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產(chǎn)品特性(xìng)Product characteristics

慶聲KSON薄(báo)膜太陽(yáng)能(néng)電池溫循濕冷凍(dòng)試(shì)驗(yàn)機  

    薄膜(mó)太(tài)陽電池可以(yǐ)使用在(zài)價格(gé)低廉(lián)的玻(bō)璃(lí)，塑料，陶(táo)瓷，石墨，金屬(shǔ)片等不同(tóng)材料當基(jī)板(bǎn)來(lái)製造，薄(báo)膜(mó)太(tài)陽電(diàn)池在溫度(dù)循(xún)環(huán)，濕(shī)冷(lěng)凍，濕(shī)熱(rè)試驗中的量測及電壓輸入(rù)的方(fāng)式，與晶(jīng)圓(yuán)型(xíng)是不一(yī)樣(yàng)的所以量(liáng)測(cè)方(fāng)式也(yě)所(suǒ)有不同，是不可以混淆的(dí)，薄膜型太(tài)陽能電(diàn)池所依據(jù)的(dí)試(shì)驗規(guī)範(fàn)為IEC 61646，IEC 61215，UL1703，GB9535，GB18911..等(děng)。

形(xíng)成可產生電壓(yā)的(dí)薄膜厚度(dù)僅(jǐn)需數(shù)μm，因此在(zài)同一受光麵積之下可(kě)較(jiào)矽晶圓(yuán)太(tài)陽能(néng)電(diàn)池大(dà)幅減少(shǎo)原料的用(yòng)量(厚(hòu)度可(kě)低於(yú)矽(guī)晶(jīng)圓(yuán)太陽能電(diàn)池90%以(yǐ)上)，目前轉換(huàn)效率(shuài)高以可達13%，薄膜電池(chí)太陽(yáng)電(diàn)池(chí)除了平(píng)麵(miàn)之外(wài)，也因為具有可撓性可(kě)以製(zhì)作成非(fēi)平麵構(gòu)造其(qí)應(yīng)用範圍大，可(kě)與(yǔ)建築物結合(hé)或(huò)是變(biàn)成建(jiàn)築體(tǐ)的一(yī)部份，在(zài)薄(báo)膜太(tài)陽(yáng)電(diàn)池製(zhì)造上(shàng)，則(zé)可(kě)使(shǐ)用各式各樣(yàng)的沈(shěn)積(jī)(deposition)技術，一(yī)層(céng)又一(yī)層地(dì)把(bǎ)p-型或(huò)n-型(xíng)材(cái)料(liào)長(cháng)上去，常(cháng)見的(dí)薄膜太陽電池有(yǒu)非晶矽(guī)，CuInSe2 (CIS)，CuInGaSe2 (CIGS)，和CdTe..等。

慶聲(shēng)KSON薄(báo)膜(mó)太陽能(néng)電池溫(wēn)循濕(shī)冷(lěng)凍(dòng)試驗機 產品特色(sè)：

a.符合(hé)IEC61646-10.11，GB18911-10.11，CNS15115-10.11熱循環，濕冷凍，濕(shī)熱(rè)規範(fàn)當中的試(shì)驗要求(qiú)

b.試驗過程(chéng)進(jìn)行(háng)相(xiāng)關電(diàn)性(xìng)與物理量量(liáng)測

c.櫃內(nèi)頂(dǐng)端(duān)不(bù)得有(yǒu)凝結水滴(dī)在試件(jiàn)上

d.專li設計太(tài)陽能(néng)放(fàng)置治(zhì)具

e.試(shì)驗結(jié)束(shù)待測(cè)品(pǐn)回(huí)常溫保護(hù)機(jī)製

目(mù)的：確定(dìng)組(zǔ)件(jiàn)於溫度(dù)重復(fù)變化(huà)時,引(yǐn)起的(dí)疲(pí)勞和其它(tā)應(yīng)力的熱(rè)失效。

要求：

1.整個測試過(guò)程中紀(jì)錄模(mó)塊溫度(dù)，測(cè)量(liáng)及(jí)紀錄模(mó)塊(kuài)溫度(dù)之(zhī)儀(yí)器(qì)準(zhǔn)確度±1℃

2.整個測試過程中，監測(cè)每(měi)一個模塊內(nèi)部電連(lián)續性之儀器(qì)

3.監測(cè)每一個模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端(duān)和邊(biān)框(kuàng)或(huò)支(zhī)撐架之間絕緣(yuán)完整性(xìng)之(zhī)儀(yí)器(qì)

4.監測可(kě)能(néng)產生之任何開(kāi)路(lù)或接(jiē)地失效(xiào)(測(cè)試過程(chéng)中無(wú)間(jiān)歇開(kāi)路(lù)或接地失(shī)效)。

慶聲KSON薄膜(mó)太陽(yáng)能電池(chí)溫(wēn)循(xún)濕冷(lěng)凍試驗機(jī) 參數(shù)指標(biāo)

溫(wēn)度循環(huán)比較(jiào)

低溫(wēn)

高(gāo)溫(wēn)

溫變率

駐留時(shí)間

循(xún)環(huán)數(shù)

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大(dà)100℃/h

少10min

50，200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大(dà)100℃/h

少10min

50，200

CNS15115

-40±2℃

85±2℃

大(dà)100℃/h

少10min

50，200

Humidity-freeze test(濕冷凍測試(shì))

目的：確定組件(jiàn)承受高(gāo)溫(wēn)，高濕之後以及隨(suí)後的零(líng)下溫度影(yǐng)響(xiǎng)的(dí)能力。

要求：

1.整(zhěng)個測試過程中(zhōng)紀(jì)錄(lù)模塊(kuài)溫度，測量(liáng)及(jí)紀(jì)錄模塊溫(wēn)度(dù)之(zhī)儀器準確度(dù)±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過程中，監測每一個模塊內部電連續性之儀器(qì)

3.監測每(měi)一個(gè)模(mó)塊之(zhī)一個隱現端和(hé)邊框或支(zhī)撐(chēng)架之(zhī)間(jiān)絕(jué)緣完整性(xìng)之儀器

4. 監測可能(néng)產生之任何開(kāi)路或接地失效(xiào)(測(cè)試過程(chéng)中無間歇(xiē)開(kāi)路或接(jiē)地失效)。

溫度循環比(bǐ)較(jiào)

高溫高濕(shī)

低溫

溫變率(shuài)

循環數(shù)

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gāo)溫(wēn)升降溫(wēn)(100℃/h)

低(dī)溫(wēn)升降溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wēn)升(shēng)降溫(wēn)(100℃/h)

低溫(wēn)升(shēng)降(jiàng)溫(wēn)(200℃/h)

10

CNS15115

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升(shēng)降溫(wēn)(200℃/h)

10

Damp Heat(濕(shī)熱(rè)測試)

目的(dí)：確(què)定模塊抵抗(kàng)濕(shī)氣長(cháng)期(qī)滲透之能力。

試(shì)驗(yàn)條件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13，GB18911-10.13，CNS15115-10.13)

  直(zhí)立(lì)式觸控(kòng)式控(kòng)製係統

 控製(zhì)係(xì)統通(tōng)過EMC(電磁(cí)兼容性(xìng))驗證

  直(zhí)立式(shì)全彩液(yè)晶(jīng)TFT,簡(jiǎn)/繁/英(yīng)文顯示器(qì)

  9999 HOURS / STEP 每段可控製(zhì)時間(jiān)

  150 program x 100 step 程(chéng)序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存(cún)接口與曲綫記錄(lù) 

  12 bit D/A 溫度濕度(dù)轉(zhuǎn)換接口(kǒu)

  全自動(dòng)控製(zhì)與安全保護(hù)協(xié)調(tiáo)係(xì)統

  High power LED運(yùn)轉狀(zhuàng)態指(zhǐ)示(shì)燈(dēng) 

  Index 運轉狀態(tài)指(zhǐ)示(shì)燈 

慶(qìng)聲(shēng)KSON太陽能電池(chí)開路(lù)量測(cè)檢測係(xì)統(tǒng)

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太陽能(néng)電池(chí)在(zài)可靠(kào)度(dù)測(cè)試中必須(xū)要進(jìn)規範(fàn)所(suǒ)提(tí)到的濕冷凍，溫度循(xún)環(huán)，濕熱試驗..等試驗，確認太陽(yáng)能電(diàn)池在(zài)試驗過程(chéng)當中(zhōng)是否(fǒu)發生故障或(huò)是(shì)失效(xiào)，透(tòu)過開路(lù)測(cè)試係統(tǒng)可(kě)以(yǐ)進(jìn)行簡易(yì)的(dí)太(tài)陽能電(diàn)池失效判(pàn)定(dìng)。

IEC61646，IEC61215，UL1703，IEEE1513規範對試(shì)驗中量測(cè)係統要(yào)求(qiú)：

太(tài)陽能(néng)電池規(guī)範

IEC61646(薄膜(mó)太陽能(néng))

IEC61215(晶圓太陽能)

UL1703(晶(jīng)圓太陽能)

IEE1513(聚光(guāng)型太(tài)陽(yáng)能)

整個測(cè)試過程(chéng)中，監測每一個(gè)模塊(kuài)內部(bù)電(diàn)連續性之儀器(qì)

熱循環(huán)，濕冷凍 熱(rè)循(xún)環，濕冷(lěng)凍 熱循(xún)環(huán)，濕冷(lěng)凍  

監測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框(kuàng)或支(zhī)撐架之間絕緣完整性

熱(rè)循(xún)環，濕冷(lěng)凍 熱循(xún)環，濕(shī)冷(lěng)凍(dòng)  

整個(gè)測試過(guò)程(chéng)中紀錄(lù)模塊(kuài)溫(wēn)度(dù)

熱(rè)循環(huán)，濕(shī)冷(lěng)凍(dòng) 熱循環 熱循(xún)環(huán)，濕冷(lěng)凍  

並監測可能產(chǎn)生(shēng)之任何開路或接地(dì)失效(測(cè)試過(guò)程中無間(jiān)歇(xiē)開路或(huò)接(jiē)地失效)。

熱循環，濕冷(lěng)凍(dòng) 熱循(xún)環 熱循(xún)環(huán)，濕冷(lěng)凍  

絕緣電阻需符合如初(chū)步量測(cè)之相同要求

熱(rè)循(xún)環(huán)，濕冷凍(dòng)，

濕熱試驗(yàn) 熱循(xún)環，濕冷凍，

濕熱試驗 熱循(xún)環(huán)，濕冷凍 熱循(xún)環，濕冷(lěng)凍，

濕熱(rè)試(shì)驗

施(shī)加電流等於(yú)測試(shì)模塊之(zhī)STC大功率(shuài)電流±2%之儀(yí)器(50個cycle內不(bù)需(xū)通電(diàn)，模塊溫度(dù)大於(yú)25℃時(shí)才(cái)通電)

  熱循環  

測(cè)量(liáng)及紀錄(lù)模塊溫(wēn)度之儀器準(zhǔn)確(què)度±1℃

熱循環，濕(shī)冷(lěng)凍 熱(rè)循(xún)環，濕(shī)冷凍  

適用(yòng)規(guī)範(fàn)：IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試驗試驗條(tiáo)件：溫(wēn)度循(xún)環(Thermal Cycling Test)，濕冷凍(Humidity Freeze Test)

濕熱 (Damp-heat test)

量測(cè)軌道(dào)：4組太陽(yáng)能電(diàn)池(chí)(溫度*1+電壓(yā)*2+電阻(zǔ)*1)+爐(lú)內(nèi)溫(wēn)濕(shī)度(dù)

失(shī)效(xiào)判定(dìng)：設定(dìng)量測值(zhí)上下(xià)限範圍

報(bào)表：EXCEL報告(gào)

曲(qū)綫(xiàn)：18軌(guǐ)多軌曲綫(xiàn)(電(diàn)壓，電阻，表麵溫度，試驗爐(lú)溫濕度(dù))

控製模(mó)式：量(liáng)測(cè)，暫(zàn)停，停止

溫度(dù)量測：熱電偶(ǒu)合

備注(zhù)：此(cǐ)係(xì)統(tǒng)不包含(hán)太(tài)陽能恒(héng)溫恒(héng)濕機(jī)，計算(suàn)機，計(jì)算機桌(zhuō)，儀(yí)器(qì)架

建(jiàn)議(yì)搭配設(shè)備：太陽能恒溫恒(héng)濕機(jī)