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吉(jí)時(shí)利發布新型(xíng)低(dī)電流(liú)測(cè)量數字源表(biǎo)keithley2635和2636

日期：2012-09-29瀏覽(lǎn)：3647次(cì)

吉時利(lì)發布(bù)新(xīn)型低電流(liú)測(cè)量數字(zì)源表(biǎo)keithley2635和2636

美國俄(é)亥俄州克利(lì)夫蘭市2007年9月(yuè)17日訊——新興測(cè)量(liáng)需求(qiú)解(jiě)決方(fāng)案的(dí)吉時(shí)利儀器(qì)公司（NYSE:KEI），今日發布了其(qí)2600係列(liè)SourceMeter® 數字(zì)源表的兩款新產品2635和2636，自此形(xíng)成業界(jiè)技(jì)術，效費(fèi)比zui高的半導體(tǐ)參(cān)數(shù)分(fēn)析與(yǔ)測試解(jiě)決方(fāng)案(àn)。2635和2636采用(yòng)特(tè)殊(shū)參(cān)數(shù)分(fēn)析技術，實(shí)現(xiàn)了高達1fa（10-15安(ān)）的測(cè)量分辨率(shuài)，從而滿足了(liǎo)很多半導體(tǐ)，光電(diàn)和納(nà)米(mǐ)器(qì)件的測(cè)試需求。此(cǐ)外，其(qí)基於(yú)儀器(qì)的(dí)多通道(dào)架構(gòu)相比(bǐ)普通的基(jī)於主機的(dí)源(yuán)測(cè)量方案降(jiàng)低了50%的成本(běn)。通過(guò)其測(cè)試腳本處理器（TSP™）和(hé)TSP-Link™互(hù)連通信總(zǒng)綫(xiàn)，測試工(gōng)程師可(kě)利用2636和(hé)2635快速(sù)構建(jiàn)用(yòng)於(yú)技(jì)術研(yán)究(jiū)，特征(zhēng)分(fēn)析(xī)，圓(yuán)片分揀，可(kě)靠性測(cè)試(shì)，生(shēng)產監測(cè)等多種測試(shì)應用場(cháng)合(hé)的(dí)高(gāo)速測試係統(tǒng)。
 
2635和(hé)2636能夠(gòu)實(shí)現從飛安和微(wēi)伏量(liáng)級(jí)到(dào)200V/1.範(fàn)圍的費比(bǐ)直流和脈(mài)衝測試(shì)。它們可以(yǐ)配(pèi)合(hé)PC機(jī)或(huò)獨立工(gōng)作(zuò)，測試速(sù)度(dù)比(bǐ)普通(tōng)基於(yú)主機(jī)的源(yuán)測量方案(àn)快四倍。此(cǐ)外(wài)，每種儀器內置一(yī)個類似(sì)於PC的(dí)微處(chǔ)理(lǐ)器(qì)，支(zhī)持各種簡單(dān)或(huò)復雜的(dí)測試程(chéng)序（腳本(běn)）的(dí)編(biān)程與獨立執(zhí)行，包(bāo)括提供(gōng)信號源(yuán)，測量，測(cè)試序(xù)列流(liú)程控製以及(jí)帶條(tiáo)件(jiàn)程(chéng)序分支的判(pàn)斷操作等。2635和(hé)2636極(jí)易與其他儀器集成(chéng)構(gòu)成自動測試係(xì)統(tǒng)，因(yīn)此對(duì)於從事(shì)圓片級測試(shì)和(hé)封(fēng)裝(zhuāng)器件測試工作的(dí)元件(jiàn)製造(zào)商(shāng)和半導體(tǐ)廠(chǎng)商都吸(xī)引力(lì)。同(tóng)時，對於需要(yào)快(kuài)速，方(fāng)便地進(jìn)行(háng)器(qì)件與材(cái)料I-V特征分(fēn)析的各領域(yù)研(yán)究(jiū)人(rén)員和(hé)學者而言，其低(dī)成本優勢(shì)十分(fēn)誘人。
 
zui廉價的(dí)易擴展性
對(duì)於較小和中(zhōng)等引(yǐn)腳個數的(dí)器(qì)件(jiàn)，或者多器件和(hé)材料樣本的(dí)測試，2635和(hé)2636能夠(gòu)大(dà)大降低(dī)用(yòng)戶的測試成(chéng)本。它(tā)們(mén)將五種精(jīng)密測(cè)量(liáng)儀(yí)器(qì)的功能(néng)集(jí)於一身：SMU（源測量單元），DMM（數(shù)字萬(wàn)用(yòng)表），偏壓(yā)源，低頻脈衝發生器(qì)和任意波形(xíng)發生器。所有(yǒu)功能都(dū)受控(kòng)於TSP，從而(ér)支持(chí)在儀器內下載與(yǔ)執行(háng)*可編(biān)程的測(cè)試序列。這在增大(dà)測(cè)試產能的(dí)同時(shí)降低(dī)了(liǎo)通(tōng)信與(yǔ)PC開銷，*具(jù)備滿(mǎn)足(zú)不同(tóng)測試環境需(xū)求(qiú)的(dí)控製(zhì)靈(líng)活性(xìng)。
 
除了支(zhī)持(chí)TSP功(gōng)能外，吉(jí)時(shí)利的TSP-Link主(zhǔ)/從(cóng)連(lián)接(jiē)功能還提(tí)供(gōng)了(liǎo)一種(zhǒng)高(gāo)速，低(dī)延(yán)遲的(dí)接(jiē)口，以(yǐ)便(biàn)和(hé)其(qí)他(tā)基於TSP的(dí)儀(yí)器相(xiāng)互(hù)連接，實現(xiàn)簡(jiǎn)單的(dí)單台(tái)和多台儀器軟件控製架(jià)構。2600係(xì)列(liè)測試係統(tǒng)一個(gè)主(zhǔ)要(yào)優勢在(zài)於能夠(gòu)根(gēn)據(jù)當(dāng)前(qián)和今(jīn)後的(dí)測試需(xū)求為用(yòng)戶提供方(fāng)便的可(kě)擴(kuò)展(zhǎn)性。在(zài)無(wú)需(xū)主機的情況下，多個(gè)單(dān)通道（2635）單元和雙通道（2636）單(dān)元實(shí)現無(wú)縫集(jí)成(chéng)。該種無需主機(jī)的擴(kuò)展性能(néng)夠(gòu)實現每(měi)GPIB地址32個(gè)通道(dào)的係統規(guī)模，同時將新增通(tōng)道所需(xū)的成本，機(jī)架(jià)空間(jiān)和時(shí)間降至zui低(dī)限(xiàn)度。通(tōng)過(guò)選用(yòng)2600係列產(chǎn)品(pǐn)，用戶可以(yǐ)利用(yòng)兩(liǎng)到三個(gè)經(jīng)過標(biāo)準校(xiào)驗(yàn)的SMU模型(xíng)對多種應用(yòng)領(lǐng)域的10A脈衝(chōng)或(huò)者(zhě)3A直流(liú)電流進行測試。用(yòng)戶(hù)隻(zhī)需修改SMU執行(háng)的測(cè)試腳(jiǎo)本，就(jiù)可重新(xīn)定位SMU功能(néng)。
 
更短的測試(shì)時間
吉時(shí)利(lì)所有基於(yú)TSP功能的係統皆能(néng)存儲並(bìng)執(zhí)行(háng)大量預定義的器(qì)件(jiàn)測(cè)試腳(jiǎo)本(běn)，包(bāo)括(kuò)界(jiè)限比較，PASS/FAIL判(pàn)斷，元(yuán)件(jiàn)分揀(jiǎn)等(děng)。無(wú)論(lùn)是否(fǒu)有(yǒu)PC機的配合(hé)，都能(néng)夠(gòu)獨立(lì)完(wán)成(chéng)測(cè)試工(gōng)作(zuò)。此外，其數(shù)字(zì)I/O端口可以(yǐ)直(zhí)接(jiē)控製探測(cè)器(qì)，機械(xiè)手和其(qí)他儀器，而TSP-Link功能還(huán)允許(xǔ)用(yòng)戶(hù)在(zài)多個通(tōng)道(dào)和儀(yí)器(qì)上執行(háng)高(gāo)速的(dí)自動(dòng)化測試(shì)操(cāo)作並(bìng)避免GPIB通(tōng)信(xìn)開(kāi)銷(xiāo)。相(xiāng)比(bǐ)早期的定序(xù)式(shì)測(cè)試儀(yí)，測(cè)試時(shí)間減(jiǎn)少了10倍，在(zài)元(yuán)件測(cè)試方(fāng)麵的測(cè)試(shì)時間(jiān)通常都(dū)降(jiàng)低(dī)了2到(dào)4倍。
 
2635和2636與吉時利(lì)新(xīn)推出的3700係(xì)列係(xì)統(tǒng)開(kāi)關(guān)/萬用表(biǎo)（也具有TSP和(hé)TSP-Link功能(néng)）結(jié)合(hé)使用(yòng)時，能(néng)支持(chí)範圍更廣的高速應用(yòng)。同(tóng)時(shí)，這兩(liǎng)個產品(pǐn)係(xì)列(liè)提(tí)供了基(jī)本的功能模(mó)塊(kuài)，能夠(gòu)實(shí)現(xiàn)緊密(mì)集(jí)成的高性(xìng)能(néng)開(kāi)關(guān)和多通道(dào)I-V測量(liáng)係統。測試工程(chéng)師(shī)使(shǐ)用(yòng)這些產品(pǐn)可(kě)非常方便地構建出(chū)針(zhēn)對高產能測(cè)試(shì)優化的(dí)低成本ATE係(xì)統(tǒng)，例(lì)如(rú)半導體(tǐ)強度測試和封(fēng)裝器件(jiàn)的(dí)功(gōng)能(néng)測(cè)試(shì)。
 
輕(qīng)鬆的係統(tǒng)開(kāi)發
歷(lì)*，為初(chū)級(jí)研發(fā)和(hé)高(gāo)速產品測試(shì)工(gōng)作而(ér)開發多儀器特征分析(xī)係(xì)統(tǒng)或(huò)ATE係統(tǒng)曾是(shì)一(yī)大挑戰(zhàn)。吉時(shí)利(lì)通過(guò)兩(liǎng)個免(miǎn)費(fèi)的軟件(jiàn)工(gōng)具(jù)解決(jué)了這一問(wèn)題，大大簡化了(liǎo)2600係(xì)列數字(zì)源表的係統集(jí)成(chéng)。對於研發和曲綫繪圖等應(yīng)用(yòng)，吉時(shí)利LabTracer™ 2.0軟件能夠(gòu)控製(zhì)多達(dá)8個數字源表通道，無(wú)論編(biān)程(chéng)與否皆(jiē)能執行器(qì)件特征分析操作。利(lì)用這(zhè)種軟件(jiàn)，用戶可(kě)非常(cháng)方(fāng)便，輕(qīng)鬆地(dì)配置每(měi)個通道(dào)，測試器(qì)件(jiàn)參(cān)數，繪(huì)製(zhì)測試(shì)數(shù)據曲綫(xiàn)。
 
對(duì)於高速生產測(cè)試的應用場(cháng)合，用戶(hù)可使(shǐ)用一(yī)種簡單的類似(sì)於BASIC風(fēng)格的編(biān)程語言對測(cè)試腳本處理(lǐ)器(qì)進行編程，所(suǒ)編(biān)寫的腳本(běn)能在(zài)儀器(qì)上(shàng)實(shí)時(shí)運行。其(qí)直觀(guān)而易(yì)於(yú)使用的界麵兼(jiān)容所有流行的編程(chéng)語言(yán)。吉時利為信號掃(sǎo)描，脈衝(chōng)發生，波(bō)形生(shēng)成和常見的(dí)元件測試(shì)提供內嵌測試腳(jiǎo)本(běn)。測試儀器(qì)中包含(hán)大(dà)量測試腳(jiǎo)本，其(qí)他一(yī)些(xiē)腳(jiǎo)本(běn)可從(cóng)吉時(shí)利*上免(miǎn)費下(xià)載(zǎi)。為用戶(hù)預先編寫的測(cè)試(shì)腳(jiǎo)本可(kě)直(zhí)接使用(yòng)，或經由(yóu)用戶裁(cái)剪後(hòu)使用(yòng)，從而(ér)幫(bāng)助生(shēng)產(chǎn)用戶有(yǒu)效提(tí)高測(cè)試(shì)係統的執行速(sù)度。
 
用戶(hù)還可(kě)通過其(qí)他(tā)方式(shì)開發自定(dìng)義的測(cè)試腳(jiǎo)本，包(bāo)括(kuò)Test Script Builder的免費編(biān)程工(gōng)具(jù)，用(yòng)戶能(néng)使用(yòng)它(tā)提供(gōng)的簡單命令語言創(chuàng)建(jiàn)，修(xiū)改，調(tiáo)試和(hé)保存TSP腳本(běn)。用戶腳本能從(cóng)PC機(jī)上下(xià)載到主數(shù)字源表中(zhōng)，存儲在(zài)它(tā)的非易(yì)失性存儲器內。該存(cún)儲器(qì)具有16MB容量，可存儲50000行TSP代(dài)碼(mǎ)和100000個(gè)讀數。研(yán)究表明，利(lì)用(yòng)TSP及(jí)其相關軟件，相比前幾代(dài)定(dìng)序(xù)式測(cè)試(shì)儀器，用(yòng)戶的(dí)係統開發時間降低(dī)了(liǎo)50%到(dào)75%。
 
吉時(shí)利2600係(xì)列儀(yí)器的(dí)優勢(shì)還體現(xiàn)在由(yóu)其(qí)ACS（自動特征(zhēng)分(fēn)析套(tào)件）驅(qū)動的總(zǒng)控(kòng)集成測試係(xì)統上(shàng)。2600係(xì)列(liè)儀(yí)器支(zhī)持數(shù)量(liáng)可擴展的(dí)源-測(cè)量(liáng)通道以(yǐ)及(jí)各種半(bàn)導體(tǐ)應用的(dí)高速測(cè)試，包括圓片級可靠(kào)性分析，圓片(piàn)上(shàng)參數化(huà)管芯分(fēn)揀和自動化特(tè)征分(fēn)析(xī)。例(lì)如，需要*測(cè)量速度的測(cè)量任務(wù)（例如動(dòng)態(tài)NBTI）可以順序(xù)執(zhí)行(háng)，或者與(yǔ)器(qì)件(jiàn)級，圓片(piàn)級(jí)或圓片盒一(yī)級(jí)的(dí)測(cè)試(shì)規劃(huá)並行(háng)執(zhí)行。ACS所*的靈活性(xìng)以及用戶(hù)友好性(xìng)實現了(liǎo)係統(tǒng)儀(yí)器(qì)的*控(kòng)製，提(tí)供了*的圓(yuán)片(piàn)描(miáo)述(shù)工(gōng)具，支持半(bàn)自動和全(quán)自動(dòng)的探(tàn)測器(qì)控(kòng)製功能，提高(gāo)了測(cè)試(shì)過程的(dí)自動(dòng)化(huà)，並(bìng)對測試結果進(jìn)行深(shēn)入(rù)分析。ACS利用2600係列(liè)的靈(líng)活性，為用戶提(tí)供(gōng)了(liǎo)吉時(shí)利所*的自動(dòng)測試(shì)係統。
 
關於吉時(shí)利儀器(qì)公(gōng)司(sī)
美國吉時利(lì)儀器(qì)公司(sī)擁有60年的(dí)測(cè)試和測(cè)量的豐(fēng)富經(jīng)驗(yàn)，已(yǐ)經成為(wéi)涵蓋從(cóng)DC（直流）到RF（射(shè)頻）先進的電子測(cè)量(liáng)儀器和係統(tǒng)的行(háng)業。專為電(diàn)子(zǐ)製(zhì)造(zào)業(yè)對(duì)高性能(néng)的生(shēng)產測(cè)試，工(gōng)藝監控(kòng)，產品(pǐn)的(dí)研究與開發(fā)方(fāng)麵的特殊需(xū)要(yào)與(yǔ)挑戰，提(tí)供(gōng)的解(jiě)決(jué)方(fāng)案。憑藉在電子(zǐ)測試(shì)研(yán)發(fā)領域(yù)的優勢，吉時(shí)利儀(yí)器公(gōng)司已經成為(wéi)一(yī)個(gè)在(zài)半(bàn)導(dǎo)體，無(wú)綫(xiàn)通訊(xùn)，光(guāng)電器(qì)件和其它精密電子(zǐ)測量領域*的(dí)測試技術。吉(jí)時利儀器公司(sī)對客戶(hù)的(dí)核(hé)心(xīn)價值在於：將(jiāng)先進(jìn)的(dí)精密(mì)測量(liáng)技(jì)術與(yǔ)深入(rù)了(liǎo)解客(kè)戶(hù)應(yīng)用有機(jī)結(jié)合(hé)，從(cóng)而幫助客戶提高產品(pǐn)質(zhì)量，產(chǎn)能與產量。

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