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產(chǎn)品名稱:方阻(zǔ)儀/方(fāng)塊電阻(zǔ)測試儀/電阻(zǔ)率(shuài)/電導(dǎo)率儀(yí)
產(chǎn)品(pǐn)型號(hào):
更新時間:2025-10-10
產品(pǐn)簡(jiǎn)介(jiè):
方阻(zǔ)儀/方塊(kuài)電阻測(cè)試(shì)儀/電(diàn)阻(zǔ)率/電導(dǎo)率(shuài)儀(yí)應(yīng)用領域覆蓋膜(mó),導電(diàn)高(gāo)分子膜(mó),高(gāo)低(dī)溫電(diàn)熱(rè)膜(mó);隔(gé)熱,導(dǎo)電窗膜,導電(屏蔽)布,裝飾膜,裝飾紙,金(jīn)屬化(huà)標(biāo)簽,合(hé)金類(lèi)箔膜(mó);熔(róng)煉(liàn),燒結,濺(jiàn)射(shè),塗覆,塗布層(céng),電(diàn)阻式,電容式觸(chù)屏薄膜(mó),電極塗料;其他(tā)半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材(cái)料,薄(báo)膜材料,矽晶塊(kuài),晶片(piàn)電阻率及擴(kuò)散層,外(wài)延(yán)層(céng),ITO導(dǎo)電箔膜,導電橡膠等(děng)材(cái)料(liào)方塊電阻;半導體材料/晶(jīng)圓,太(tài)陽能電(diàn)池(chí),電子元(yuán)器件(jiàn),導電薄(báo)膜(mó)(ITO導電膜玻(bō)璃等)
“精(jīng)"——上海(hǎi)市先(xiān)JIN企業!
“專"——專注(zhù)工(gōng)業(yè)測試(shì)十(shí)六年(nián)!
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一(yī),方(fāng)阻儀/方塊電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試儀(yí)/電(diàn)阻率/電(diàn)導(dǎo)率儀(yí)應用(yòng)領域
覆(fù)蓋膜,導電(diàn)高(gāo)分子膜(mó),高低溫電熱膜;隔(gé)熱(rè),導(dǎo)電窗膜(mó),導電(屏蔽)布,裝(zhuāng)飾膜(mó),裝(zhuāng)飾紙,金屬化(huà)標(biāo)簽(qiān),合金(jīn)類(lèi)箔(bó)膜;熔(róng)煉(liàn),燒結(jié),濺射(shè),塗覆,塗布層(céng),電(diàn)阻(zǔ)式,電容(róng)式(shì)觸屏薄膜(mó),電極塗(tú)料;其(qí)他半導體材料(liào),薄(báo)膜(mó)材料,矽(guī)晶塊,晶(jīng)片電(diàn)阻(zǔ)率及擴散層,外(wài)延(yán)層,ITO導(dǎo)電箔(bó)膜(mó),導(dǎo)電橡(xiàng)膠(jiāo)等(děng)材料方塊電阻;半(bàn)導體(tǐ)材料/晶圓(yuán),太(tài)陽(yáng)能電池,電子(zǐ)元器件(jiàn),導電(diàn)薄膜(ITO導電膜玻璃等(děng)),金屬膜(mó),導電漆(qī)膜,蒸發鋁膜(mó),PCB銅箔膜,EMI塗(tú)層(céng)等薄層(céng)電(diàn)阻與(yǔ)電阻率(shuài);導(dǎo)電(diàn)性油(yóu)漆(qī),導電性糊狀物(wù),導電性塑(sù)料,導(dǎo)電(diàn)性橡膠(jiāo),導(dǎo)電(diàn)性薄膜(mó),金屬薄膜,EMI防護材(cái)料,導電性(xìng)纖維,導電性陶瓷等(děng)方阻測(cè)試(shì)。
二,產(chǎn)品描述(shù)
采用四探(tàn)針(zhēn)組合(hé)雙電(diàn)測量(liáng)方法(fǎ),液晶顯示,自動(dòng)測量,自動量(liáng)程,自動係數補(bǔ)償。高集成電(diàn)路(lù)係統,恒(héng)流(liú)輸(shū)出;PC軟件(jiàn)進(jìn)行(háng)數(shù)據管(guǎn)理(lǐ)和處理。
雙(shuāng)電(diàn)測數字(zì)式四探針(zhēn)測(cè)試(shì)儀是(shì)運用直(zhí)綫或方(fāng)型四探針(zhēn)雙位(wèi)測量。儀器(qì)設(shè)計(jì)參考國(guó)標單(dān)晶(jīng)矽物理測(cè)試方(fāng)法及ASTM標準(zhǔn)。利(lì)用(yòng)電(diàn)流探(tàn)針(zhēn),電壓(yā)探針的變換,進(jìn)行(háng)兩(liǎng)次電測量(liáng),對數(shù)據進行雙(shuāng)電測分(fēn)析,解決樣(yàng)品(pǐn)幾何(hé)尺寸,邊界(jiè)效(xiào)應(yīng)以及(jí)探(tàn)針不(bù)等距和機械遊移等因(yīn)素(sù)對測量(liáng)結果的(dí)影(yǐng)響。
三(sān),儀器(qì)特(tè)性
1.電阻測(cè)量範(fàn)圍0.1uΩ~10MΩ即(jí)10-7~1×107Ω(JR3545最(zuì)大(dà)1000MΩ)
2.電阻(zǔ)率測量(liáng)範圍(wéi)0.1uΩ~10MΩ.cm即10-7~1×107Ω.cm(JR3545最(zuì)大(dà)1000MΩ)
3.方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)測量範圍1uΩ~1MΩ/□即(jí)10-6~2×106Ω/□(JR3545最大100MΩ)
4.電阻精度(dù)0.01%,最小(xiǎo)分辨(biàn)率(shuài)0.1uΩ
5.方阻精(jīng)度2%,最小分辨(biàn)率(shuài)1uΩ
6.雙(shuāng)電測原(yuán)理,提⾼精(jīng)度(dù)和穩定(dìng)性(xìng)
7.測試探頭直排和矩形可(kě)選
8.標配(pèi)RS232,LAN通訊(xùn)接(jiē)口(kǒu)
9.搭(dā)配(pèi)軟件可(kě)查看和(hé)記(jì)錄測試數(shù)據(jù)
四,儀器應(yīng)用
使⽤開爾⽂測(cè)試(shì)夾(jiā)直接(jiē)測試電(diàn)阻(zǔ)器直(zhí)流電阻(zǔ)
使(shǐ)⽤四探(tàn)針治(zhì)具(jù)測(cè)試⽚狀或(huò)塊狀(zhuàng)半導(dǎo)體材料,⾦屬塗(tú)層以及(jí)導電薄(báo)膜等(děng)材料(liào)的(dí)⽅阻和(hé)電阻率
五,方阻(zǔ)儀/方塊電阻(zǔ)測試儀(yí)/電(diàn)阻(zǔ)率/電導(dǎo)率(shuài)儀指(zhǐ)標參數規(guī)格(gé)
型(xíng)號(hào) | JR3545 | JR3542 |
屏幕顯示 | 3.5英寸(cùn)TFT-LCD | |
測(cè)試參(cān)數 | 電阻(zǔ):R,⽅阻:Rsq,電(diàn)阻率:RY,電導率:CY | |
測(cè)試⽅式 | 單電測,雙電測 | |
最小分辨率(shuài) | 0.01μΩ | 0.1μΩ |
測(cè)試電流 | DC 1A~1μA | DC 1A-0.5μA |
測(cè)量精度(dù) | 電(diàn)阻:0.01%,⽅阻:2% | |
測試速度(dù) | 快速2.2ms,中速(sù)21ms,慢速(sù)1(102ms),慢(màn)速2(202ms) | |
測(cè)試(shì)量(liáng)程 | 10mΩ/100mΩ/1000mΩ/10Ω/100Ω/1000Ω/ 10kΩ/100kΩ/1000kΩ/10MΩ/100ΜΩ/1000ΜΩ | 20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/ 2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ |
信號(hào)源(yuán) | 恒流(liú)DC 100mA~1A | |
溫度(dù)測量 | 範圍-10℃~60℃;精度(dù)±1℃ | |
校(xiào)正 | 全量程內短(duǎn)路(lù)清(qīng)零 | |
比較器 | 10檔分選(xuǎn);實(shí)現HIGH/IN/LOW分選(xuǎn) | |
數據保(bǎo)存(cún) | 搭(dā)配電腦軟件記(jì)錄測試數據(jù) | |
觸(chù)發器 | 內部(bù)觸(chù)發,外部觸發 | |
接口 | 外(wài)部I/O接口,LAN接口(kǒu),RS232接口 | |
電源 | 電(diàn)壓(yā)100VAC~240VAC;AC頻(pín)率50Hz~60Hz;額定功(gōng)率(shuài)40VA | |
尺寸(cùn)與重量(liáng) | 325mm*215mm*96mm;重(zhòng)量2kg | |
附(fù)件 | 四探針測(cè)試夾具(jù),電源(yuán)綫 | |
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