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產(chǎn)品特(tè)性(xìng)Product characteristics

專業(yè)儀器設備(bèi)與測試方案(àn)供(gōng)應商——上(shàng)海(hǎi)堅融實業有(yǒu)限(xiàn)公(gōng)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(yǒu)（上海(hǎi)）測量(liáng)儀(yí)器有限公(gōng)司JETYOO INSTRUMENTS，為(wéi)原安(ān)捷(jié)倫(lún)Agilent【現是(shì)德KEYSIGHT】品牌(pái)技術經理-堅JET與吉時(shí)利(lì)KEITHLEY【現泰克(kè)Tektronix】品牌產品經理-融YOO於(yú)2011年共同(tóng)創辦(bàn)，專(zhuān)注(zhù)工(gōng)業測(cè)試(shì)領域十(shí)六(liù)年(nián)，誌(zhì)在破舊立新(xīn)！*進(jìn)口儀器(qì)設備大(dà)多數廠(chǎng)家僅(jǐn)在(zài)國(guó)內設(shè)銷售(shòu)點(diǎn)，但(dàn)技(jì)術(shù)支持(chí)薄弱甚至沒有(yǒu)，而代理(lǐ)經銷商也隻(zhī)做(zuò)商務，不做售前(qián)技(jì)術支(zhī)持(chí)/測試(shì)方案(àn)和售(shòu)後(hòu)使(shǐ)用(yòng)培訓/維(wéi)修(xiū)校準的空(kōng)白。我(wǒ)們(mén)的技術型銷(xiāo)售均(jūn)為本(běn)科(kē)以上學(xué)歷，且均有(yǒu)10年以(yǐ)上測(cè)試行業經驗，以我們*進(jìn)*的經營理(lǐ)念，與客(kè)戶(hù)互惠(huì)互(hù)利合作雙(shuāng)贏，重在(zài)協(xié)助用戶采(cǎi)購與技(jì)術(shù)工程(chéng)師的工作，提(tí)供(gōng)較(jiào)有(yǒu)競爭(zhēng)力的(dí)供應鏈(liàn)管理與(yǔ)售前售後技(jì)術支持。堅融實業——一家(jiā)致力(lì)於為祖國用(yòng)戶提(tí)供(gōng)儀(yí)器(qì)設備(bèi)，測試方案，技術培訓，維修(xiū)計(jì)量(liáng)全麵(miàn)服務(wù)的(dí)儀器(qì)設備綜(zōng)合(hé)服(fú)務商。

上(shàng)海江蘇(sū)浙江(jiāng)四探(tàn)針方阻儀，電阻率測(cè)試(shì)儀(yí)，電(diàn)導率測(cè)試儀(yí)JR3545

一，應用領(lǐng)域

覆(fù)蓋膜，導電(diàn)高分(fēn)子膜，高(gāo)低溫(wēn)電(diàn)熱(rè)膜;隔熱，導電窗(chuāng)膜(mó)，導電(diàn)(屏蔽)布(bù)，裝(zhuāng)飾膜，裝(zhuāng)飾(shì)紙(zhǐ)，金屬(shǔ)化(huà)標(biāo)簽，合金類(lèi)箔(bó)膜；

熔(róng)煉(liàn)，燒(shāo)結(jié)，濺射，塗(tú)覆，塗布(bù)層，電阻式，電(diàn)容式(shì)觸(chù)屏薄膜，電極塗料(liào)；其他(tā)半導體材料(liào)，薄膜(mó)材料(liào)，矽晶(jīng)塊，晶片電(diàn)阻率(shuài)及(jí)擴散層(céng)，外延層，ITO導(dǎo)電箔膜，導電(diàn)橡膠(jiāo)等材料方塊電阻(zǔ)；

半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材料/晶圓，太陽能電(diàn)池(chí)，電(diàn)子(zǐ)元(yuán)器件，導(dǎo)電薄(báo)膜（ITO導(dǎo)電膜(mó)玻(bō)璃等(děng)），金屬膜(mó)，導電漆膜(mó)，蒸(zhēng)發(fā)鋁(lǚ)膜(mó)，PCB銅(tóng)箔(bó)膜，EMI塗層等(děng)薄層電阻與(yǔ)電阻率(shuài)；

導電性油漆(qī)，導電性糊狀物，導電(diàn)性塑料，導(dǎo)電性橡(xiàng)膠，導電性薄膜，金屬(shǔ)薄膜，EMI防護材料，導電(diàn)性纖維，導電(diàn)性陶瓷等方(fāng)阻(zǔ)測(cè)試(shì)。

二，產品(pǐn)描述

采用四(sì)探針(zhēn)組合(hé)雙電(diàn)測(cè)量(liáng)方法，液(yè)晶顯(xiǎn)示，自動測(cè)量，自動(dòng)量(liáng)程(chéng)，自動(dòng)係(xì)數(shù)補償。高集成電(diàn)路係統(tǒng)，恒流(liú)輸(shū)出(chū)；選配
：PC軟(ruǎn)件進行數據管理和(hé)處理。

雙電(diàn)測(cè)數字式四(sì)探針(zhēn)測試(shì)儀是(shì)運用(yòng)直(zhí)綫(xiàn)或方(fāng)型四探針雙位測量。儀器設計參(cān)考(kǎo)國(guó)標(biāo)單晶(jīng)矽物(wù)理測試(shì)方法(fǎ)及ASTM標(biāo)準。利(lì)用(yòng)電流(liú)探(tàn)針(zhēn)，電(diàn)壓探針的變換，進(jìn)行兩次電(diàn)測量(liáng)，對(duì)數(shù)據(jù)進行(háng)雙電測分(fēn)析，解決樣品幾(jī)何尺寸，邊(biān)界效應(yīng)以(yǐ)及探(tàn)針(zhēn)不(bù)等距和(hé)機(jī)械(xiè)遊移等(děng)因素對測量(liáng)結果的影響。提供中文或英文兩(liǎng)種(zhǒng)語(yǔ)言操作(zuò)界(jiè)麵。

三，參數指(zhǐ)標