的技(jì)術(shù)型(xíng)銷(xiāo)售均(jūn)為本(běn)科以上(shàng)學歷(lì)，且均有(yǒu)10年以(yǐ)上(shàng)測(cè)試(shì)行(háng)業經驗，與(yǔ)客(kè)戶互惠(huì)互利合作(zuò)雙(shuāng)贏，重在協(xié)助用(yòng)戶采(cǎi)購(gòu)與(yǔ)技(jì)術工(gōng)程(chéng)師的(dí)工(gōng)作(zuò)，提(tí)供較(jiào)有(yǒu)競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈(liàn)管(guǎn)理與售前售後(hòu)技(jì)術支持(chí)。堅融(róng)實業——一家致(zhì)力於為祖(zǔ)國用戶(hù)提供儀器(qì)設(shè)備(bèi)，測試方案(àn)，技術(shù)培訓(xùn)，維(wéi)修(xiū)計量(liáng)全(quán)麵服(fú)務(wù)的儀(yí)器(qì)設備綜(zōng)合服(fú)務商。

國(guó)產PRECISE S200替代吉(jí)時利(lì)KEITHLEY2400源表(biǎo)應用(yòng)領(lǐng)域

各(gè)種器(qì)件的(dí)I-V功(gōng)能測試和特征(zhēng)分(fēn)析，包(bāo)括：

離散和無源元件

–兩(liǎng)抽頭(tóu)器件——傳感器(qì)，磁(cí)盤驅動(dòng)器頭，金(jīn)屬(shǔ)氧化物可(kě)變電阻（MOV），二極(jí)管，齊納二極管，電(diàn)容，熱(rè)敏電(diàn)阻(zǔ)

–三(sān)抽(chōu)頭(tóu)器件——小信(xìn)號雙極(jí)結(jié)型晶(jīng)體管（BJT），場(cháng)效應(yīng)晶(jīng)體(tǐ)管（FET）等(děng)等(děng)

簡單(dān)IC器(qì)件(jiàn)——光學器件，驅(qū)動(dòng)器(qì)，開關，傳感器

集(jí)成(chéng)器件——小(xiǎo)規(guī)模(mó)集成(chéng)（SSI）和(hé)大規(guī)模(mó)集(jí)成（LSI）

–模擬(nǐ)IC

–射(shè)頻(pín)集(jí)成電(diàn)路（RFIC）

–專(zhuān)用集成(chéng)電路(lù)（ASIC）

–片上(shàng)係統(tǒng)（SoC）器(qì)件

光(guāng)電器件，例如(rú)發光二(èr)極管(guǎn)（LED），激光(guāng)二極管，高亮(liàng)度LED（HBLED），垂直腔麵(miàn)發射(shè)激光(guāng)器（VCSEL），顯示器(qì)

圓片(piàn)級可靠性(xìng)

- NBTI，TDDB，HCI，電(diàn)遷移(yí)

太陽(yáng)能(néng)電(diàn)池

電池

暫(zàn)態抑(yì)製(zhì)器件(jiàn)

IC，RFIC，MMIC

激(jī)光二(èr)極(jí)管，激光二(èr)極管模塊，LED，光電檢測器

電路保護器件(jiàn):

TVS，MOV，熔絲

安全(quán)氣(qì)囊(náng)

連(lián)接器(qì)，開(kāi)關，繼(jì)電器

碳(tàn)納(nà)米管(guǎn)

半導體納米(mǐ)綫

碳納(nà)米管(guǎn) FET

納(nà)米(mǐ)傳感器(qì)和陣(zhèn)列(liè)

單(dān)電子晶(jīng)體管

分子電(diàn)子

有(yǒu)機電(diàn)子(zǐ)

基本運放電路(lù)

二極管(guǎn)和(hé)電(diàn)路

晶體管(guǎn)電(diàn)路

測(cè)試：

漏流

低壓，電阻

LIV

IDDQ

I-V特征(zhēng)分(fēn)析(xī)

隔(gé)離(lí)與軌跡電(diàn)阻

溫度係(xì)數(shù)

正向電(diàn)壓，反(fǎn)向(xiàng)擊(jī)穿，漏(lòu)電(diàn)流

直流參數(shù)測(cè)試

直流(liú)電源(yuán)

HIPOT

介質耐受性

雙(shuāng)極結型晶體管(guǎn)設計(jì)

結(jié)型(xíng)場(cháng)效應晶(jīng)體(tǐ)管設計(jì)

金屬(shǔ)氧化物半導(dǎo)體場效應晶(jīng)體管設(shè)計(jì)

太陽能電池(chí)和 LED 設計

高(gāo)電(diàn)子(zǐ)遷(qiān)移(yí)率晶體管(guǎn)設計

復(fù)合半(bàn)導(dǎo)體器件(jiàn)設(shè)計(jì)

分析納米材(cái)料和(hé)實(shí)驗(yàn)器件

碳納(nà)米管的電測(cè)量(liáng)標(biāo)準

測(cè)量(liáng)碳(tàn)納(nà)米(mǐ)管電氣(qì)特(tè)性

提高(gāo)納(nà)米電子和分子電子器件(jiàn)的(dí)低電(diàn)流測量(liáng)

在(zài)低功率(shuài)和(hé)低壓應(yīng)用中實現準(zhǔn)確，可(kě)靠的電阻測量(liáng)

納(nà)米級器件和材(cái)料(liào)的電氣(qì)測量

提(tí)高超高電(diàn)阻和電阻(zǔ)率測(cè)量的可重復性

一種微(wēi)分電導的改進(jìn)測量方法

納米技術準確電氣測量(liáng)的(dí)技(jì)術

納米級材料(liào)的電氣測(cè)量

降低(dī)外部誤差源(yuán)影(yǐng)響的儀(yí)器技術

迎接65nm節點的(dí)測量(liáng)挑戰

測量半導體(tǐ)材(cái)料的(dí)高(gāo)電阻率(shuài)和(hé)霍爾(ěr)電(diàn)壓

用(yòng)微微(wēi)微(wēi)安量程測(cè)量(liáng)電(diàn)流(liú)

柵(zhà)極電(diàn)介質電(diàn)容電(diàn)壓(yā)特性分(fēn)析(xī)

評(píng)估(gū)氧化層的可靠(kào)性

半(bàn)導(dǎo)體器(qì)件結構(gòu)設計和試驗低電(diàn)阻(zǔ)，低(dī)功(gōng)耗(hào)半導(dǎo)體(tǐ)器

輸出極低電流(liú)和測量極(jí)低電壓分析現(xiàn)代(dài)材料(liào)，半(bàn)導體和(hé)納米電子(zǐ)元(yuán)件(jiàn)的(dí)電(diàn)阻(zǔ)

低(dī)阻(zǔ)測量(低(dī)至(zhì)10nΩ)分析導通電阻參數，互連和低(dī)功率半導體(tǐ)。

用(yòng)於CMOS技(jì)術(shù)的脈衝可靠性測試

高K柵(zhà)極電介(jiè)質電荷俘(fú)獲行為的(dí)脈衝特性分析(xī)

用(yòng)6綫歐(ōu)姆測量(liáng)技(jì)術進(jìn)行更(gēng)高(gāo)準(zhǔn)確度(dù)的電阻(zǔ)測量(liáng)

配置分(fēn)立電(diàn)阻器驗證(zhèng)測(cè)試(shì)係統

電信激(jī)光二極(jí)管模(mó)塊(kuài)的高吞吐(tǔ)率(shuài)直流(liú)生(shēng)產測(cè)試(shì)

多(duō)台(tái)數字源表的(dí)觸發器同(tóng)步

高(gāo)亮(liàng)度(dù)，可(kě)見(jiàn)光LED的生產(chǎn)測(cè)試(shì)

OLED顯示(shì)器(qì)的(dí)直流生(shēng)產(chǎn)測試

在運(yùn)行(háng)中(zhōng)第5次(cì)測(cè)量用於偏置(zhì)溫(wēn)度不穩(wěn)定(dìng)特性(xìng)分析

數(shù)字源(yuán)表(biǎo)的(dí)緩衝器(qì)以及(jí)如(rú)何用這(zhè)兩(liǎng)個(gè)緩衝器獲取多(duō)達5000點(diǎn)數(shù)據(jù)

連(lián)接(jiē)器(qì)的生產(chǎn)測試(shì)方(fāng)案(àn)

射頻(pín)功率晶體(tǐ)管的直(zhí)流(liú)電氣(qì)特性(xìng)分(fēn)析

VCSEL測(cè)試(shì)，光伏電(diàn)池(chí)的(dí)I-V特性，IDDQ測(cè)試(shì)和(hé)待(dài)機電流(liú)測(cè)試，產生(shēng)電流 (或(huò)電(diàn)壓) 脈衝，提(tí)升(shēng)多(duō)引腳(jiǎo)器件(jiàn)的生產(chǎn)量，創(chuàng)建可(kě)擴縮，多引腳，多(duō)功(gōng)能IC測(cè)試(shì)係(xì)統(tǒng)，激(jī)光二極(jí)管(guǎn)模塊(kuài)和(hé)VCSEL進行高(gāo)吞吐(tǔ)率(shuài)直流，二極管(guǎn)生產測(cè)試，高亮度，可(kě)見光LED，驗證(zhèng)變阻器(qì)，電池(chí)放電/充電周(zhōu)期，配(pèi)置電(diàn)阻網絡(luò)，大電流變(biàn)阻器(qì)，熱(rè)敏電(diàn)阻的生產測試

規(guī)格參數(shù)

電壓 源 測(cè)量

量程 分辨(biàn)率 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) 分辨(biàn)率(shuài) 準(zhǔn)確(què)度±(% rdg.+volts)

300mV 30uV 0.1%±300uV 30uV 0.1%±300uV

3V 300uV 0.1%±500uV 300uV 0.1%±500uV

30V 3mV 0.1%±3mV 3mV 0.1%±3mV

300V 30mV 0.1%±30mV 30mV 0.1%±30mV

電流 源 測(cè)量

量程(chéng) 分(fēn)辨率 準確(què)度±(% rdg.+A) 分(fēn)辨率(shuài) 準確度±(% rdg.+A)

100nA 10pA 0.1%±0.5nA 10pA 0.1%±0.5nA

1uA 100pA 0.1%±3nA 100pA 0.1%±3nA

10uA 1nA 0.1%±5nA 1nA 0.1%±5nA

100uA 10nA 0.1%±50nA 10nA 0.1%±50nA

1mA 100nA 0.1%±300nA 100nA 0.1%±300nA

10mA 1uA 0.1%±5uA 1uA 0.1%±5uA

100mA 10uA 0.1%±20uA 10uA 0.1%±20uA

1A 100uA 0.1%±2mA 100uA 0.1%±2mA

備注：

大輸(shū)出(chū)功率：30W，4象(xiàng)限(xiàn)源或肼模式；

源限(xiàn)度：電(diàn)壓源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程(chéng)）；

電流(liú)源(yuán)：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程(chéng)）；

過量(liáng)程：105%量(liáng)程(chéng)，源和測量；

穩(wěn)定(dìng)負(fù)載(zǎi)電容：<22nF；

寬帶噪(zào)聲(shēng)(20MHz)：2mV RMS（典型(xíng)值(zhí)），<20mV Vp-p（典(diǎn)型(xíng)值）；

綫纜保(bǎo)護電(diàn)壓：輸出阻(zǔ)抗1KΩ，輸(shū)出(chū)電(diàn)壓偏移(yí)<80uV；

大采(cǎi)樣(yàng)速率：1000S/s；

觸(chù)發(fā)：支(zhī)持(chí)IO觸(chù)發輸入及(jí)輸出(chū)，觸發極(jí)性可配(pèi)置(zhì) 。

選(xuǎn)型(xíng)指(zhǐ)南

型號 S100 S200 S300

源(yuán)精度(dù) 0.1% 0.1% 0.1%

測量精度(dù) 0.1% 0.1% 0.1%

大功率 30W 30W 30W

小(xiǎo)電(diàn)壓(yā)量程(chéng) 300mV 300mV 300mV

大電(diàn)壓(yā)量程(chéng) 30V 100V 300V

小電(diàn)流量程 100nA 100nA 100nA

大電流量(liáng)程(chéng) 1A 1A 1A

把(bǎ)簡單(dān)帶(dài)給用戶(hù)

源表(biǎo) = 高精(jīng)度雙極(jí)性可編程(chéng)電(diàn)源(yuán) + 高(gāo)精度(dù)雙(shuāng)極性可(kě)編(biān)程電子(zǐ)負(fù)載 + 數(shù)字萬用(yòng)表，可(kě)以簡化(huà)復雜(zá)的 IV 測量任(rèn)務，用於創建快(kuài)速，功(gōng)能*的電(diàn)子(zǐ)器件(jiàn)測試和測量(liáng)係統。

傳統的(dí)萬(wàn)用表-電源組合方(fāng)式需要編程實現(xiàn)設備控製及同步，這種組(zǔ)合(hé)的開發建立(lì)和(hé)維護都需要時間，而(ér)且(qiě)購買整體(tǐ)成(chéng)本高(gāo)。源表不需(xū)要(yào)這(zhè)種多(duō)台(tái)儀器(qì)相(xiāng)關(guān)復(fù)雜(zá)同步連(lián)接問題(tí)，簡化(huà)了(liǎo)測試本(běn)身(shēn)，提(tí)升了測(cè)試效率(shuài)。而且(qiě)源(yuán)及(jí)測量的準(zhǔn)確度為(wéi)0.1%，分(fēn)辨(biàn)率5數位(wèi)，測量結果比傳(chuán)統方(fāng)式更精確(què)。

源(yuán)表同時精(jīng)確(què)提供和測量(liáng)電壓和/或(huò)電流，減(jiǎn)少(shǎo)了(liǎo)測(cè)試時間。如果(guǒ)被測設備實際電壓值或(huò)者電流(liú)值達(dá)到(dào)了用戶設(shè)置(zhì)的(dí)限(xiàn)製值(zhí)，那(nà)麼(mó)電壓(yā)或(huò)者電流會被精確的限製住，避(bì)免了對(duì)被(bèi)測(cè)設(shè)備造(zào)成(chéng)損(sǔn)壞。

S係列源表讓(ràng)復(fù)雜(zá)測(cè)量變(biàn)得簡單

在進行(háng) IV 測(cè)量時(shí)，如果使用常規儀器比如電壓(yā)/電(diàn)流源，開關和萬(wàn)用表，那麼測量(liáng)過(guò)程(chéng)將(jiāng)會(huì)非常(cháng)復(fù)雜和耗(hào)時(shí)。用(yòng)戶必須精(jīng)通測量方法(fǎ)和(hé)儀(yí)器(qì)方麵(miàn)的(dí)技術知識，才能(néng)實(shí)現(xiàn)精準的(dí)測量。

S係(xì)列源(yuán)表支(zhī)持四(sì)象(xiàng)限工(gōng)作，既能(néng)擔(dān)當精密性電壓(yā)/電(diàn)流源（源(yuán)模式），又能充當(dāng)電氣負(fù)載(zǎi)被動吸收(shōu)流入(rù)的電流（肼模式(shì)），而(ér)且支持(chí)豐(fēng)富的(dí)掃描(miáo)模式(shì)（綫(xiàn)性掃(sǎo)描，指數掃描及(jí)用(yòng)戶自定(dìng)義掃(sǎo)描），能(néng)夠(gòu)執行(háng)從(cóng)直流到(dào)低頻交流的各(gè)種測(cè)量，而無需(xū)更(gēng)改連接(jiē)或(huò)使用其(qí)他設(shè)備(bèi)。

S係列源表讓復雜(zá)測(cè)量變(biàn)得高(gāo)效

源(yuán)表的輸(shū)出電壓(yā)（±300V），電流範(fàn)圍(wéi)遠(yuǎn)大(dà)於常(cháng)規電源，測(cè)試(shì)不(bù)同(tóng)功率(shuài)大(dà)小的待測器件（DUT）基本不用(yòng)更換(huàn)設備(bèi)，其次(cì)源表在(zài)小(xiǎo)電(diàn)流測試(shì)時(shí)也具(jù)有很高(gāo)的(dí)精度，暗電(diàn)流(liú)測試準(zhǔn)確，而(ér)高精(jīng)度(dù)的電(diàn)流(liú)測(cè)試萬用(yòng)表價(jià)格也是(shì)比較高(gāo)的，再(zài)次(cì)多台源表間(jiān)可以互(hù)聯觸發(fā)，支持(chí)自(zì)動序列測試，測試速(sù)度(dù)快(kuài)。

S係列源(yuán)表內(nèi)置有掃(sǎo)描(miáo)功(gōng)能(néng)，支(zhī)持(chí)豐富的掃(sǎo)描(miáo)模(mó)式，用戶從(cóng)儀器前麵(miàn)板上便可快(kuài)速進行掃描(miáo)測量(liáng)並顯示掃描結果。綜合的(dí)掃描測量功(gōng)能可(kě)以(yǐ)顯著提高效(xiào)率並(bìng)縮(suō)短測量設置時(shí)間。

S係列源表還內(nèi)置(zhì)*的功(gōng)能軟件，如LIV，PIV，加速用(yòng)戶完成測試。

4 綫(xiàn)測量功(gōng)能可實(shí)現(xiàn)精(jīng)確(què)的(dí)低電(diàn)阻測(cè)量

當測(cè)量小電阻(zǔ)時，引(yǐn)綫自身(shēn)的(dí)電(diàn)阻會造(zào)成(chéng)嚴重的(dí)測量誤差(chà)。為(wéi)解決這一問(wèn)題，S係列(liè)支(zhī)持(chí) 4 綫（也稱為開(kāi)爾文(wén)法）測量(liáng)功能(néng)。在 4 綫方案(àn)中，兩(liǎng)個連(lián)接器輸入(rù)電流(liú)，另(lìng)外(wài)兩個連接器(qì)測量電(diàn)壓(yā)。在(zài)這(zhè)種配置下，迫(pò)使測試(shì)電(diàn)流（I）經過一套(tào)測試引綫流(liú)過被測(cè)電阻(zǔ)（R）；而待測器件（DUT）兩端電(diàn)壓(yā)則(zé)是(shì)通(tōng)過(guò)稱為檢測(cè)引綫的第(dì)二(èr)套引綫來測量的。電壓檢(jiǎn)測(cè)端為高(gāo)阻輸入，檢測引(yǐn)綫(xiàn)中(zhōng)電(diàn)流(liú)一般(bān)為p*，同時(shí)由(yóu)於(yú)導綫(xiàn)電阻(zǔ)很小(xiǎo)，引綫(xiàn)上的(dí)壓(yā)降可以忽略(lüè)不(bù)計(jì)，因此(cǐ)采(cǎi)用四綫模式可以精(jīng)確的(dí)測(cè)量被測(cè)器(qì)件(jiàn)上(shàng)的(dí)實際電(diàn)壓(yā)。

創(chuàng)新(xīn)的(dí) GUI 和 5寸(cùn)觸摸顯示屏方(fāng)便(biàn)用(yòng)戶(hù)使用台(tái)式(shì)儀(yí)器(qì)執行測試，調(tiáo)試和表(biǎo)征(zhēng)

S係(xì)列(liè)的前麵(miàn)板具有(yǒu)多(duō)種功能特(tè)性(xìng)，可以快速簡便(biàn)地進(jìn)行交互式操作。這些特性(xìng)包括5寸(cùn)800*480觸摸(mō)顯示屏(píng)，USB存儲器I/O 端(duān)口(kǒu)，快捷鍵(jiàn)和旋鈕(niǔ)。觸(chù)摸(mō)屏支持全圖形化操作(zuò)，使用(yòng)戶可以快(kuài)速(sù)進行測(cè)試設置(zhì)和(hé)檢查測(cè)試(shì)結(jié)果(guǒ)。USB存(cún)儲器端(duān)口使數據(jù)存儲和(hé)轉移變得十(shí)分方(fāng)便(biàn)。創(chuàng)新的圖形用(yòng)戶(hù)界麵極大(dà)改(gǎi)善(shàn)了(liǎo)使用台(tái)式儀器進行(háng)測(cè)試(shì)，調試和表征的易用(yòng)性和效率。

國產PRECISE S200替代(dài)吉時(shí)利KEITHLEY2400源表使用(yòng)操作說明書指南手冊(cè)

一，S係(xì)列(liè)源(yuán)表按(àn)鍵(jiàn)操作(zuò)說明

POWER:電(diàn)源(yuán)開關按鍵；

USB接口：版(bǎn)本(běn)升(shēng)級(jí)及數(shù)據導(dǎo)出接口(kǒu)；

BACK:頁(yè)麵(miàn)返回(huí)鍵；

OUTPUT:信(xìn)號輸(shū)出開(kāi)/關，當(dāng)OUTPUT為(wéi)綠色是(shì)表示正在輸出，否則(zé)停止輸出(chū)；

2/4綫輸(shū)入輸(shū)出(chū)口(kǒu)：2綫(xiàn)時輸(shū)入輸(shū)出(chū)口為(wéi)（FORCE HI，FORCE LO）,四(sì)綫時(shí)輸(shū)入(rù)輸出(chū)口為(wéi)（FORCE HI，SENSEHI，SENSELO，FORCE LO）；注(zhù)意(yì)：四綫模式(shì)時需確(què)保(bǎo)對應(yīng)的連接綫已接(jiē)好，否(fǒu)則(zé)會有安全風(fēng)險(xiǎn)；

旋轉(zhuǎn)按(àn)鈕：量程(chéng)，數(shù)值設定(dìng)；

二，主(zhǔ)界(jiè)麵功(gōng)能介紹

如圖1.2所示，源表按(àn)下電(diàn)源開(kāi)關後(hòu)顯示為當前(qián)主界(jiè)麵。源表主界(jiè)麵為(wéi)可(kě)觸(chù)屏(píng)操(cāo)作(zuò)，點擊(jī)對(duì)應(yīng)功(gōng)能模塊(kuài)進入操(cāo)作頁麵，各(gè)模(mó)塊(kuài)功能(néng)簡介如(rú)下：

測(cè)量(liáng)：設置(zhì)源表(biǎo)模式為(wéi)源模式（電壓(yā)源(yuán)，電流源(yuán)）或(huò)測量模(mó)式（測量電(diàn)壓，電流）；

設置(zhì)：包(bāo)括網絡IP和係(xì)統升級以(yǐ)及(jí)輸(shū)出模(mó)式(shì)等各項設置；

版本(běn)信息(xī)：顯(xiǎn)示(shì)當前Qt，模擬(nǐ)板，前麵(miàn)板(bǎn)版本信息；

掃描：測(cè)量待測器件(jiàn)的(dí)V/I變(biàn)化(huà)曲綫；

快速模式：選擇(zé)了(liǎo)電(diàn)壓源(yuán)或(huò)電(diàn)流(liú)源(yuán)模式(shì)後(hòu)的源量程值(zhí)和(hé)*程值默認範圍更適合；

校準：對機器精(jīng)度進行校準(zhǔn)（暫(zàn)未(wèi)對用戶開放(fàng)）；

注(zhù)意：

1.插(chā)拔綫時務必確(què)保(bǎo)機(jī)器處(chǔ)於輸(shū)出(chū)關(guān)閉態.高於(yú)36V輸(shū)出時,即使設(shè)備(bèi)處於輸出(chū)關(guān)閉(bì)態(tài),也請不(bù)要用(yòng)手觸(chù)摸(mō)輸出接口(kǒu).

2.設置(zhì)四(sì)綫測試(shì)前,請先將四(sì)綫電纜(lǎn)連接好並(bìng)插入機器相對(duì)應的測(cè)試(shì)孔(kǒng),然(rán)後在觸(chù)摸麵(miàn)板選擇(zé)四綫,再啟(qǐ)動(dòng)輸出.

3.四綫測試使(shǐ)用完(wán)畢(bì)後請先(xiān)將四(sì)綫測(cè)試設(shè)置為二綫(xiàn)測(cè)試(shì),然後關(guān)閉輸(shū)出,再(zài)拔出(chū)測(cè)試(shì)綫.

三，源(yuán)表(biǎo)掃描設置(zhì)

掃描(miáo)設(shè)置界麵

該界(jiè)麵主(zhǔ)要分(fēn)為3個區域，具(jù)體(tǐ)區域說明如下(xià)：

區(qū)域1：選擇(zé)源(yuán)類型(xíng)，切換2/4綫，前(qián)後(hòu)麵板(bǎn)和是(shì)否保存結果；

區域(yù)2：設置(zhì)開(kāi)始值和結束(shù)值(zhí)，可以選擇(zé)掃描點(diǎn)或(huò)者(zhě)步進(jìn)值來(lái)設定掃(sǎo)描點數(shù)和步進(jìn)值(zhí)大(dà)小(xiǎo)以(yǐ)及(jí)限值大小(xiǎo)。

區(qū)域(yù)3：開始掃描(miáo)和查看(kàn)結果(guǒ)；

掃(sǎo)描狀(zhuàng)態(tài)界麵(miàn)

開始值，結(jié)束(shù)值，掃(sǎo)描(miáo)點數(shù)，限值和延(yán)時大小都(dū)通(tōng)過點擊(jī)選(xuǎn)項(xiàng)框(kuàng)後(hòu)出現(xiàn)的(dí)軟(ruǎn)鍵盤設置對應大(dà)小，如圖所(suǒ)示：

操作步驟(zhòu)

第1步：源(yuán)類(lèi)型(xíng)選擇(zé)，2綫/4綫，前(qián)後(hòu)麵(miàn)板切換，是否(fǒu)保存結(jié)果分別單擊對應選項框(kuàng)和下(xià)拉框內(nèi)容，切(qiē)換後(hòu)界麵如(rú)圖(tú)所(suǒ)示：

第2步(bù)：開始(shǐ)值，結束(shù)值，掃描點(diǎn)數(shù)，限值(zhí)和延時(shí)大小(xiǎo)都通過點(diǎn)擊(jī)選(xuǎn)項框後出現的(dí)軟鍵(jiàn)盤設置(zhì)對應大(dà)小，如圖(tú)所示(shì)：

第3步(bù)：掃(sǎo)描(miáo)點類型(xíng)以及各(gè)值的(dí)單(dān)位(wèi)設置(zhì)，如(rú)圖所示點擊(jī)對(duì)應下(xià)拉框：

第4步：等待完成後(hòu)生成(chéng)對應的(dí)曲綫圖，這裏(lǐ)以掃描二極(jí)管曲綫為例(lì)，如圖(tú)所(suǒ)示(shì)：