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產(chǎn)品(pǐn)名(míng)稱:吉(jí)時利(lì)KEITHLEY霍爾效(xiào)應與(yǔ)範德(dé)堡(bǎo)測(cè)試
產(chǎn)品(pǐn)型號:
更新時(shí)間(jiān):2025-06-09
產品簡介:
吉(jí)時利KEITHLEY霍(huò)爾(ěr)效(xiào)應(yīng)與範德堡(bǎo)測試(shì)。測(cè)量(liáng)所(suǒ)有(yǒu)半導體(tǐ)材(cái)料(liào)包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型(xíng)均(jūn)可測(cè)量)I-V曲(qū)綫及I-R曲(qū)綫,實驗結(jié)果(guǒ)由(yóu)軟件自動計(jì)算(suàn)得到,可同(tóng)時(shí)得到(dào)體(tǐ)載(zǎi)流(liú)子濃度(dù) (Bulk Carrier Concentration),表麵載(zǎi)流(liú)子濃(nóng)度 (Sheet Carrier Concentration),遷移率 (Mobility),
吉時利(lì)KEITHLEY最經(jīng)典(diǎn)的(dí)霍爾(ěr)效應與(yǔ)範德(dé)堡測試方法。方案(àn)一:2400/2600係列高精(jīng)度源表(biǎo)+高(gāo)低溫(wēn)平台+範德(dé)堡(bǎo)爾法則(zé)終端(duān)轉換器;方案(àn)二(èr):6221電流源(yuán)+7001多路開關控製(zhì)器+2182A納伏表。測量所(suǒ)有半(bàn)導體材(cái)料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型(xíng)均可測量)I-V曲(qū)綫及(jí)I-R曲綫(xiàn),實(shí)驗結果(guǒ)由軟件(jiàn)自動計(jì)算得到,可(kě)同(tóng)時得(dé)到(dào)體(tǐ)載流(liú)子(zǐ)濃(nóng)度 (Bulk Carrier Concentration),表麵(miàn)載(zǎi)流子濃度 (Sheet Carrier Concentration),遷移率 (Mobility),電(diàn)阻率 (Resistivity),霍爾係(xì)數 (Hall Coefficient),磁致(zhì)電阻(zǔ)(Magnetoresistance),電阻的縱(zòng)橫(héng)比(bǐ)率(Vertical/ Horizontal ratio of resistance) 等。
專業儀(yí)器(qì)設備和測試(shì)方(fāng)案供應商——上(shàng)海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有(yǒu)限公(gōng)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海(hǎi))測(cè)量儀器有限公(gōng)司(sī)JETYOO INSTRUMENTS,由前(qián)安捷倫Agilent【現(xiàn) 是德KEYSIGHT】產品技術支持工程(chéng)師(shī)——堅 JET 和(hé) 吉時利KEITHLEY【現 泰克(kè)Tektronix】忠實用戶(hù)使用(yòng)工(gōng)程師(shī)——融 YOO於2012年共(gòng)同(tóng)創立(lì),誌在(zài)破(pò)舊(jiù)立(lì)新(xīn)!*電子測(cè)試(shì)行業代(dài)理經銷商(shāng)隻(zhī)專(zhuān)業做商務(wù)銷售,不(bù)專業(yè)做售前測試方案,不(bù)專業(yè)做售(shòu)後使用(yòng)培(péi)訓的(dí)空白(bái)。我們的技術銷(xiāo)售工程師均(jūn)為(wéi)本(běn)科(kē)以上(shàng)學歷(lì),且均有10年以(yǐ)上(shàng)儀器(qì)行業工(gōng)作經驗,專(zhuān)業為(wéi)中(zhōng)國(guó)區用(yòng)戶(hù)提供(gōng)吉時(shí)利(lì)KEITHLEY霍(huò)爾效(xiào)應(yīng)與範德堡(bǎo)測(cè)試(shì)服務,為(wéi)上海(hǎi)華東地(dì)區一家以(yǐ)技(jì)術(shù)為導向的(dí)儀(yí)器設備綜合(hé)服務商(shāng)。
企(qǐ)業(yè)在銷售過程(chéng)中根據給(gěi)用戶(hù)實際(jì)測試(shì)使用編撰(zhuàn)了《集(jí)成芯片I2C,SPI測(cè)試(shì)》,《存儲(chǔ)器SD3.0,eMMC5.1測(cè)試(shì)》,《電腦(nǎo)周(zhōu)邊USB2.0,UART測(cè)試(shì)》,《CAN,LIN,MVB,WTB汽車總(zǒng)綫(xiàn)測試》,《電源管(guǎn)理(lǐ)係統(tǒng)BMS測(cè)試》,《音(yīn)視頻多(duō)媒體I²S,HDMI,S/PDIF測(cè)試(shì)》,《GB/T國標,ANSI/ASTM美標(biāo)絕(jué)緣材料電(diàn)阻(zǔ)和電阻率(shuài)測(cè)試》,《防靜電(diàn)工作(zuò)台(tái)麵/地板/鞋服/橡膠(jiāo)絕緣材料(liào)/薄(báo)膜(mó)/包裝材料(liào)ANSI/ESD規(guī)範測(cè)試(shì)靜電(diàn)電(diàn)阻(zǔ)》,《電(diàn)子電(diàn)器/帶靜電產品(pǐn)的IEC 61340,EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標準(zhǔn)靜電(diàn)場電壓(yā),靜電消(xiāo)散(sàn)時(shí)間測試(shì)》,《基(jī)於(yú)Wayne Kerr阻抗(kàng)分(fēn)析(xī)儀(yí)的介(jiè)電常數(shù),電導率(shuài),阻抗測試評估》,《6517B與(yǔ)B2985A高(gāo)阻表測量(liáng)電阻/體積(jī)電阻(zǔ)率(shuài)》,《新材(cái)料先(xiān)進半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)微(wēi)電流/微電(diàn)阻(zǔ)/低噪(zào)聲測試》,《吉時利KEITHLEY霍(huò)爾效應(yīng)與(yǔ)範德(dé)堡(bǎo)測試》,《MOSFET/CMOS/IGBT半(bàn)導體晶(jīng)體管(guǎn)特(tè)性曲綫分(fēn)析》,《電波暗(àn)室EMC電磁(cí)兼(jiān)容(róng)測試(shì)》,《相噪/頻(pín)響(xiǎng)/數字模擬高速(sù)信(xìn)號采集/射頻微(wēi)波(bō)測試》,《音(yīn)視(shì)頻(pín)綜合測(cè)試分析》,《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測(cè)試(shì)》,《大(dà)眾VW80000/通用(yòng)GMW3172/ISO7637瞬(shùn)態傳(chuán)導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模(mó)擬(nǐ)標準測試》,《鑲嵌機,磨拋(pāo)機在電(diàn)子零部(bù)件(jiàn)中的(dí)應(yīng)用》,《Agilent34970A,KEITHLEY2700數據采(cǎi)集監測(cè)多(duō)路(lù)溫(wēn)度(dù)/電(diàn)壓(yā)/電阻》,《循環伏安法CV電(diàn)化(huà)學實(shí)驗(yàn)係統測(cè)試站電流(liú)-時間曲(qū)綫(xiàn)I-t》,《精密(mì)電流源/納(nà)伏(fú)表微(wēi)小(xiǎo)電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試》,《LED照明測試(shì)》,《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備(bèi)低(dī)功耗測(cè)試》,《大功率編程電源/負載的(dí)太陽能(néng)光伏,新能源(yuán)汽車(chē),充電(diàn)樁,燃料電池測(cè)試》,《機電(diàn)/材料/生物(wù)醫(yī)學(xué)/汽車(chē)電(diàn)子雲(yún)熱(rè)像(xiàng)》,《ABS防抱(bào)死製動係統(tǒng),SRS汽車安全氣囊,TPMS胎壓(yā)監測測試係(xì)統》,《電(diàn)氣耐壓絕(jué)緣接地電阻泄漏電(diàn)流測試(shì)》,《幹濕(shī)球,不(bù)飽和(hé),濕(shī)潤(rùn)飽和模式(shì)高壓加速老(lǎo)化(huà)試(shì)驗(yàn)》,《高低溫/恒溫(wēn)恒濕/冷熱(rè)衝擊試驗(yàn)》,《樹脂(zhī),塗料,膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱(xiāng)》等上(shàng)百(bǎi)篇技術應(yīng)用解決(jué)方(fāng)案(àn)文獻,為(wéi)電子測試(shì)行(háng)業(yè)做出了(liǎo)我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。
堅忍不拔 圓(yuán)融(róng)通(tōng)達 是我們秉承(chéng)的(dí)理(lǐ)念。嚶(yīng)其鳴矣 求其(qí)友(yǒu)聲(shēng) 我們(mén)渴望(wàng)跟更多(duō)誌同(tóng)道合的(dí)同仁共(gòng)建至(zhì)真至誠的合作(zuò),為(wéi)祖(zǔ)國電子事(shì)業(yè)添(tiān)磚加瓦!
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