產品名稱:美國(guó)吉時利KEITHLEY2602B源表
產品(pǐn)型號:
更(gēng)新時間(jiān):2025-06-07
產品(pǐn)簡介:
美國吉(jí)時利KEITHLEY2602B源表專業(yè)為中國(guó)區用戶(hù)提供儀器設備(bèi),測(cè)試方(fāng)案(àn),技術(shù)培(péi)訓,維修服務(wù)
專業儀(yí)器(qì)設備(bèi)與測(cè)試方案供(gōng)應商(shāng)——上(shàng)海(hǎi)堅融(róng)實(shí)業有(yǒu)限(xiàn)公司(sī)JETYOO INDUSTRIAL & 堅友(yǒu)(上(shàng)海)測量(liáng)儀器(qì)有限公(gōng)司JETYOO INSTRUMENTS,由(yóu)堅(jiān)JET和融YOO兩位(wèi)技術工(gōng)程師於(yú)2011年(nián)共(gòng)同創立,誌在破舊立新(xīn)!*測(cè)試測量行業代理(lǐ)經銷商隻(zhī)專(zhuān)業(yè)做(zuò)商務銷售,不專(zhuān)業做售前(qián)測試方案(àn),不(bù)專業做(zuò)售(shòu)後(hòu)使(shǐ)用培(péi)訓的(dí)空白。我們的技(jì)術(shù)銷售工程(chéng)師均(jūn)為本科(kē)以(yǐ)上(shàng)學(xué)歷(lì),且均有10年以上儀(yí)器(qì)行業(yè)工作(zuò)經驗,專(zhuān)業(yè)為(wéi)中(zhōng)國(guó)區(qū)用(yòng)戶提(tí)供(gōng)儀器設備,測試(shì)方(fāng)案,技(jì)術(shù)培訓(xùn),維修服(fú)務,為上(shàng)海華(huá)東(dōng)地(dì)區一(yī)家(jiā)以技(jì)術為(wéi)導向的儀器(qì)設(shè)備綜(zōng)合(hé)服務商(shāng)。
美國吉(jí)時(shí)利KEITHLEY源表2600B係列研究(jiū)領(lǐng)域:
各種器件(jiàn)的(dí)I-V功能(néng)測試和(hé)特征分析,包括:
離散和無源元(yuán)件(jiàn)
–兩(liǎng)抽(chōu)頭(tóu)器件(jiàn)——傳(chuán)感(gǎn)器(qì),磁盤驅動器(qì)頭,金屬氧化物可(kě)變電(diàn)阻(MOV),二極(jí)管,齊(qí)納二極管,電(diàn)容,熱(rè)敏(mǐn)電(diàn)阻
–三抽(chōu)頭(tóu)器(qì)件——小(xiǎo)信號雙(shuāng)極結型(xíng)晶(jīng)體(tǐ)管(BJT),場(cháng)效(xiào)應(yīng)晶體(tǐ)管(guǎn)(FET)等(děng)等
簡單IC器件(jiàn)——光學器件(jiàn),驅動(dòng)器(qì),開關(guān),傳感器(qì)
集(jí)成器件——小規(guī)模(mó)集(jí)成(SSI)和(hé)大規模集(jí)成(LSI)
–模擬(nǐ)IC
–射頻集(jí)成(chéng)電(diàn)路(lù)(RFIC)
–集(jí)成(chéng)電路(lù)(ASIC)
–片(piàn)上(shàng)係統(tǒng)(SoC)器(qì)件
光(guāng)電器(qì)件(jiàn),例如(rú)發光(guāng)二極管(LED),激(jī)光二極管,高亮(liàng)度(dù)LED(HBLED),垂(chuí)直腔(qiāng)麵發射激光(guāng)器(qì)(VCSEL),顯示(shì)器
圓(yuán)片級可(kě)靠性
- NBTI,TDDB,HCI,電遷移(yí)
太陽(yáng)能電(diàn)池(chí)
電池
暫(zàn)態抑製器件
IC,RFIC,MMIC
激(jī)光二極(jí)管(guǎn),激(jī)光(guāng)二極管模塊(kuài),LED,光(guāng)電(diàn)檢測器(qì)
電路保(bǎo)護器(qì)件:
TVS,MOV,熔絲
安全(quán)氣(qì)囊
連(lián)接(jiē)器(qì),開(kāi)關(guān),繼電器(qì)
碳(tàn)納米(mǐ)管
半(bàn)導體(tǐ)納米(mǐ)綫
碳納米(mǐ)管 FET
納(nà)米(mǐ)傳感(gǎn)器和陣列
單電(diàn)子(zǐ)晶體管
分子電(diàn)子(zǐ)
有(yǒu)機電(diàn)子(zǐ)
基本(běn)運(yùn)放電路
二極管和電路(lù)
晶體管電(diàn)路(lù)
測試:
漏流
低壓(yā),電阻(zǔ)
LIV
IDDQ
I-V特(tè)征分析
隔離(lí)與軌(guǐ)跡電(diàn)阻
溫度係(xì)數
正向(xiàng)電壓,反向擊(jī)穿,漏(lòu)電(diàn)流(liú)
直(zhí)流參(cān)數測試(shì)
直流(liú)電源(yuán)
HIPOT
介質(zhì)耐受性
雙(shuāng)極結型(xíng)晶體管設計
結(jié)型場效(xiào)應晶(jīng)體管設(shè)計
金屬氧(yǎng)化物(wù)半導體(tǐ)場效應晶(jīng)體管設計(jì)
太陽(yáng)能(néng)電池和(hé) LED 設計
高(gāo)電(diàn)子遷移(yí)率晶(jīng)體(tǐ)管設計
復(fù)合(hé)半導體(tǐ)器(qì)件設計
分析(xī)納(nà)米材料(liào)和實驗(yàn)器(qì)件
碳(tàn)納(nà)米(mǐ)管(guǎn)的(dí)電測(cè)量(liáng)標(biāo)準
測(cè)量碳納米管電氣(qì)特(tè)性(xìng)
提高(gāo)納米(mǐ)電(diàn)子(zǐ)和(hé)分子電(diàn)子器件(jiàn)的(dí)低(dī)電流(liú)測量
在(zài)低功率(shuài)和低壓應用(yòng)中(zhōng)實現(xiàn)準(zhǔn)確,可靠(kào)的(dí)電阻測量
納(nà)米級(jí)器(qì)件(jiàn)和(hé)材料的電氣(qì)測(cè)量(liáng)
提高超(chāo)高電阻和(hé)電阻(zǔ)率(shuài)測量的可重復(fù)性
一(yī)種(zhǒng)微分電導的(dí)改(gǎi)進測量方法
納米(mǐ)技術(shù)準(zhǔn)確(què)電氣測量(liáng)的技術
納米(mǐ)級材料的電氣測量
降低外部誤差源影(yǐng)響的儀(yí)器技術
迎接65nm節點的(dí)測(cè)量(liáng)挑戰
測量(liáng)半(bàn)導(dǎo)體材料(liào)的高(gāo)電(diàn)阻率(shuài)和霍(huò)爾(ěr)電壓
用微(wēi)微(wēi)微安量(liáng)程測量電(diàn)流
柵(zhà)極電(diàn)介(jiè)質電(diàn)容電壓特(tè)性分析
評估氧化層的(dí)可(kě)靠(kào)性(xìng)
的半(bàn)導體器件結(jié)構設計(jì)和試驗(yàn)低(dī)電(diàn)阻(zǔ),低(dī)功耗半(bàn)導體器
輸(shū)出(chū)極低電(diàn)流(liú)和(hé)測量極低電壓(yā)分(fēn)析現代材料(liào),半(bàn)導(dǎo)體和(hé)納米(mǐ)電子(zǐ)元件的(dí)電阻
低阻測量(低至(zhì)10nΩ)分析(xī)導(dǎo)通電阻(zǔ)參數(shù),互連和低功(gōng)率(shuài)半導(dǎo)體(tǐ)。
用於*進CMOS技術(shù)的(dí)脈衝可靠性測試
高(gāo)K柵極電(diàn)介(jiè)質(zhì)電荷(hé)俘獲(huò)行為的脈(mài)衝(chōng)特性分(fēn)析
用6綫(xiàn)歐姆測量技(jì)術進(jìn)行更高準確度的電(diàn)阻(zǔ)測(cè)量(liáng)
配置分(fēn)立電(diàn)阻器驗證測試(shì)係統(tǒng)
電(diàn)信激(jī)光二極管(guǎn)模塊(kuài)的(dí)高(gāo)吞吐率直流生產測試
多台(tái)數(shù)字(zì)源(yuán)表(biǎo)的觸(chù)發(fā)器同步(bù)
高亮(liàng)度,可(kě)見光LED的生(shēng)產測試(shì)
OLED顯示器的(dí)直(zhí)流(liú)生產測試(shì)
在運行中第(dì)5次測(cè)量(liáng)用於偏(piān)置(zhì)溫度不穩(wěn)定(dìng)特性(xìng)分析(xī)
數字(zì)源(yuán)表(biǎo)的緩衝器以及(jí)如何用(yòng)這(zhè)兩(liǎng)個緩衝器獲取多(duō)達(dá)5000點數據(jù)
連接(jiē)器的(dí)生(shēng)產(chǎn)測試方案(àn)
射(shè)頻(pín)功(gōng)率晶體管的(dí)直流(liú)電氣特性(xìng)分析
美國吉時利KEITHLEY源表2602B ,SMU,雙通道(100fA,40V,3A直(zhí)流/10A脈衝)
源/測量(liáng)功(gōng)能(néng) - 雙(shuāng)通道(dào)型號支(zhī)持80W輸(shū)出功率(shuài)(40W/通(tōng)道)
- 4象限源/測(cè)量(liáng)具有6位半(bàn)分辨(biàn)率(shuài)
- 電(diàn)流zui大(dà)值(zhí)/zui小值:3A直流,10A脈(mài)衝/100fA
- 電(diàn)壓(yā)zui大值(zhí)/zui小值(zhí):40V/100nV
一般(bān)特(tè)性 - 內(nèi)建(jiàn)“即插即用(yòng)”基於Java的I-V特性分析(xī)和測(cè)試(shì)軟件
- TSP®(測試腳本(běn)處理(lǐ))技(jì)術(shù)在(zài)測量(liáng)儀器(qì)內嵌入(rù)了完整測(cè)試程序
- TSP-Link®擴展技(jì)術(shù)麵(miàn)向多(duō)通(tōng)道(dào)並行測(cè)試(shì)
- 軟(ruǎn)件(jiàn)仿真(zhēn)基於(yú)吉時(shí)利(lì)2400源表SMU
- 大屏(píng)幕(mù),易於(yú)閱讀,雙(shuāng)行顯示
作為2600B係列(liè)源表SMU係列產品(pǐn)的(dí)一部(bù)分(fēn),2602B源(yuán)表(biǎo)SMU是(shì)全(quán)新改(gǎi)良(liáng)版(bǎn)雙通道(dào)SMU,具有(yǒu)緊(jǐn)密(mì)集成(chéng)的4象限(xiàn)設(shè)計,能(néng)同步(bù)源和測(cè)量電壓/電流(liú)以提高(gāo)研發(fā)到自動生產測試等應(yīng)用的生產率。除保留了(liǎo)2602A的全部(bù)產品特(tè)點外(wài),2602B還具有(yǒu)6位半分辨(biàn)率,USB 2.0連(lián)接性(xìng)以及(jí)能(néng)輕鬆(sōng)移(yí)植(zhí)遺(yí)留測試(shì)代碼的2400源表(biǎo)SMU軟(ruǎn)件(jiàn)指令(líng)仿真。2602B配備了吉時(shí)利(lì)的高(gāo)速TSP®技(jì)術(比傳統PC至(zhì)儀器的(dí)通信(xìn)技術(shù)快200%),這(zhè)極(jí)大(dà)提(tí)高了(liǎo)係(xì)統級速度,降低了測試成本(běn)。TSP-Link®接口實(shí)現(xiàn)了(liǎo)多通道(dào)並行測試並(bìng)擴(kuò)展了測(cè)試(shì)係統(tǒng),沒(méi)有主機開銷。3A直流,10A脈衝和(hé)40V輸(shū)出的寬量(liáng)程(chéng)適於(yú)測試寬範(fàn)圍的大電流(liú)器(qì)件(jiàn),材料,組件和分(fēn)裝件(jiàn)。
標(biāo)配件
2600-KIT螺釘端子連接器(qì)套件
2600B源(yuán)表CD
2600B快速(sù)使(shǐ)用指(zhǐ)南
適(shì)用於2600B的2400仿(fǎng)真腳本
7709-308A 型(xíng)DB50公(gōng)連(lián)接器套(tào)件(焊(hàn)杯),帶(dài)外(wài)殼(ké)
CA-180-3A型TSP-Link電纜(lǎn)
KTS-850E02,測(cè)試(shì)腳(jiǎo)本創(chuàng)建軟件CD套件(jiàn)
SMU係(xì)列產品
2601B源(yuán)表SMU,單通道(dào)(100fA,40V,3A直(zhí)流/10A脈(mài)衝(chōng))
2611B源表(biǎo)SMU,單通道(dào)(100fA,200V,1.5A直流/10A脈衝)
2612B源(yuán)表SMU,雙(shuāng)通道(100fA,200V,1.5A直(zhí)流/10A脈衝)
2635B源表SMU,單通道(dào)(0.1fA,200V,1.5A直(zhí)流/10A脈(mài)衝)
2636B源表(biǎo)SMU,雙通(tōng)道(0.1fA,200V,1.5A直流/10A脈(mài)衝)
2604B源表(biǎo)SMU,雙(shuāng)通道(100fA,40V,3A直流(liú)/10A脈(mài)衝),台(tái)式版本
2614B源表SMU,雙通(tōng)道(dào)(100fA,200V,1.5A直(zhí)流/10A脈衝(chōng)),台式版(bǎn)本
2634B源(yuán)表SMU,雙通道(dào)(1fA,200V,1.5A直流(liú)/10A脈衝(chōng)),台式(shì)版本(běn)
美(měi)國吉時利(lì)KEITHLEY2602B源表(3A直流(liú),10A脈(mài)衝(chōng))