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產(chǎn)品特性Product characteristics

    專業(yè)儀器(qì)設備與(yǔ)測(cè)試(shì)方(fāng)案供應商——上海(hǎi)堅(jiān)融實業(yè)有(yǒu)限公(gōng)司(sī)JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(yǒu)（上海）測量(liáng)儀(yí)器有(yǒu)限(xiàn)公司JETYOO INSTRUMENTS，由原(yuán)安捷(jié)倫Agilent技術工程師(shī)——堅(jiān)JET和(hé)泰(tài)克(kè)Tektronix用戶(hù)工程(chéng)師(shī)——融(róng)YOO於(yú)2011年共同創立，誌在(zài)破(pò)舊立(lì)新(xīn)！*測(cè)試測量(liáng)行業(yè)代(dài)理經銷(xiāo)商(shāng)隻(zhī)專(zhuān)業(yè)做(zuò)商務(wù)銷售(shòu)，不(bù)專(zhuān)業做(zuò)售前(qián)測試方(fāng)案(àn)，不(bù)專業(yè)做售後使(shǐ)用培訓的(dí)空(kōng)白。我們的技術銷售工(gōng)程師(shī)均(jūn)為本科以上學歷，且(qiě)均有(yǒu)10年以上(shàng)儀(yí)器行(háng)業(yè)工作(zuò)經驗(yàn)，專業(yè)為(wéi)中國(guó)區(qū)用(yòng)戶(hù)提供(gōng)儀(yí)器(qì)設(shè)備(bèi)，測(cè)試方案，技術培訓，維(wéi)修(xiū)服務，為(wéi)上(shàng)海華東(dōng)地(dì)區(qū)一家以(yǐ)技術(shù)為導(dǎo)向(xiàng)的儀器設(shè)備(bèi)綜合服(fú)務商。

慶(qìng)聲KSON光(guāng)伏(fú)太陽(yáng)能恒溫(wēn)恒濕(shī)試驗箱(KSON for the Solar Market)

        太陽能電(diàn)池(chí)模(mó)塊的設計(jì)使(shǐ)用(yòng)年限(xiàn)大約是20～30年，而(ér)可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽(yáng)光電(diàn)模塊(晶(jīng)矽，非晶(jīng)矽(guī)，薄膜(mó)，聚光(guāng)型)的(dí)設(shè)計驗(yàn)證，讓模(mó)塊(kuài)能(néng)夠在(zài)一般氣候下長(cháng)期操作20年(nián)以上，規範要(yào)求太陽(yáng)能(néng)電池(chí)需進行：Thermal cycle test(溫度循(xún)環測(cè)試(shì))，Humidity-freeze test(濕冷(lěng)凍測(cè)試)，Damp Heat(濕熱(rè)測(cè)試)，以確認太(tài)陽能電池(chí)能夠(gòu)承(chéng)受高溫高(gāo)濕(shī)之(zhī)後隨(suí)級的(dí)零下(xià)溫度(dù)影響，以(yǐ)及(jí)對於溫度重復變化(huà)時引起(qǐ)的(dí)疲勞和熱失效，另外(wài)確(què)定(dìng)太陽能電池能(néng)夠(gòu)抵抗(kàng)濕氣(qì)長期(qī)滲透之能力，其(qí)試驗設備設(shè)計與能力需(xū)滿(mǎn)足(zú)相(xiāng)關(guān)規(guī)範：(IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 ) 的要求才(cái)行。

慶(qìng)聲(shēng)KSON光(guāng)伏(fú)太陽(yáng)能(néng)恒溫(wēn)恒(héng)濕試驗箱(xiāng)產品特色：

a.支持太(tài)陽能(néng)電池進(jìn)行測試中量測要求(qiú)(太(tài)陽(yáng)能(néng)電池開路量測係統(tǒng))

b.具備(bèi)太陽能電(diàn)池試(shì)驗(yàn)整(zhěng)合(hé)能力與(yǔ)通訊(xùn)命(mìng)令(líng)(Labview，VB，VC，C++，RS232)

c.節能減(jiǎn)碳省(shěng)電(diàn)設(shè)計(jì)

規(guī)範(fàn)要求：

a.於模塊測試期間減(jiǎn)少(shǎo)凝(níng)結於表麵(miàn)上

b.櫃內頂端不得(dé)有凝結(jié)水滴在(zài)試(shì)件上

c.可(kě)時間設(shè)定電(diàn)源時序開關(guān)控製(zhì)(滿(mǎn)足(zú)IEC61215 ，IEC62108 要求)

專li&認證：

a.恒溫恒濕(shī)機(jī)防止結露

d.通過(guò)EMC防電(diàn)磁波幹(gān)擾(rǎo)

 c.專(zhuān)li設計(jì)太(tài)陽能(néng)放置治具

 安全(quán)保(bǎo)護：

a.試驗結(jié)束(shù)待(dài)測品回(huí)常溫保(bǎo)護(hù)機製

b.試(shì)驗機(jī)台(tái)具(jù)備35點(diǎn)內外安(ān)全(quán)保護(hù)偵測(內(nèi)部14點(diǎn)，外(wài)部31點)

世界(jiè)shou創(chuàng)：

a.斜率(shuài)段＆恒(héng)溫段(duàn)同步(bù)溫濕度設定

b.完整實時試驗(yàn)曲(qū)綫(xiàn)分析顯(xiǎn)示(shì)，無時間(jiān)限製

c.試(shì)驗結束(shù)待測品(pǐn)回常溫(wēn)保護機(jī)製(zhì)

 控製(zhì)器創新：

a.動(dòng)態實(shí)時(shí)變(biàn)化(huà)程(chéng)序(xù)編(biān)輯(jí)曲綫

b.溫濕度設定條件防呆(dāi)保(bǎo)護

c.機台重新(xīn)來電(diàn)試(shì)驗曲綫(xiàn)不中斷

 d.符合聯(lián)想計(jì)算(suàn)機的Labview控(kòng)製命令

e.AI(人工(gōng)智(zhì)能(néng))+Fuzzy(模糊控(kòng)製)技術(shù)

f.繁簡體中文，英(yīng)文(wén)三種畫麵語係(xì)切換

高(gāo)相(xiāng)關規範(fàn)資料(liào)介紹：

矽(guī)晶太陽(yáng)能:IEC61215，UL1703 ，GB9535

薄(báo)膜(mó)太(tài)陽能(néng):IEC61646，GB18911

聚光太(tài)陽(yáng)能:IEC62108 ，IEEE1513

※相關試驗後皆須進行(háng)規範(fàn)所(suǒ)要求(qiú)的檢查項(xiàng)目(mù)(外觀(guān)，絕緣(yuán)電阻，大(dà)輸(shū)出功率)

Thermal cycle test(溫度(dù)循環(huán)測(cè)試)

目的：確定(dìng)組(zǔ)件於(yú)溫度(dù)重復變(biàn)化時,引(yǐn)起的疲勞(láo)和其它應(yīng)力的熱(rè)失(shī)效。

溫(wēn)度循環比較

低(dī)溫

高溫(wēn)

溫變率(shuài)

駐留時間

循環數(shù)

IEC61215

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50，200

GB9535

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少(shǎo)10min

50，200

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50，200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少(shǎo)10min

50，200

UL1703

-40±2℃

90±2℃

大(dà)120℃/h

30～105min

200

IEC62108

-40±2℃

65℃，85℃，110℃

10cycle/day

10min

500，1000，2000

IEC62108

-40℃

65℃，85℃，110℃

18cycle/day

10min

500，1000，2000

IEEE1513

-40℃

90℃，110℃

0.9～7.5℃/min

少10min

250，500

IEEE1513

-40℃

90℃，110℃

大100℃/h

少10min

100，200

IEEE1513

-40℃

60℃，90℃

大100℃/h

少10min

50，200

Humidity-freeze test(濕(shī)冷(lěng)凍測試)

目的：確定組件承(chéng)受高溫，高濕之(zhī)後(hòu)以(yǐ)及隨後的零下溫度(dù)影(yǐng)響的能力。

溫(wēn)度循環比較(jiào)

高溫高濕

低溫(wēn)

溫(wēn)變(biàn)率

循(xún)環數(shù)

IEC61215

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gāo)溫(wēn)升(shēng)降(jiàng)溫(wēn)(100℃/h)

低(dī)溫升(shēng)降溫(200℃/h)

10

GB9535

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wēn)升降溫(100℃/h)

低(dī)溫(wēn)升降溫(wēn)(200℃/h)

10

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gāo)溫升降溫(100℃/h)

低(dī)溫(wēn)升降溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gāo)溫(wēn)升降溫(wēn)(100℃/h)

低(dī)溫升降溫(200℃/h)

10

UL1703

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降(jiàng)溫(120℃/h)

低溫升(shēng)降溫(wēn)(200℃/h)

10

IEEE1513

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升(shēng)降溫(wēn)(100℃/h)

低(dī)溫(wēn)升降溫(200℃/h)

20

IEC62108

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高(gāo)溫升降(jiàng)溫(100℃/h)

低溫升降(jiàng)溫(wēn)(200℃/h)

20，40

Damp Heat(濕(shī)熱測(cè)試(shì))

85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h ，目(mù)的：確定模塊抵(dǐ)抗濕氣長(cháng)期(qī)滲透之能力。

 直立式(shì)觸控式(shì)控製(zhì)係(xì)統(tǒng)

 控(kòng)製(zhì)係統通過EMC(電(diàn)磁(cí)兼容性(xìng))驗證

  直立式全(quán)彩液晶TFT,簡/繁/英(yīng)文顯(xiǎn)示器

  9999 HOURS / STEP 每段可(kě)控(kòng)製時間

  150 program x 100 step 程序記憶(yì)容量(liáng)

  USB2.0儲存(cún)接(jiē)口(kǒu)與(yǔ)曲(qū)綫記錄(lù) 

  12 bit D/A 溫度濕(shī)度(dù)轉(zhuǎn)換接口

  全(quán)自動(dòng)控製與安(ān)全保(bǎo)護(hù)協調係統(tǒng)

  High power LED運轉狀態指示燈(dēng) 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈(dēng) 

太(tài)陽(yáng)能(néng)電池開路量測檢(jiǎn)測(cè)係(xì)統

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太(tài)陽(yáng)能(néng)電(diàn)池在可靠度測試中必須要進規範(fàn)所(suǒ)提到(dào)的(dí)濕冷凍，溫(wēn)度循環(huán)，濕熱(rè)試驗..等試(shì)驗，確認太陽能電池在試驗過程當(dāng)中(zhōng)是否發(fā)生故(gù)障或是(shì)失效，透過開路測試係統可(kě)以進行(háng)簡(jiǎn)易的太(tài)陽能電(diàn)池失(shī)效判定(dìng)。

IEC61646，IEC61215，UL1703，IEEE1513規範對(duì)試驗中量(liáng)測(cè)係(xì)統要求(qiú)：

太陽能電池規範

IEC61646(薄膜太陽(yáng)能(néng))

IEC61215(晶圓太(tài)陽(yáng)能(néng))

UL1703(晶圓太陽能(néng))

IEE1513(聚(jù)光(guāng)型太陽能)

整(zhěng)個(gè)測試過(guò)程(chéng)中，監測(cè)每一個模塊內部(bù)電(diàn)連(lián)續性之(zhī)儀(yí)器(qì)

熱(rè)循環，濕(shī)冷(lěng)凍(dòng) 熱循(xún)環(huán)，濕(shī)冷(lěng)凍 熱循(xún)環(huán)，濕冷凍(dòng)  

監(jiān)測(cè)每一(yī)個模塊(kuài)之一個(gè)隱現端和邊框或支撐(chēng)架(jià)之間絕(jué)緣(yuán)完(wán)整性

熱(rè)循環(huán)，濕冷凍(dòng) 熱(rè)循環，濕(shī)冷凍  

整(zhěng)個測(cè)試過(guò)程(chéng)中紀錄(lù)模塊(kuài)溫度(dù)

熱循(xún)環，濕(shī)冷凍(dòng) 熱循環 熱循環，濕冷凍  

並(bìng)監測可(kě)能產生之(zhī)任何(hé)開路(lù)或接地(dì)失效(測試(shì)過程中(zhōng)無間(jiān)歇(xiē)開路(lù)或接(jiē)地失效)。

熱循環，濕冷(lěng)凍(dòng) 熱循環 熱循(xún)環，濕冷(lěng)凍(dòng)  

絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻需符合如(rú)初步量測(cè)之(zhī)相同要求(qiú)

熱循(xún)環(huán)，濕(shī)冷(lěng)凍(dòng)，

濕(shī)熱試驗(yàn) 熱(rè)循環(huán)，濕冷凍(dòng)，

濕熱試驗(yàn) 熱(rè)循環(huán)，濕冷凍(dòng) 熱循(xún)環，濕冷(lěng)凍，

濕(shī)熱試驗(yàn)

施加電(diàn)流等於測試(shì)模塊之STC大功(gōng)率電(diàn)流±2%之(zhī)儀器(50個cycle內(nèi)不需通(tōng)電(diàn)，模(mó)塊溫度大於25℃時(shí)才(cái)通電(diàn))

  熱(rè)循(xún)環  

測量及紀錄(lù)模(mó)塊溫度之儀器(qì)準確(què)度±1℃

熱循環(huán)，濕冷(lěng)凍 熱循環(huán)，濕冷(lěng)凍  

適用(yòng)規(guī)範：IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試(shì)驗試驗條(tiáo)件：溫度循環(Thermal Cycling Test)，濕冷凍(dòng)(Humidity Freeze Test)

濕熱 (Damp-heat test)

量測(cè)軌道：4組(zǔ)太陽(yáng)能(néng)電(diàn)池(chí)(溫(wēn)度*1+電壓*2+電阻*1)+爐(lú)內溫濕度

失(shī)效判(pàn)定(dìng)：設定(dìng)量(liáng)測值上(shàng)下限(xiàn)範圍(wéi)

報(bào)表：EXCEL報告

曲綫(xiàn)：18軌(guǐ)多軌(guǐ)曲(qū)綫(xiàn)(電壓(yā)，電阻，表(biǎo)麵溫度，試(shì)驗爐(lú)溫濕度(dù))

控(kòng)製模式(shì)：量測(cè)，暫(zàn)停(tíng)，停止

溫度(dù)量測(cè)：熱電偶(ǒu)合(hé)

備注：此係(xì)統不(bù)包(bāo)含太陽能恒溫恒濕機(jī)，計(jì)算機(jī)，計算機(jī)桌，儀(yí)器架

建議(yì)搭配(pèi)設(shè)備(bèi)：太(tài)陽(yáng)能恒(héng)溫(wēn)恒(héng)濕(shī)機(jī)

慶聲KSON薄(báo)膜太陽(yáng)能(néng)電池溫循濕(shī)冷凍試(shì)驗機(jī)  

    薄膜太(tài)陽(yáng)電池(chí)可(kě)以使(shǐ)用(yòng)在(zài)價格低廉的玻(bō)璃，塑(sù)料(liào)，陶瓷(cí)，石墨(mò)，金屬(shǔ)片等不同材(cái)料當基板(bǎn)來製造(zào)，薄(báo)膜太(tài)陽電池在(zài)溫度循環，濕冷凍(dòng)，濕熱(rè)試驗中的量測(cè)及電壓輸入的方式，與(yǔ)晶(jīng)圓型(xíng)是不一(yī)樣的所(suǒ)以(yǐ)量測方式(shì)也(yě)所(suǒ)有不同(tóng)，是(shì)不(bù)可(kě)以(yǐ)混(hùn)淆的，薄(báo)膜型太陽能電池所(suǒ)依(yī)據的試(shì)驗(yàn)規範為IEC 61646，IEC 61215，UL1703，GB9535，GB18911..等。

形成(chéng)可(kě)產生(shēng)電壓的薄膜厚(hòu)度(dù)僅(jǐn)需數μm，因此(cǐ)在同一受光(guāng)麵積之下可較(jiào)矽(guī)晶(jīng)圓太陽(yáng)能(néng)電池(chí)大(dà)幅(fú)減(jiǎn)少原(yuán)料的(dí)用(yòng)量(liáng)(厚(hòu)度(dù)可低(dī)於矽(guī)晶(jīng)圓太陽能電(diàn)池90%以上)，目(mù)前轉(zhuǎn)換效率高(gāo)以可達13%，薄(báo)膜(mó)電池太陽(yáng)電池除了(liǎo)平麵之(zhī)外，也因為(wéi)具有可撓(náo)性可以(yǐ)製作(zuò)成非平(píng)麵(miàn)構(gòu)造其(qí)應(yīng)用範圍大，可與建(jiàn)築(zhù)物結(jié)合(hé)或是變成建築體的一部(bù)份(fèn)，在薄膜太陽電(diàn)池製造(zào)上(shàng)，則(zé)可(kě)使(shǐ)用各(gè)式各(gè)樣(yàng)的(dí)沈(shěn)積(jī)(deposition)技術，一層又一層(céng)地(dì)把(bǎ)p-型或(huò)n-型材料長上去，常(cháng)見(jiàn)的薄膜(mó)太陽電池有非晶矽(guī)，CuInSe2 (CIS)，CuInGaSe2 (CIGS)，和CdTe..等。

慶聲KSON薄膜太(tài)陽能電池溫循濕(shī)冷凍試(shì)驗(yàn)機 產(chǎn)品(pǐn)特(tè)色(sè)：

a.符合IEC61646-10.11，GB18911-10.11，CNS15115-10.11熱(rè)循環，濕冷凍(dòng)，濕熱(rè)規範當中(zhōng)的試驗要(yào)求

b.試(shì)驗過(guò)程(chéng)進(jìn)行(háng)相(xiāng)關電(diàn)性與物(wù)理(lǐ)量量測

c.櫃內(nèi)頂(dǐng)端(duān)不得有凝結水滴在(zài)試件上(shàng)

d.專(zhuān)li設計(jì)太陽能(néng)放置治(zhì)具

e.試(shì)驗(yàn)結束(shù)待(dài)測品(pǐn)回常(cháng)溫保護機(jī)製

目(mù)的：確(què)定組件(jiàn)於溫(wēn)度重復變化(huà)時(shí),引(yǐn)起的疲勞和其(qí)它(tā)應(yīng)力的熱(rè)失效(xiào)。

要(yào)求：

1.整個測試過程(chéng)中紀錄模(mó)塊(kuài)溫度(dù)，測(cè)量(liáng)及紀(jì)錄模塊(kuài)溫(wēn)度(dù)之儀器(qì)準(zhǔn)確度(dù)±1℃

2.整(zhěng)個測(cè)試過(guò)程(chéng)中，監測每(měi)一(yī)個模(mó)塊(kuài)內部電連續性之(zhī)儀(yí)器(qì)

3.監測(cè)每一個模(mó)塊(kuài)之一個隱現端和邊(biān)框或支撐架之間(jiān)絕緣完整(zhěng)性(xìng)之(zhī)儀器(qì)

4.監測可(kě)能產生(shēng)之(zhī)任何(hé)開路或(huò)接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇(xiē)開(kāi)路或接地(dì)失效)。

慶聲(shēng)KSON薄膜(mó)太(tài)陽能電池溫循濕冷凍試驗機(jī) 參數指(zhǐ)標

溫度循環(huán)比較

低溫

高溫

溫變率(shuài)

駐(zhù)留(liú)時間

循(xún)環(huán)數(shù)

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大(dà)100℃/h

少10min

50，200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少(shǎo)10min

50，200

CNS15115

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50，200

Humidity-freeze test(濕(shī)冷凍測(cè)試)

目的：確定(dìng)組件承受(shòu)高(gāo)溫，高濕之後(hòu)以及隨後的零(líng)下溫度影(yǐng)響(xiǎng)的(dí)能力(lì)。

要求(qiú)：

1.整(zhěng)個測(cè)試過程中(zhōng)紀錄模塊溫(wēn)度，測量及紀錄模塊(kuài)溫(wēn)度之儀(yí)器(qì)準(zhǔn)確度±1℃

2.整個測試過程(chéng)中，監測每(měi)一個模塊內(nèi)部(bù)電(diàn)連續性(xìng)之儀(yí)器(qì)

3.監測(cè)每一(yī)個模塊之(zhī)一個(gè)隱現端和(hé)邊(biān)框或(huò)支(zhī)撐(chēng)架之(zhī)間絕緣(yuán)完整(zhěng)性(xìng)之(zhī)儀器(qì)

4. 監測可(kě)能產生之(zhī)任(rèn)何(hé)開(kāi)路(lù)或(huò)接(jiē)地失效(xiào)(測試(shì)過(guò)程中(zhōng)無間歇(xiē)開路(lù)或接地失(shī)效)。

溫度循環比(bǐ)較(jiào)

高溫高(gāo)濕

低溫(wēn)

溫(wēn)變率(shuài)

循環數

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升(shēng)降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wēn)升(shēng)降(jiàng)溫(100℃/h)

低(dī)溫升降溫(200℃/h)

10

CNS15115

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫(wēn)升降(jiàng)溫(100℃/h)

低(dī)溫升降溫(wēn)(200℃/h)

10

Damp Heat(濕(shī)熱(rè)測(cè)試)

目的(dí)：確定模塊抵(dǐ)抗濕(shī)氣(qì)長期(qī)滲透(tòu)之能力。

試驗條(tiáo)件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13，GB18911-10.13，CNS15115-10.13)

  直(zhí)立式觸控式控製係(xì)統

 控製係統(tǒng)通(tōng)過EMC(電(diàn)磁兼(jiān)容性(xìng))驗證(zhèng)

  直(zhí)立(lì)式全(quán)彩(cǎi)液(yè)晶TFT,簡/繁(fán)/英(yīng)文顯(xiǎn)示(shì)器

  9999 HOURS / STEP 每段可(kě)控製(zhì)時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記(jì)憶容量(liáng)

  USB2.0儲(chǔ)存接口與(yǔ)曲綫記錄(lù) 

  12 bit D/A 溫度濕(shī)度轉換接口(kǒu)

  全自動(dòng)控(kòng)製(zhì)與安全保(bǎo)護協調係統(tǒng)

  High power LED運轉(zhuǎn)狀態指示燈 

  Index 運轉(zhuǎn)狀(zhuàng)態指示燈