上(shàng)一篇:吉(jí)時利(lì)KEITHLEY霍(huò)爾效應(yīng)與範德堡測試
下一(yī)篇:半(bàn)導體(tǐ)特性曲(qū)綫圖(tú)示儀(yí)
產(chǎn)品名稱:英國(guó)Wayne Kerr介(jiè)電(diàn)常數阻(zǔ)抗(kàng)分析(xī)儀(yí)測(cè)試方(fāng)案(àn)
產(chǎn)品型(xíng)號(hào):
更新時(shí)間:2026-05-19
產(chǎn)品簡介:
電阻電容(róng)電(diàn)感值(zhí)測量,阻抗參(cān)數評估和性能(néng)分(fēn)析,晶(jīng)體管(guǎn)或集(jí)成(chéng)電路的(dí)寄生(shēng)參(cān)數分析,介電(diàn)常(cháng)數(shù)和(hé)損(sǔn)耗(hào)角(jiǎo)評估,導(dǎo)磁率和(hé)損耗(hào),導電(diàn)率(shuài)和C-V特性,英國Wayne Kerr介電常數(shù)阻(zǔ)抗分析儀測試(shì)方(fāng)案
電阻電(diàn)容(róng)電(diàn)感值(zhí)測量,阻(zǔ)抗(kàng)參(cān)數(shù)評估和(hé)性(xìng)能分析(xī),晶體(tǐ)管或集(jí)成(chéng)電(diàn)路的(dí)寄生(shēng)參數分(fēn)析(xī),介(jiè)電(diàn)常(cháng)數(shù)和損耗角評估,導磁率和損(sǔn)耗(hào),導電(diàn)率和C-V特(tè)性,英國(guó)Wayne Kerr介電(diàn)常數(shù)阻(zǔ)抗(kàng)分(fēn)析儀(yí)測(cè)試方案:
英國穩科(kē)Wayne Kerr,美國是德(dé)KEYSIGHT E4980A LCR電橋/阻抗分析儀,0.05%精(jīng)度,500kHz/1MHz/2MHz/5MHz/10MHz/20MHz/50MHz/120MHz頻(pín)率(shuài)。
專業儀器(qì)設備和(hé)測(cè)試(shì)方(fāng)案供應(yīng)商——上海(hǎi)堅(jiān)融實業(yè)有(yǒu)限(xiàn)公(gōng)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(上海)測量(liáng)儀器有(yǒu)限(xiàn)公(gōng)司(sī)JETYOO INSTRUMENTS,由(yóu)前安(ān)捷(jié)倫Agilent【現 是(shì)德KEYSIGHT】產(chǎn)品技術支(zhī)持工(gōng)程師——堅 JET 和 吉時利KEITHLEY【現(xiàn) 泰克(kè)Tektronix】忠實(shí)用戶(hù)使(shǐ)用(yòng)工程師——融 YOO於2012年共同創(chuàng)立,誌在(zài)破(pò)舊(jiù)立新!*電子測試(shì)行業(yè)代(dài)理經(jīng)銷商隻專(zhuān)業(yè)做商(shāng)務(wù)銷售,不專業(yè)做售前(qián)測試方(fāng)案(àn),不專業做(zuò)售(shòu)後(hòu)使(shǐ)用培(péi)訓的空白。我們(mén)的技(jì)術(shù)銷售(shòu)工程(chéng)師(shī)均為本科(kē)以上(shàng)學歷,且(qiě)均有10年以上儀(yí)器(qì)行(háng)業工作經驗(yàn),專業為中國區(qū)用(yòng)戶提供(gōng)英(yīng)國Wayne Kerr介電常數阻抗分析(xī)儀測試方(fāng)案服(fú)務,為上(shàng)海華東地區(qū)一家以技(jì)術(shù)為導(dǎo)向的(dí)儀(yí)器(qì)設(shè)備(bèi)綜(zōng)合服(fú)務商。
企業(yè)在銷售(shòu)過(guò)程中(zhōng)根據(jù)給用(yòng)戶(hù)實際(jì)測試(shì)使(shǐ)用編(biān)撰了(liǎo)《集(jí)成(chéng)芯(xīn)片I2C,SPI測試》,《存(cún)儲器SD3.0,eMMC5.1測(cè)試》,《電腦(nǎo)周(zhōu)邊USB2.0,UART測試(shì)》,《CAN,LIN,MVB,WTB汽車(chē)總綫測試》,《電(diàn)源管理(lǐ)係統BMS測(cè)試》,《音視頻(pín)多(duō)媒體I²S,HDMI,S/PDIF測試(shì)》,《GB/T國標,ANSI/ASTM美標絕緣材料電阻(zǔ)和電(diàn)阻率(shuài)測試》,《防(fáng)靜電(diàn)工作台麵(miàn)/地板/鞋(xié)服/橡(xiàng)膠絕緣材(cái)料/薄膜/包裝材(cái)料ANSI/ESD規範測試(shì)靜電(diàn)電(diàn)阻(zǔ)》,《電(diàn)子電器/帶靜電產品(pǐn)的IEC 61340,EOS/ESD S.3.1和(hé)SAE J1645標(biāo)準靜電場(cháng)電壓,靜(jìng)電(diàn)消散(sàn)時間(jiān)測(cè)試(shì)》,《英國Wayne Kerr介(jiè)電常(cháng)數(shù)阻(zǔ)抗(kàng)分(fēn)析儀測試方(fāng)案(àn)》,《6517B與B2985A高阻(zǔ)表測(cè)量(liáng)電阻/體積(jī)電(diàn)阻(zǔ)率》,《新材(cái)料(liào)先(xiān)進(jìn)半(bàn)導體(tǐ)微(wēi)電流/微(wēi)電(diàn)阻(zǔ)/低噪聲測試》,《霍爾效(xiào)應(yīng)與範德堡測(cè)試(shì)》,《MOSFET/CMOS/IGBT半導體(tǐ)晶體(tǐ)管(guǎn)特(tè)性(xìng)曲綫分析》,《Agilent34970A,KEITHLEY2700數據(jù)采(cǎi)集監測(cè)多(duō)路溫度/電壓/電(diàn)阻》,《循(xún)環(huán)伏(fú)安(ān)法CV電(diàn)化學實(shí)驗係(xì)統(tǒng)測(cè)試(shì)站(zhàn)電(diàn)流(liú)-時間(jiān)曲(qū)綫(xiàn)I-t》,《精密(mì)電(diàn)流(liú)源(yuán)/納伏表(biǎo)微小(xiǎo)電阻測試》,《LED照(zhào)明測試》,《IoT物(wù)聯網設備低(dī)功耗(hào)測試(shì)》,《電(diàn)氣耐壓絕緣接(jiē)地電(diàn)阻(zǔ)泄漏(lòu)電流測試》,《幹濕球,不(bù)飽和(hé),濕潤(rùn)飽和模式高壓(yā)加(jiā)速老(lǎo)化(huà)試(shì)驗》,《高(gāo)低(dī)溫(wēn)/恒溫恒(héng)濕/冷(lěng)熱衝擊試(shì)驗》,《樹脂(zhī),塗料(liào),膠帶(dài)易燃物(wù)質(zhì)防爆(bào)型高(gāo)溫烘箱》等(děng)上(shàng)百篇(piān)技(jì)術(shù)應(yīng)用(yòng)解決方案文(wén)獻,為(wéi)電子測試行(háng)業(yè)做(zuò)出了(liǎo)我們(mén)應(yīng)有(yǒu)的貢獻(xiàn)。
堅忍不拔(bá) 圓(yuán)融通(tōng)達(dá) 是(shì)我(wǒ)們(mén)秉(bǐng)承(chéng)的理念。嚶(yīng)其(qí)鳴(míng)矣 求其友聲 我們(mén)渴(kě)望跟更(gēng)多誌(zhì)同(tóng)道(dào)合的同(tóng)仁(rén)共建(jiàn)至(zhì)真至(zhì)誠的合作(zuò),為(wéi)祖(zǔ)國電(diàn)子(zǐ)事業添磚(zhuān)加(jiā)瓦!
上(shàng)一篇:吉(jí)時利(lì)KEITHLEY霍(huò)爾效應(yīng)與範德堡測試
下一(yī)篇:半(bàn)導體(tǐ)特性曲(qū)綫圖(tú)示儀(yí)