上(shàng)一(yī)篇(piān):CS-5400日本(běn)岩(yán)崎IWATSU半(bàn)導體(tǐ)特性曲綫(xiàn)圖(tú)示儀(yí)
下(xià)一(yī)篇:日本(běn)IWATSU Curve Tracer CS-3300圖示儀
產品名(míng)稱(chēng):日本(běn)岩崎IWATSU CS-5400半導體(tǐ)曲(qū)綫(xiàn)圖(tú)示儀(yí)
產品型(xíng)號:
更(gēng)新時間(jiān):2025-06-11
產品簡(jiǎn)介:
堅融實業——一家(jiā)致力於為祖(zǔ)國用(yòng)戶提(tí)供日本(běn)岩崎(qí)IWATSU CS-5400半導(dǎo)體(tǐ)曲綫(xiàn)圖(tú)示(shì)儀儀(yí)器設備(bèi),測試(shì)方案,技術(shù)培訓(xùn),維修(xiū)計(jì)量(liáng)全麵(miàn)服(fú)務的儀器設備(bèi)綜(zōng)合服務(wù)商(shāng)。
專業儀器(qì)設(shè)備與(yǔ)測(cè)試(shì)方(fāng)案供(gōng)應商——上海堅融實業(yè)有(yǒu)限(xiàn)公(gōng)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上(shàng)海)測量儀器有(yǒu)限公司(sī)JETYOO INSTRUMENTS,為原安捷(jié)倫Agilent【現是(shì)德(dé)KEYSIGHT】品(pǐn)牌(pái)技術(shù)經理(lǐ)-堅JET與吉(jí)時利(lì)KEITHLEY【現泰(tài)克Tektronix】品牌產品(pǐn)經理-融(róng)YOO共(gòng)同創辦,專注工業測試領域(yù)十六年,誌在破舊(jiù)立新(xīn)!*進(jìn)口儀器(qì)設備大(dà)多數(shù)廠(chǎng)家僅(jǐn)在國(guó)內設銷售(shòu)點(diǎn),但技(jì)術(shù)支持(chí)薄弱甚(shèn)至沒有,而代(dài)理(lǐ)經(jīng)銷商也隻做商(shāng)務(wù),不做(zuò)售前技術(shù)支(zhī)持/測(cè)試方(fāng)案(àn)和(hé)售後(hòu)使用(yòng)培訓(xùn)/維修(xiū)校(xiào)準的(dí)空(kōng)白(bái)。我(wǒ)們的(dí)技術型(xíng)銷(xiāo)售(shòu)均(jūn)為本(běn)科(kē)以(yǐ)上(shàng)學歷,且(qiě)均(jūn)有10年(nián)以上測(cè)試行業(yè)經驗,與(yǔ)客(kè)戶互(hù)惠互利合(hé)作雙贏,重在(zài)協(xié)助(zhù)用戶采(cǎi)購(gòu)與技術(shù)工(gōng)程師(shī)的工作(zuò),提(tí)供較有競爭力(lì)的(dí)供(gōng)應鏈(liàn)管理與(yǔ)售前售(shòu)後(hòu)技術(shù)支持。堅融實業(yè)——一家(jiā)致力於為(wéi)祖(zǔ)國(guó)用戶(hù)提供儀(yí)器設備(bèi),測試方(fāng)案,技術培(péi)訓(xùn),維(wéi)修(xiū)計(jì)量(liáng)全麵服(fú)務的儀(yí)器設備(bèi)綜(zōng)合(hé)服(fú)務(wù)商(shāng)。
日本岩(yán)崎IWATSU CS-5400半導體曲(qū)綫圖示(shì)儀是(shì)新穎的(dí)曲(qū)綫圖(tú)示儀(yí), 可以支(zhī)持(chí)大(dà)峰(fēng)值從(cóng)3,000V/400A至(zhì)15,000V/8,000A. CS係(xì)列不僅適用(yòng)於(yú)高(gāo)電壓或(huò)高電(diàn)流(liú)功率器件(jiàn) (IGBT 和功率 MOSFET) 的特性(xìng)測試(shì), 還可(kě)用(yòng)於(yú)各種半導(dǎo)體器件 (如(rú)晶體(tǐ)管(guǎn), 二極管(guǎn)和 LED) 的特性(xìng)測試(shì), 及電(diàn)力電子(zǐ)器(qì)件 (如(rú) SiC 和(hé) GaN) 的(dí)電(diàn)容(róng)測試 (選(xuǎn)件 CS-603A/CS-605A). 測試結果(guǒ)可(kě)以存儲(chǔ)在內存中, 或(huò)通過標(biāo)配的USB 端口(kǒu)和 LAN 接口被發送到 PC.
日本岩(yán)崎IWATSU CS-5400半(bàn)導體(tǐ)曲綫圖(tú)示(shì)儀(yí)產(chǎn)品(pǐn)應用
適用於(yú)高電壓或高(gāo)電(diàn)流(liú)功(gōng)率器(qì)件 (如IGBT和(hé)功(gōng)率(shuài)MOSFET) 及(jí)半導(dǎo)體(tǐ)器件 (如晶體管(guǎn), 二極(jí)管和(hé) LED) 的特(tè)性測(cè)試(shì)
電力(lì)電(diàn)子(zǐ)器件(jiàn) (如 SiC和GaN) 的電容測(cè)量 (選(xuǎn)件(jiàn)CS-603A/CS-605A)
可實行(háng)晶(jīng)圓(yuán)和(hé)芯(xīn)片(piàn)上的電容(róng)測試 (探(tàn)針(zhēn)台(tái)和選(xuǎn)件CS-603A/CS-605A)
靜態特性(xìng)測試包(bāo)括漏電(diàn)流(liú), 飽和電壓, VF和(hé)Vth (附(fù)圖)
傳(chuán)輸(shū)特(tè)性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和(hé)電(diàn)路模(mó)塊的測(cè)試(shì)功(gōng)能(néng)
器件測試
可以(yǐ)在(zài)短(duǎn)時(shí)間(jiān)內執(zhí)行(háng)多(duō)個(gè)器(qì)件的(dí)測試(shì)和(hé)記錄. 操(cāo)作(zuò)員(yuán)隻需根據(jù)器(qì)件(jiàn)替(tì)換(huàn)和(hé)連接(jiē)更(gēng)改來(lái)輸入(rù)樣本名稱, 以重(zhòng)復相同的(dí)測(cè)試. 在既定(dìng)條件下(xià)判(pàn)斷(duàn) (通過/失敗(bài)) 將顯示每(měi)個測試與圖像和(hé)波形數據也將(jiāng)自動(dòng)存(cún)儲(附圖)
半導體溫(wēn)度特(tè)性測試評(píng)估
CS-810控(kòng)製(zhì)加(jiā)熱板. 儘(jǐn)管測(cè)試需要(yào)很長的(dí)時(shí)間 (如溫度測試), 仍可自動(dòng)執行 (附圖)
痠(suān)勞(láo)測試(shì)
在(zài)痠勞(láo)測試中(zhōng)可以(yǐ)包(bāo)含各(gè)種各樣(yàng)的參(cān)數. CS-810 軟件支持長時(shí)間可(kě)靠(kào)性測試. 通(tōng)過(guò)曲(qū)綫圖(tú)示CS-810監察(chá)電(diàn)壓和(hé)電流(liú), 那(nà)些曲綫的(dí)區別能被記(jì)錄(lù)下(xià)來. 痠(suān)勞(láo)測試可以實現(xiàn)多種參數(shù)的(dí)自(zì)動測(cè)量. 偏置(zhì)會停止超越電流或電(diàn)壓的限(xiàn)製(zhì)值(zhí)並(bìng)以此(cǐ)設定為(wéi)下限和(hé)上限的(dí)極(jí)限(xiàn)值(zhí). CS-810 軟(ruǎn)件測(cè)量(liáng) Ic 或 Vce (區間: 10s 至 2h) 和保持(chí)一定(dìng)的(dí)電壓(yā)或電(diàn)流 (10s 至 1,000h) (附圖)
與探針台共用時(shí), 可實現(xiàn)晶(jīng)圓測試 (附圖)
產(chǎn)品功(gōng)能
電(diàn)子電力(lì)元件或器(qì)件(jiàn)測(cè)試(shì)波形特(tè)性的(dí)功(gōng)能顯(xiǎn)示 (附圖(tú))
配(pèi)備選(xuǎn)件(jiàn) CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可實現(xiàn)電子電力器件如(rú)SiC和GaN等的電容(róng)測試(shì)
在(zài)3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自動與掃描電容(róng)測(cè)試
曲綫圖示儀的測試適配(pèi)器可(kě)用(yòng)於各種器(qì)件(jiàn)封裝(zhuāng)類型(xíng)
測(cè)試(shì)參(cān)數包(bāo)括:
Cies, Ciss (輸入(rù)電(diàn)容(róng))
Coss (輸出電容(róng))
Cres, Crss (反向(xiàng)傳輸電容)
Ct (端(duān)子間的(dí)電容)
Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已(yǐ)計(jì)算)
Rg (柵(zhà)極電阻(zǔ))
可實行晶(jīng)圓(yuán)和芯片上(shàng)的電(diàn)容測試(shì) (探針台(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
具有(yǒu)外部聯鎖功能的恒(héng)溫(wēn)箱高低溫(wēn)試驗(yàn)
與電(diàn)腦全(quán)自動(dòng)化結(jié)合
CS-810半(bàn)導體(tǐ)參數測(cè)試(shì)軟(ruǎn)件(jiàn) (選(xuǎn)件)
通過(guò)對(duì)主機的遠程控(kòng)製(zhì), 可實現各種自動測試的(dí)軟件. 傳統上(shàng)通過(guò)曲綫(xiàn)圖示(shì)儀難(nán)以進行的(dí)疲(pí)勞(láo)測試(shì). 加(jiā)熱實驗(yàn)或同時(shí)控(kòng)製恒溫箱進行(háng)多(duō)溫度(dù)點(diǎn)實(shí)驗都可使用(yòng)本(běn)軟件來(lái)實現 (附(fù)圖(tú))
USB 存儲(chǔ)器(qì)
圖像(xiàng): 數(shù)據和(hé)設(shè)置條件
格式: TIFF, BMP, PNG保(bǎo)存(cún)格式 (背景可(kě)選擇為黑色或白色(sè), 彩色或單(dān)色(sè))
波形(xíng)數據(jù): 文本文件和(hé)二(èr)進製(zhì)文(wén)件
遠(yuǎn)程控(kòng)製工(gōng)具
如(rú)因(yīn)保(bǎo)密需要(yào)而(ér)冇(mǎo)法(fǎ)使用(yòng)USB存(cún)儲器(qì)時, 可(kě)以通過安(ān)裝(zhuāng)在PC的遠(yuǎn)程控(kòng)製工(gōng)具(jù)進行數據(jù)存取
以(yǐ)太網
標準配(pèi)置 (主(zhǔ)機背麵(miàn))
測試(shì)點數(shù)可調(tiáo)整.可根(gēn)據(jù)需要(yào)的掃描速度(dù)及分(fēn)辨(biàn)率來(lái)設置. 根據(jù)不同用途可(kě)改(gǎi)變掃描方(fāng)向. 同(tóng)時具有(yǒu)客(kè)戶功(gōng)能, 可(kě)以僅(jǐn)對某(mǒu)一(yī)段進(jìn)行(háng)掃(sǎo)描, 特(tè)別(bié)是在自(zì)動測試時可以實(shí)現高速且高(gāo)分(fēn)辨(biàn)率的測(cè)試(附(fù)圖)
限製掃描功能(néng) (選(xuǎn)件(jiàn)CS-800)
在一般(bān)的掃(sǎo)描測試中(zhōng)加(jiā)入(rù)電流, 電(diàn)壓(yā)的(dí)限製(zhì)功能. 限製(zhì)在被測模塊上(shàng)印(yìn)加的電(diàn)流值, 電(diàn)壓(yā)值以起到保(bǎo)護(hù)作(zuò)用. 也可在(zài)達到目標值(zhí)時停(tíng)止(zhǐ)掃描(miáo)(附(fù)圖)
Vth-hFE自(zì)動檢(jiǎn)測功(gōng)能(選(xuǎn)件CS-800)
可在(zài)條(tiáo)件(jiàn)設㝊後進(jìn)行(háng)自動測(cè)試, 避免了(liǎo)之(zhī)前的繁(fán)雜操作
Constant 功(gōng)能(néng) (選(xuǎn)件CS-800)
可印加規(guī)定電(diàn)壓或(huò)規定(dìng)電(diàn)流. 與CS-810半導(dǎo)體參數測(cè)試(shì)軟(ruǎn)件配合使(shǐ)用時, 可使(shǐ)用(yòng)半(bàn)導體(tǐ)曲(qū)綫圖示(shì)儀(yí)進行(háng)自動(dòng)疲勞測試
溫度(dù)特性(xìng)測試(shì) (選(xuǎn)件CS-810)
通(tōng)過CS-810半導體(tǐ)測(cè)試(shì)軟(ruǎn)件對(duì)曲(qū)綫圖示儀, 掃(sǎo)描係統, 加熱(rè)板(bǎn)的自動控製, 實現(xiàn)溫度特性(xìng)評(píng)估(gū)試驗的全(quán)自動(dòng)測(cè)試 (附圖)
CS-810是(shì)一個(gè)可安裝於(yú)電(diàn)腦(nǎo)中的選(xuǎn)件應用軟件. 通過(guò)以(yǐ)太(tài)網(wǎng)控(kòng)製圖示(shì)儀, 掃描(miáo)係統(tǒng), 加(jiā)熱(rè)板(bǎn)等設(shè)備, 經(jīng)簡單(dān)的設置(zhì)後就可(kě)將(jiāng)一直(zhí)以(yǐ)來隻能(néng)手動測(cè)試的曲(qū)綫(xiàn)圖(tú)示儀(yí)實現全自(zì)動化(huà)測試, 大(dà)幅(fú)地(dì)提(tí)升(shēng)工作效率
全(quán)自動化測試(shì):測(cè)試→記錄→判斷. 提(tí)高品管(guǎn)和品(pǐn)檢(jiǎn)的工(gōng)作效率(shuài) (附(fù)圖)
模塊(kuài)或(huò)數個(gè)芯片, 器件(jiàn)自(zì)動(dòng)切換測試(shì)
可(kě)自(zì)動(dòng)控(kòng)製加熱(rè)板(bǎn), 全(quán)自(zì)動進行(háng)六(liù)合一模(mó)塊(kuài)的溫(wēn)度(dù)特(tè)性(xìng)測(cè)量
測(cè)試結果窗口(kǒu) (附圖)
波(bō)形比較(jiào)功能: 可(kě)將產品開發(fā)時(shí)的(dí)不穩(wěn)定狀(zhuàng)態(tài)或不良(liáng)分(fēn)析(xī)時測得的多(duō)個波(bō)形進行同屏(píng)比較(jiào), 或通過波形(xíng)比(bǐ)較來(lái)判斷是否合格 (附(fù)圖(tú))
產(chǎn)品(pǐn)特點
顯示屏: 8.4″ 彩色TFT液(yè)晶(jīng)顯(xiǎn)示(shì)屏
正確(què)測試(shì)半導體(tǐ)如(rú)IGBTs, MOSFETs, 晶(jīng)體管和二極管(guǎn)解決(jué)方(fāng)案(àn)
采用電(diàn)路圖(tú)模(mó)式顯(xiǎn)示(shì)內部的(dí)配綫(xiàn)狀(zhuàng)態 (CONFIGURATION), 更(gēng)好(hǎo)地(dì)避免(miǎn)模塊測試(shì)時(shí)的誤操(cāo)作(附(fù)圖(tú))
WAVE模(mó)式: 能(néng)確(què)認(rèn)實際(jì)印加電流和(hé)電壓(yā)波形的(dí)監(jiān)察(chá)模式(shì) (附(fù)圖)
可(kě)以像(xiàng)示(shì)波(bō)器(qì)一(yī)樣通過(guò)觀察(chá)模塊(kuài)上實(shí)際印(yìn)加(jiā)電(diàn)流和電壓(yā)的波形來確(què)定脈寬(kuān)和實(shí)際(jì)測試點 (Timing)
可通關確認(rèn)實(shí)際(jì)波(bō)形, 適時調(tiáo)整(zhěng)脈(mài)寬和(hé)測試點(diǎn)
避(bì)免(miǎn)示(shì)波器(qì)的探(tàn)棒(bàng)影響, 可確認(rèn)實(shí)時的異(yì)常(cháng)信(xìn)號
可非(fēi)常容(róng)易(yì)地(dì)確認(rèn)模(mó)塊發(fā)熱等引(yǐn)起的振(zhèn)蕩(dàng)等熱異(yì)常情(qíng)況(kuàng)
可(kě)實現SiC和(hé)GaN等器(qì)件(jiàn)的(dí)電容(róng)測(cè)試 (選件CS-603A/CS-605A)
可實(shí)現(xiàn)晶(jīng)圓和芯片上(shàng)的(dí)電(diàn)容測(cè)試(shì) (探(tàn)針台和(hé)選件CS-603A/CS-605A)
標(biāo)配LAN和(hé)USB接(jiē)口(kǒu)
標(biāo)準配件
CS-301: CS-3100標配測(cè)試台S
CS-302: CS-3200和(hé)CS-3300標(biāo)配(pèi)測(cè)試(shì)台(tái)M
CS-303: CS-5100, CS-5200和CS-5300標配(pèi)測試台(tái)M
CS-304: CS-5400標(biāo)配測試台M
測(cè)試台M專用(yòng)快裝(zhuāng)麵板: CS係列(liè)標配快(kuài)裝麵板 (除CS-3100外(wài))
CS-500: CS-3100, CS-3200, CS-3300, CS-5100, CS-5200, CS-5300, CS-5400標配測(cè)試(shì)端口(kǒu)轉接夾(jiā)具
CS-005: CS係(xì)列標配(pèi)標(biāo)準(zhǔn)綫(xiàn)套(tào)裝(除CS-3100外)
CS-006: CS-5400標配(pèi)20cm高電(diàn)流電纜 (2條)
CS-007: CS-10400, CS-10800, CS-12800, CS-15800標配(pèi)30cm 高電流(liú)電(diàn)纜 (2條(tiáo))
LAN接(jiē)口
USB接口(kǒu)
操(cāo)作(zuò)手(shǒu)冊
電源(yuán)綫
產品選項
CS-305: 測試台(tái)L, 尺(chǐ)寸(cùn): 630mm (寬(kuān)) x 520mm (高) x 530mm (深)
CS-307: 測試台(tái)L, 尺寸: 500mm (寬) x 520mm (高(gāo)) x 520mm (深)
CS-307H: CS-5400測試台L
CS-306: CS-3xxx和CS-5xxx探針台連接綫 ((除CS-5400外)
CS-308: CS-5400探針(zhēn)台連接(jiē)綫
CS-501A: TO 類測試(shì)夾(jiā)具
CS-502: Axial 類(lèi)測試夾(jiā)具
CS-503: TO-263-3 (D2PAK) 類(lèi)測試夾(jiā)具(jù)
CS-504: TO-252-3 類(lèi)測試(shì)夾(jiā)具(jù)
CS-505: TO-263-7 類測試夾具
CS-506: TO-252-5 類(lèi)測(cè)試夾(jiā)具(jù)
CS-507: SC-70-3/SOT-323-3 類測(cè)試夾(jiā)具
CS-508: SMD 芯片類(lèi)測試夾具
CS-509: SC-59A/SOT-23-3 類測(cè)試夾具
CS-510: SC-62/SOT-89 類(lèi)測(cè)試(shì)夾具(jù)
上(shàng)一(yī)篇(piān):CS-5400日本(běn)岩(yán)崎IWATSU半(bàn)導體(tǐ)特性曲綫(xiàn)圖(tú)示儀(yí)
下(xià)一(yī)篇:日本(běn)IWATSU Curve Tracer CS-3300圖示儀