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產品(pǐn)特性Product characteristics

專業(yè)儀器設(shè)備(bèi)與測試(shì)方案供應(yīng)商(shāng)——上(shàng)海堅融實業有限公(gōng)司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(yǒu)（上海）測量儀器(qì)有限公(gōng)司(sī)JETYOO INSTRUMENTS，為原(yuán)安捷(jié)倫Agilent【現是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經理-堅JET與(yǔ)吉(jí)時(shí)利(lì)KEITHLEY【現泰(tài)克Tektronix】品牌產品(pǐn)經(jīng)理(lǐ)-融YOO共(gòng)同創(chuàng)辦(bàn)，專(zhuān)注工業測試(shì)領域(yù)十六年(nián)，一家(jiā)致(zhì)力於(yú)為(wéi)祖國(guó)用戶提供儀器(qì)設備(bèi)，測試方(fāng)案，技術培訓(xùn)，維修(xiū)計量全麵服務的儀(yí)器(qì)設備(bèi)綜合服務商。

上(shàng)海蘇(sū)州南京(jīng)常州杭州寧(níng)波(bō)嘉興(xīng)介電(diàn)常數測(cè)試(shì)

主機：TH2839阻抗分析儀(yí)/LCR數字(zì)電橋

夾(jiā)具：TH26077介(jiè)電(diàn)測(cè)試(shì)夾(jiā)具

上位機軟件(jiàn)：介(jiè)電(diàn)分(fēn)析軟件

材(cái)料如(rú)果在受到外(wài)部電場作(zuò)用(yòng)時(shí)能(néng)夠(gòu)儲存電能，就稱(chēng)為 "電介(jiè)質"。當給(gěi)平行板電容(róng)器(qì)施加直(zhí)流(liú)電壓時，如(rú)果(guǒ)兩板(bǎn)之(zhī)間存在介電材料，那麼可(kě)以儲存比(bǐ)沒(méi)有介電材料(liào) (真空) 時更多的(dí)電(diàn)荷。介(jiè)電材料(liào)可以(yǐ)通過中和電(diàn)極上(shàng)的電(diàn)荷，使(shǐ)電容器(qì)儲存(cún)更多電荷(hé)，而(ér)通常情(qíng)況(kuàng)下，這(zhè)些(xiē)電荷將流(liú)向外(wài)部電(diàn)場(cháng)。介電(diàn)材料的電(diàn)容與介電(diàn)常數(shù)有(yǒu)關(guān)。當在(zài)平行板電(diàn)容器上(shàng)並聯(lián)直流電壓源(yuán) v 時(shí) (圖 1)，兩板之間有(yǒu)介電(diàn)材料的(dí)配(pèi)置可以(yǐ)比沒有介(jiè)電(diàn)材料(liào) (真(zhēn)空(kōng)) 的配(pèi)置(zhì)儲存更多的(dí)電(diàn)荷。

其中，C 和 C0 分(fēn)別是有和沒有電介質時的(dí)電容(róng)；k' = ε'r 是實(shí)際(jì)介電常數或(huò)介(jiè)電常數，A 和 t 分(fēn)別是電(diàn)容(róng)器平(píng)板(bǎn)的麵(miàn)積和間(jiān)距(jù) (圖(tú) 1)。介(jiè)電(diàn)材(cái)料(liào)可以通(tōng)過中和電極上的(dí)電荷(hé)，使電(diàn)容器(qì)儲(chǔ)存(cún)更多電荷，而通(tōng)常情況下，這(zhè)些電荷(hé)將流向外(wài)部電場(cháng)。根(gēn)據(jù)上麵的(dí)方程(chéng)式(shì)可知，介電材(cái)料的(dí)電(diàn)容(róng)與(yǔ)介(jiè)電(diàn)常(cháng)數有關

如果在(zài)同(tóng)一個電容(róng)器(qì)上並聯(lián)交流(liú)正弦(xián)電壓(yā)源 (圖 2)，得到的電流將包(bāo)括(kuò)充(chōng)電(diàn)電(diàn)流 I_C 和(hé)與(yǔ)介(jiè)電(diàn)常(cháng)數有(yǒu)關的損(sǔn)耗(hào)電流 I_I 。材料中(zhōng)的損(sǔn)耗可以用與電容器 (C) 並(bìng)聯(lián)的電導 (G) 表示。

復數介(jiè)電常數(shù) 𝑘 由實部(bù)𝑘^𝐼 (表示儲存(cún)電(diàn)荷) 和虛(xū)部(bù)𝑘^𝐼𝐼 (表示損耗電荷(hé)) 組成(chéng)。

下麵(miàn)的(dí)符號可(kě)以互(hù)換表(biǎo)示(shì)復數(shù)介(jiè)電常數(shù)

𝑘=𝑘^∗=𝜀𝑟=𝜀^∗ 𝑟  。

根(gēn)據(jù)電磁理論，電位(wèi)移 (電通量(liáng)密(mì)度) 𝐷_𝑓的(dí)定(dìng)義(yì)是(shì):  

𝐷_𝑓=𝜖𝐸

其中，𝜀=𝜀^∗=𝜀_0 𝜀_𝑟是(shì)絕(jué)對(duì)介電常(cháng)數， 𝜀_𝑟是相(xiāng)對介(jiè)電常數,𝜀_0≈1/36𝜋×10^(−9)是(shì)自由(yóu)空(kōng)間介電(diàn)常(cháng)數，E 是(shì)電場。

介電常(cháng)數描述(shù)的(dí)是材料(liào)與(yǔ)電(diàn)場 E 的相互(hù)作(zuò)用，是(shì)一(yī)個(gè)復數。

𝑘=𝜀/𝜀_0 =𝜀_𝑟=𝜀_𝑟−𝑗〖𝜀_𝑟〗^"

     介電常數 (k) 等(děng)於(yú)相對介(jiè)電常數(shù) (𝜀_𝑟 )，或絕(jué)對介電常數 ( 𝜀 )與自由空間(jiān)介(jiè)電常數 (𝜀_0) 之比。介電常數的實部(bù) ( 𝜀_r^′) 表示外部(bù)電(diàn)場有多少電能儲(chǔ)存到(dào)材料(liào)中(zhōng)。介(jiè)電(diàn)常(cháng)數(shù)的虛(xū)部 (𝜀_𝑟^" ) 稱為損耗(hào)因子，表(biǎo)示材料(liào)中(zhōng)有多少電能(néng)耗散到外(wài)部電(diàn)場(cháng)。介電常(cháng)數(shù)的(dí)虛部 (𝜀_𝑟^" ) 始(shǐ)終大(dà)於(yú) 0，通(tōng)常遠遠(yuǎn)小於(yú) (𝜀_r^′ )。損(sǔn)耗因(yīn)子同(tóng)時包括電介(jiè)質損(sǔn)耗和電導率(shuài)的(dí)效應(yīng)。

     如(rú)果用簡單的矢量圖 (圖(tú) 3) 表示復(fù)數介(jiè)電常數，實部(bù)和虛(xū)部的(dí)相位將會(huì)相差 90°。其矢(shǐ)量(liáng)和與(yǔ)實軸( 𝜀_r^′ ) 形成(chéng)夾(jiā)角δ 。材(cái)料的相(xiāng)對(duì) "損(sǔn)耗(hào)" 等(děng)於損耗電(diàn)量(liáng)與儲(chǔ)存電(diàn)量的比值。

損耗正切或(huò) 𝑡𝑎𝑛𝛿定義為介(jiè)電常數(shù)的(dí)虛部與實部之比。 D 表(biǎo)示耗散因子(zǐ)， Q 表示(shì)品(pǐn)質因數(shù)。 損耗(hào)正(zhèng)切𝑡𝑎𝑛𝛿可以讀成(chéng)tan delta， 損耗正(zhèng)切角或耗(hào)散(sàn)因(yīn)子。 有時， "品(pǐn)質因數或(huò)Q因數(shù)" 也用來(lái)描述(shù)電子(zǐ)微波材(cái)料(liào)的特性(xìng)， 等於損(sǔn)耗正切(qiē)的倒數(shù)。 對於(yú)損耗非(fēi)常低的材料(liào)，  𝑡𝑎𝑛𝛿≈𝛿， 所以損(sǔn)耗(hào)正(zhèng)切可以用角(jiǎo)度單位毫(háo)弧度(dù)或(huò)微(wēi)弧度來表示(shì)。

上海(hǎi)蘇(sū)州(zhōu)南京常(cháng)州(zhōu)杭(háng)州(zhōu)寧波嘉(jiā)興介(jiè)電常數(shù)測試(shì)應(yīng)用領域

無源元件：

電容(róng)器(qì)，電感器，磁芯(xīn)，電(diàn)阻器(qì)，壓(yā)電(diàn)器(qì)件，變壓(yā)器(qì)，芯片(piàn)組件和網絡元件等(děng)的阻抗參數評估和性(xìng)能(néng)分(fēn)析(xī)。

半(bàn)導(dǎo)體元件(jiàn)：

LED驅動集成電路寄(jì)生參數測試(shì)分(fēn)析；變容二極管的(dí)C-VDC特性(xìng)；晶(jīng)體(tǐ)管或(huò)集(jí)成(chéng)電(diàn)路的寄生參數分(fēn)析

其它元(yuán)件：

印(yìn)製電路(lù)板，繼(jì)電(diàn)器(qì)，開(kāi)關，電纜，電池(chí)等阻(zǔ)抗(kàng)評估

介質(zhì)材(cái)料：

塑料，陶(táo)瓷和(hé)其它(tā)材(cái)料的(dí)介電(diàn)常數和(hé)損耗(hào)角(jiǎo)評估(gū)

磁(cí)性(xìng)材(cái)料：

鐵氧(yǎng)體(tǐ)，非晶體和(hé)其它(tā)磁(cí)性材料的(dí)導(dǎo)磁率(shuài)和(hé)損(sǔn)耗角評估(gū)

半導體材料(liào)：

半導體(tǐ)材料(liào)的介電(diàn)常數，導電率(shuài)和C-V特性液(yè)晶(jīng)材料：液(yè)晶單(dān)元的介(jiè)電常數，彈性常數等C-V特(tè)性

單測(cè)顯(xiǎn)示 列表掃(sǎo)描(miáo)顯示

液晶CV特(tè)性曲綫(xiàn) 頻響分析（換(huàn)能(néng)器(qì)找諧振(zhèn)點）

阻(zǔ)抗(kàng)掃(sǎo)描曲(qū)綫

Cs Rs掃描曲綫(xiàn)

A.高(gāo)精度

自(zì)動平(píng)衡電橋與普(pǔ)通(tōng)LCR電橋(qiáo)相比， 它能在(zài)更(gēng)寬的(dí)頻(pín)率(shuài)範圍(wéi)內(nèi)保證更高的頻率精(jīng)度(dù)！ 下(xià)圖以(yǐ)同(tóng)惠電橋為例(lì)， 對(duì)比了(liǎo)自動(dòng)平(píng)衡(héng)電(diàn)橋與普通(tōng)電(diàn)橋在0-10MHz頻率(shuài)範圍內的精(jīng)度差別。 目前同惠(huì)的(dí)自(zì)動平(píng)衡電橋有(yǒu)TH2839係(xì)列， TH2838係(xì)列(liè)和TH2828係(xì)列(liè)。

D.功能與界(jiè)麵

B.高(gāo)穩(wěn)定性(xìng)和高一致性 C.高(gāo)速度

功(gōng)能(néng)特點(diǎn)圖(tú)F-1 電容串聯(lián)等(děng)效模型 圖(tú)F-2 電(diàn)容器的阻抗頻率

F.選配(pèi)附(fù)件

E.材(cái)料(liào)介電(diàn)常(cháng)數測(cè)試

TH2839係(xì)列配合專(zhuān)用材(cái)料測(cè)試(shì)夾具TH26077以及(jí)上位(wèi)機軟件可(kě)方(fāng)便(biàn)， 精確(què)的(dí)測量材(cái)料在(zài)不(bù)同(tóng)頻(pín)率(shuài)下(xià)的介電(diàn)常數(shù)。

由於(yú)於自(zì)然(rán)界中不存(cún)在(zài)純淨的(dí)電容， 會(huì)包含寄(jì)生參(cān)數(shù)， 我(wǒ)們一(yī)般認(rèn)為實際電容是由本身電容 Cs， 引(yǐn)綫(xiàn)電(diàn)阻 Rs(ESR)， 引(yǐn)綫電感(gǎn) Ls (ESL)串聯(lián)構(gòu)成， 等效(xiào)電(diàn)路如圖(tú)F-1所示(shì)。

根據阻抗頻率圖大(dà)家可以看到(dào)， 在(zài)頻(pín)率(shuài)遠(yuǎn)小(xiǎo)於(yú)諧(xié)振頻率時， Ls造(zào)成(chéng)的(dí)影(yǐng)響忽(hū)略不計(jì)， 可(kě)以等效為隻(zhī)有Cs和Rs串聯。 當頻率(shuài)接(jiē)近(jìn)諧振點(diǎn)時， Ls的(dí)作用(yòng)就不能(néng)忽略不(bù)計(jì)， 對(duì)我(wǒ)們(mén)的(dí)測量結果(guǒ)影(yǐng)響(xiǎng)很大， 當頻率(shuài)遠大於諧(xié)振頻(pín)率時(shí)， Cs的作(zuò)用(yòng)降(jiàng)低， 可以(yǐ)近似(sì)認為(wéi)是Rs和Ls的(dí)串(chuàn)聯。

以前大容量電(diàn)容(róng)一般(bān)應用(yòng)在低(dī)頻領(lǐng)域， 所(suǒ)以客(kè)戶(hù)對Ls漠不(bù)關心， 隻關(guān)注(zhù)Cs， Rs， 隨著(zhuó)新(xīn)能(néng)源汽車的發展(zhǎn)， 越(yuè)來越多的(dí)大容(róng)量(liáng)電(diàn)容應(yīng)用(yòng)在新能源(yuán)裏(lǐ)麵， 實際使用的頻率越來越高(gāo)， 這時(shí)候(hòu)引綫(xiàn)電(diàn)感Ls的大小(xiǎo)直(zhí)接能影響電(diàn)容(róng)的(dí)質量評(píng)定， 所以需(xū)要精確測量(liáng)。

客戶(hù)測試(shì)大電容的(dí)常(cháng)見方法(fǎ)一般(bān)有兩種：

高低頻測(cè)試(shì)法： 先用低(dī)頻去測試(shì)Cs， Rs， 然(rán)後用高頻測試(shì)Ls， Rs。 這種測試(shì)方法(fǎ)要求高低(dī)兩(liǎng)種(zhǒng)測(cè)試頻率(shuài)必須(xū)遠離諧振點(diǎn)，才能降低Ls， Cs造(zào)成的誤差(chà)影響(xiǎng)。 所以(yǐ)經常(cháng)有客(kè)戶用(yòng)1MHz去測試大(dà)電容來得到Ls值， 但是因為(wéi)Cs的存在， 同時1MHz這個頻率

離(lí)諧振點並(bìng)不(bù)足夠(gòu)遠， 所以這(zhè)種(zhǒng)方法測(cè)試得到的Cs， Ls這兩個值都(dū)隻能算(suàn)是近似值， 精度(dù)有限(xiàn)。

諧振法(fǎ)： 根(gēn)據阻(zǔ)抗(kàng)頻率圖(tú)大(dà)家可(kě)以看到(dào)大電容的諧振點阻抗(kàng)低， 所以用(yòng)掃(sǎo)頻(pín)儀產生信號源， 同時(shí)測(cè)試電容(róng)的阻抗， 尋(xún)找諧(xié)振(zhèn)點， 然(rán)後(hòu)通過(guò)計(jì)算(suàn)就能算(suàn)出Cs和Ls。

若上述兩種(zhǒng)方(fāng)法(fǎ)仍無法滿足客(kè)戶測(cè)試需(xū)求(qiú)， 建議采用(yòng)同惠TH2638A雙頻(pín)測試方(fāng)案(àn)來測(cè)試大電(diàn)容， 其測試(shì)準(zhǔn)確度與(yǔ)速度(dù)遠遠(yuǎn)高(gāo)於上(shàng)述(shù)兩種方法(fǎ)。

引(yǐn)綫(xiàn)電(diàn)阻(zǔ)R 引(yǐn)綫(xiàn)電感(gǎn)Ls

Cs Rs Ls文(wén)件保存：

硬件連接(jiē)方(fāng)式(shì)： RS232C， USB， GPIB， LAN

數(shù)據圖像保存格式： TXT， XLS， MDB， CSV， BMP， JPG， PNG

其(qí)它功能： 自(zì)動(dòng)記(jì)錄， 設置文(wén)件(jiàn)保(bǎo)存(cún)， 用(yòng)戶管理等

保存格式 單次自動保(bǎo)存 列表(biǎo)自(zì)動保存(cún)結(jié)果

單次 列表(biǎo) 掃描(miáo)

G.選配(pèi)附(fù)件

H.上位(wèi)機(jī)軟件

1).通(tōng)用上位機軟件(jiàn)

測試(shì)方(fāng)式(shì)：

·工(gōng)作(zuò)頻率： DC-40 MHz

·最(zuì)大(dà)偏置(zhì)： ±42 V

·應用： SMD器件， 尤其高(gāo)頻(pín)小電容≤3pF或(huò)小(xiǎo)電(diàn)感(gǎn)≤1µH， 測試(shì)頻率≥100kHz,且對D和Q要求(qiú)高的器(qì)件(jiàn)

·工作(zuò)頻率(shuài)： DC-120MHz

·最大直流(liú)偏置(zhì): ±42V

·應用： 小(xiǎo)型(xíng)磁環(huán)單(dān)匝電感(gǎn)量測(cè)試(shì)， 尺寸大(dà)小(xiǎo)可定(dìng)製

·工作頻率(shuài): DC-100kHz

·最大(dà)直(zhí)流偏(piān)置： ±42V

·應(yīng)用： 測(cè)試(shì)螺(luó)栓電容器(qì)，DC_LINK電(diàn)容(róng)

·工(gōng)作(zuò)頻(pín)率： DC-120 MHz

·最大(dà)直流偏置: ±42 V

·應(yīng)用(yòng)： 用於導(dǎo)綫(xiàn)類器(qì)件(jiàn)的(dí)阻抗測(cè)試(shì)， 帶(dài)屏蔽(bì)接(jiē)地(dì)端

·工(gōng)作頻(pín)率(shuài)： DC-120MHz

·最大(dà)直流偏置: ±42V

·應用： SMD 器(qì)件， 尤其高(gāo)頻小電(diàn)容≤3pF或小(xiǎo)電感(gǎn)≤1µH。 測試(shì) 頻(pín)率≥100kHz

·工作頻(pín)率(shuài)： DC-15MHz

·最大直(zhí)流(liú)偏(piān)置： ±42V

·應用： 用於各(gè)種 SMD 器(qì)件測試(shì)

·工作頻率(shuài): DC-100kHz

·最大(dà)直流(liú)偏(piān)置： ±42V

·應用： 測試(shì)電動汽車(chē)用薄(báo)膜大容(róng)量(liáng)DC_LINK電(diàn)容(róng)

·工作頻率： DC-120 MHz

·DUT尺(chǐ)寸(cùn)： 10mm – 56mm

·DUT厚(hòu)度： ≤10mm

·應用： 固體材(cái)料的介電分析

·工作(zuò)頻率： DC-13 MHz

·最大直流(liú)偏(piān)置： ±42 V

·應(yīng)用： 用(yòng)於(yú)各種直(zhí)插式軸向(xiàng)和徑(jìng)

向阻抗器件(jiàn)2).壓(yā)電(diàn)陶(táo)瓷(cí)上位機(jī)軟(ruǎn)件

3).阻(zǔ)抗(kàng)分(fēn)析軟件(jiàn)（等效電(diàn)路分析(xī)軟件(jiàn)）

分(fēn)析(xī)設(shè)置(zhì)：

現(xiàn)實(shí)生活(huó)中不同(tóng)類(lèi)型的器件(jiàn)可(kě)以(yǐ)被(bèi)等(děng)效成(chéng)簡單的3-4個器(qì)件組(zǔ)成(chéng)的(dí)電路模(mó)型。 阻(zǔ)抗分析(xī)儀(yí)上位(wèi)機(jī)提供了(liǎo)7種基本的電(diàn)路(lù)模型用(yòng)於等(děng)效這些(xiē)器件(jiàn)。 本軟件還(huán)提供了自動匹(pǐ)配功能(néng)， 即如果被測件為黑盒(hé)時(shí)， 本(běn)軟(ruǎn)件(jiàn)自動(dòng)匹(pǐ)配與(yǔ)符合的模(mó)型(xíng)並進行參數的計算。 您(nín)可以(yǐ)通(tōng)過(guò)仿真的等效電(diàn)路(lù)參數值的阻抗擬(nǐ)合曲(qū)綫(xiàn)與(yǔ)實際(jì)測量(liáng)的(dí)阻(zǔ)抗曲(qū)綫(xiàn)進行對比(bǐ)， 還(huán)可以通(tōng)過(guò)您(nín)輸入的參(cān)數(shù)按(àn)照(zhào)您選(xuǎn)擇的模型進行(háng)擬合。 此功(gōng)能(néng)等效的電路(lù)模型可(kě)以(yǐ)直(zhí)接輸出成TXT文檔方便用(yòng)戶(hù)保(bǎo)存(cún)使用(yòng)。

分析結果：

主(zhǔ)要(yào)參(cān)數(shù)圖

圖(tú)一：計(jì)算中(zhōng) 圖(tú)二：擬(nǐ)合完成 圖(tú)二：擬合(hé)完(wán)成

主副參(cān)數(shù)（導(dǎo)納圓(yuán)）技(jì)術參數(shù)

產品型(xíng)號 TH2839 TH2839A

測(cè)試(shì)信號(hào)源(yuán)

信(xìn)號源(yuán)輸出阻抗(kàng) 100Ω ， ±1% @1kHz

測試頻率

範(fàn)圍 20Hz-10MHz 20Hz-5MHz

分(fēn)辨率(shuài)

20.0000Hz - 99.9999Hz 1mHz

100.000Hz - 999.999Hz 10mHz

1.00000kHz - 9.99999kHz 100mHz

10.0000kHz - 99.9999kHz 1Hz

100.000kHz - 999.999kHz 10Hz

1.00000MHz - 10.00000MHz 100Hz

AC測試(shì)信(xìn)號(hào)模式(shì)

額定值(ALC OFF)： 設(shè)定電壓(yā)為測試端開路時Hcur電壓

設定(dìng)電(diàn)流(liú)為(wéi)測試端短(duǎn)路時(shí)從Hcur流出電流

恒定值(zhí)(ALC ON)： 保(bǎo)持DUT上電壓(yā)與設定(dìng)值相同

保持DUT上(shàng)電流與(yǔ)設(shè)定值相(xiāng)同(tóng)

AC信(xìn)號

電(diàn)壓範圍 F≤2MHz 5mVrms-- 2Vrms

F >2MHz 5mVrms -- 1Vrms

分辨率(shuài)

5mVrms -- 0.2Vrms 100μ Vrms

0.2Vrms -- 0.5Vrms 200μ Vrms

0.5Vrms -- 1Vrms 500μ Vrms

1Vrms -- 2Vrms 1mVrms

電流範圍 50μ Arms -- 20mArms

分辨(biàn)率

50μ Arms -- 2mArms 1 μ Arms

2mArms -- 5mArms 2 μ Arms

5mArms -- 10mArms 5 μ Arms

10mArms -- 20mArms 10μ Arms

Rdc測試(shì)

電(diàn)壓範圍(wéi) 100mV — 2V

分辨(biàn)率 100μ V

電流範圍 0mA— 20mA

分辨率(shuài) 1μ A

DC偏(piān)置(zhì)

電(diàn)壓(yā)範(fàn)圍(wéi) 0V — ± 40V

分(fēn)辨率(shuài)

0V -- 5V 100μ V

5V -- 10V 1mV

10V -- 20V 2mV

20V -- 40V 5mV

電(diàn)流(liú)範圍 0mA— ± 100mA

分辨(biàn)率(shuài)

0 A -- 50mA 1μ A

50mA -- 100mA 10μ A

電壓源

電壓範圍 -10V -- 10V

分辨(biàn)率 s1mV

電流範(fàn)圍 -45mA -- +45mA

輸出阻(zǔ)抗 100Ω

顯(xiǎn)示器(qì)

尺寸(cùn)/類(lèi)型(xíng) 7英寸(cùn) (對角綫)TFT LCD顯示器(qì)

比例(lì) 16： 9

分辨率 800×RGB×480測量(liáng)功(gōng)能

測試(shì)參數

Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp

Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs

Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc

Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc

R-X, Z-θ d, Z-θ r

G-B, Y-θ d, Y-θ r

Vdc-Idc

數學(xué)功能(néng) A(X+B)+C， X為測試參數(shù)， A， B， C為輸入(rù)參(cān)數(shù)

等(děng)效(xiào)電路 串(chuàn)聯， 並聯

偏(piān)差(chà)測(cè)量 與(yǔ)標(biāo)稱(chēng)值(zhí)的絕對偏(piān)差Δ ， 與標稱(chēng)值(zhí)的(dí)百分比偏差Δ %

校(xiào)準功能(néng) 開(kāi)路OPEN， 短路SHORT， 負(fù)載LOAD

量程選擇(zé) 自(zì)動(dòng)AUTO， 手(shǒu)動(dòng)HOLD

量程

LCR 100mΩ ， 1Ω ， 10Ω ， 20Ω ， 50Ω ， 100Ω ， 200Ω ， 500Ω ， 1kΩ ， 2kΩ ， 5kΩ ， 10kΩ ，20kΩ ， 50kΩ ， 100kΩ ， 共15檔

Rdc 1Ω ， 10Ω ， 20Ω ， 50Ω ， 100Ω ， 200Ω ， 500Ω ， 1kΩ ， 2kΩ ， 5kΩ ， 10kΩ ， 20kΩ ， 50kΩ ，100kΩ ， 共15檔

觸(chù)發模式 INT， MAN， EXT， BUS

觸發延(yán)遲 0 s -- 999 s， 分辨率(shuài)100us

測(cè)試端配置(zhì) 四(sì)端對(duì)

測試電纜(lǎn)長度(dù) 0m, 1m, 2m

測量平(píng)均 1-255次(cì)

測(cè)量(liáng)時間(jiān)(ms)

速度(dù)模(mó)式 20Hz 100Hz 1kHz 10kHz 100kHz 1MHz 10MHz

FAST 330 100 20 7.7 5.7 5.6 5.6

MED 380 180 110 92 89 88 88

LONG 480 300 240 230 220 220 220

測量(liáng)顯示(shì)範圍 a 1×10-18； E 1×1018

Cs, Cp ±1.00000 aF -- 999.999 EF

Ls,Lp ±1.00000 aH -- 999.999 EH

D ±0.00001 -- 9.99999

Q ±0.01 -- 9999.99

R, Rs, Rp, X, Z, Rdc ±1.00000 aΩ -- 999.999 EΩ

G,B,Y ±1. 00000 aS -- 999.999 ES

Vdc ±1.00000 aV -- 999.999 EV

Idc ±1.00000 aA -- 999.999 EA

θ r ±1.00000 a rad -- 3.14159 rad

θ d ±0.0001 deg -- 180.000 deg

Δ % ±0.0001% -- 999.999%

t -99.99℃ -- 1000.00℃

Turn Ratio (待(dài)擴(kuò)展(zhǎn)) ±0.00000 -- 1000.00

基本測量準確度(dù) 0.05%(詳(xiáng)見說(shuō)明書(shū))

列(liè)表掃描(miáo)

掃描點(diǎn)數(shù) 最多201點

掃描(miáo)參(cān)數(shù) 測試頻率(shuài)， AC電壓， AC電(diàn)流， DC BIAS電(diàn)壓(yā)， DC BIAS電流

第(dì)二掃(sǎo)描(miáo)參數(shù) 無(wú)， 量(liáng)程方(fāng)式， 測(cè)試頻率， AC電壓(yā)， AC電流， DC BIAS電壓， DC BIAS電流， 直流(liú)源(yuán)電(diàn)壓(yā)。

注： 已選擇(zé)的(dí)第一(yī)掃描參(cān)數參(cān)數(shù)不(bù)能(néng)再(zài)選為第二掃描參數。

觸(chù)發(fā)模式

順序SEQ 當(dāng)一次(cì)觸(chù)發(fā)後(hòu)， 在所(suǒ)有(yǒu)掃描點(diǎn)測(cè)量。 /EOM/INDEX隻輸出一次(cì)。

步(bù)進STEP 每(měi)次(cì)觸發執行一(yī)個掃描點測(cè)量(liáng)。 每點均(jūn)輸出/EOM/INDEX， 但列表掃描比較器(qì)結果隻在(zài)最(zuì)後的/EOM才輸出。

列表(biǎo)掃描比(bǐ)較器(qì) 可(kě)為每個掃描點設(shè)置(zhì)一(yī)對(duì)下(xià)限(xiàn)和上限(xiàn)。

可選(xuǎn)擇(zé)： 通(tōng)過(guò)第(dì)一掃描(miáo)參數(shù)判斷/通過第二參(cān)數判(pàn)斷/不用(yòng)於每一極限。列表(biǎo)掃描(miáo)時間標記 在(zài)順(shùn)序模(mó)式(shì)中(zhōng)， 將觸發點設定為0時(shí)， 通過(guò)定(dìng)義(yì)時間(jiān)就可(kě)在每(měi)個(gè)測量(liáng)點記錄測(cè)量開(kāi)始(shǐ)的時間(jiān)。

圖形(xíng)掃(sǎo)描(miáo)分析

掃(sǎo)描點(diǎn)數(shù) 51， 101， 201， 401， 801點(diǎn)可選

掃(sǎo)描軌跡 主(zhǔ)/副參(cān)數(shù)可(kě)選擇

顯示範圍(wéi) 自動， 鎖(suǒ)定

坐(zuò)標標尺 對數(shù)， 綫(xiàn)性(xìng)

掃描參數 頻率， ACV， ACI， DCV BIAS/DCI BIAS， 直流電壓源

掃(sǎo)描結果(guǒ)顯(xiǎn)示 主/副(fù)參數(shù)最大值(zhí)/最小值(zhí)， 設定點(diǎn)主(zhǔ)/副參(cān)數(shù)值(zhí)

掃描圖(tú)形存儲(chǔ) 掃描圖形(xíng)可(kě)存(cún)儲於儀(yí)器內部FLASH， 外(wài)部USB存儲(chǔ)器(qì)或(huò)上傳(chuán)上位(wèi)機。

比較器

Bin分(fēn)檔

主參(cān)數 9 BIN， OUT_OF_BINS， AUX_BIN和LOW_C_REJECT

副參(cān)數 HIGH， IN， LOW

Bin極限設置 絕對(duì)值， 偏(piān)差(chà)值， 百分偏(piān)差值(zhí)

Bin計數(shù) 0 -- 999999

PASS/FAIL指(zhǐ)示 滿(mǎn)足(zú)主參數為9 BIN之一， 副(fù)參(cān)數(shù)為(wéi)IN， 前(qián)麵板PASS燈ON， 否(fǒu)則FAIL ON

測量輔助功能(néng)

數據緩(huǎn)衝(chōng)存(cún)儲(chǔ)功(gōng)能(néng) 201個(gè)測(cè)量(liáng)結果可分批(pī)讀(dú)取

保存(cún)/調用功能(néng) 40組儀器內(nèi)置非易失(shī)存儲器(qì)測試(shì)設(shè)定文(wén)件

500組(zǔ)儀器USB存(cún)儲(chǔ)器(qì)測試(shì)設(shè)定文件/截(jié)屏圖形/記(jì)錄文(wén)件

鍵(jiàn)盤(pán)鎖(suǒ)定(dìng)功能 可鎖定(dìng)前(qián)麵(miàn)板按鍵

接口

USB HOST端口(kǒu) 通(tōng)用串行總(zǒng)綫(xiàn)插座(zuò)， A類； FAT16/FAT32格式(shì)。 U盤(pán)存儲或條(tiáo)形碼掃(sǎo)描(miáo)

USB DEVICE端口(kǒu) 通(tōng)用串(chuàn)行總綫插座， 小型(xíng)B類(lèi)（4個接觸位置） ； 與(yǔ)USBTMC-USB488和USB 2.0相符(fú)合(hé)， 陰(yīn)接(jiē)頭(tóu)用於(yú)連(lián)接(jiē)外部控製器(qì)。

LAN 10/100BaseT以(yǐ)太網， 8引腳(jiǎo)， 兩(liǎng)種速度選擇

HANDLER接(jiē)口 用(yòng)於Bin分(fēn)檔(dàng)信號輸出

外(wài)部(bù)DC BIAS控製 控(kòng)製(zhì)TH1778/TH1778S偏置電(diàn)流(liú)源， 最(zuì)多(duō)一(yī)台TH1778+5台TH1778S (120A MAX)

RS232C 標準(zhǔn)9針(zhēn)， 交(jiāo)叉(chā)

GPIB (選(xuǎn)件) 24針D-Sub端口（D-24 類(lèi)） ， 陰接頭(tóu)與(yǔ)IEEE488.1， 2和(hé)SCPI兼(jiān)容(róng)。

SCANNER(選(xuǎn)件(jiàn)) 與(yǔ)TH2819X， TH2829X SCANNER接口兼容(róng)

基(jī)本準(zhǔn)確度因子(zǐ)曲綫(xiàn)：

注：測試信號電平(píng)： 0.3Vrms – 1Vrms

上部(bù)數值（無(wú)括(kuò)號的(dí)數值(zhí)）適(shì)用於中速(sù)和慢速，

下(xià)部(bù)數(shù)值(zhí)（括號中(zhōng)的(dí)數值(zhí)）適用(yòng)於快速(sù)。

TH26007A磁(cí)環(huán)測試(shì)夾具 

TH26108C四(sì)端對(duì)貼(tiē)片測(cè)試(shì)夾具

TH26063四端(duān)測試(shì)夾(jiā)具

TH26008ASMD 元(yuán)件測(cè)試(shì)夾具(jù) 

TH26009B SMD元件(jiàn)測(cè)試(shì)鉗 

TH26047四端(duān)測(cè)試夾具(jù)

TH26048四(sì)端(duān)測(cè)試夾具 

TH26062A四端(duān)測試(shì)夾具 

TH26077電介(jiè)質(zhì)測試夾(jiā)具