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產品特性Product characteristics

“精"——上海市先JIN企業!

“專"——專注工(gōng)業(yè)測試十六(liù)年(nián)!

“特(tè)"——德(dé)國(guó)萊(lái)茵TUV認證(zhèng)供(gōng)應商!

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同(tóng)惠TONGHUI TH2692絕緣電阻測(cè)試儀應(yīng)用

材料特征測試(shì)

半(bàn)導體(tǐ)，納米材(cái)料(liào)，聚(jù)合(hé)物材(cái)料，介質材(cái)料，電化學材料(liào)，鐵電材料(liào)，石(shí)墨(mò)烯，陶瓷，生(shēng)物材料，橡膠，薄(báo)膜(mó)，金(jīn)屬，有機材料(liào)等

電(diàn)子元(yuán)器(qì)件泄漏(lòu)電流和(hé)絕緣電阻(zǔ)測(cè)試(shì)

    電(diàn)容(róng)器(qì)，電阻器，二極管，晶體(tǐ)管，傳感器(qì)，TFT和(hé)CNT等類(lèi)型，光電器件，納米(mǐ)器件(jiàn)，太(tài)陽能電池，開關，繼電器(qì)等

新(xīn)能源(yuán)電池

    電(diàn)池(chí)芯微短路測(cè)試(shì)，絕(jué)緣(yuán)電阻測試

半導(dǎo)體(tǐ)和(hé)其(qí)它(tā)器件I-V特(tè)性測(cè)量

同惠(huì)TONGHUI TH2692絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻測(cè)試(shì)儀(yí)性能(néng)特點

高(gāo)達(dá)1000V可(kě)調(tiáo)測(cè)試電(diàn)壓，最大2.4mA測試電(diàn)流(liú)

10kΩ-100GΩ電阻(zǔ)測試範圍(wéi)

單測最(zuì)快(kuài)約(yuē)50ms

5寸(cùn)電(diàn)容式(shì)觸(chù)摸屏(píng)，800×480分辨(biàn)率

中(zhōng)英文操(cāo)作界麵

電阻(zǔ)和(hé)電流(liú)都可(kě)進(jìn)行分(fēn)選(xuǎn)判(pàn)定(dìng)

四端接觸(chù)檢(jiǎn)查功能

短(duǎn)路檢(jiǎn)查功能(néng)（電池微短(duǎn)路測試）

16個(gè)測試文件保存(cún)，用於(yú)不同(tóng)測試條件(jiàn)的(dí)快速(sù)切換

接口：USB DEVICE，RS232C，EXT.I/O，Analog Output，USB HOST

簡介(jiè)

TH2692型絕緣電阻測試儀(yí)是(shì)一(yī)款具(jù)有高電(diàn)壓(yā)爬升(shēng)速(sù)度，高精度(dù)，高穩定(dìng)性的(dí)絕緣電阻測(cè)試(shì)儀(yí)。

TH2692具(jù)有高(gāo)低(dī)端接觸(chù)檢(jiǎn)查功能(néng)和(hé)上下限分選(xuǎn)功(gōng)能，並配備(bèi)了EXT.I/O接口(kǒu)，RS232C接(jiē)口和USB DEVICE 接(jiē)口(kǒu)，可(kě)以(yǐ)廣泛的(dí)應用於產(chǎn)綫的(dí)自動化(huà)測試。

TH2692自(zì)帶的(dí)低(dī)壓(yā)短路(lù)檢(jiǎn)測(cè)功(gōng)能非常適(shì)應電池電芯(xīn)的微(wēi)短(duǎn)路測(cè)試(shì)，從而避免(miǎn)因施加高壓使電(diàn)池內(nèi)部的微短路部(bù)分被(bèi)燒斷，造(zào)成不(bù)良品被(bèi)判定為良品(pǐn)的(dí)風險。

電(diàn)阻(zǔ)測試10kΩ-100GΩ

輸出電(diàn)壓(yā)25V - 1000V

輸(shū)出電(diàn)流0 - 2.4mA

測量(liáng)速度  快速(sù)：50ms 中速：200ms 慢(màn)速：500ms

技(jì)術(shù)參數(shù)

功(gōng)能(néng)特(tè)點

1.  超(chāo)小(xiǎo)體積，配置(zhì)齊全(quán)

     TH2692體積小巧，標(biāo)準2U高度，前後(hòu)測試(shì)端，標(biāo)配了(liǎo)RS232C，USB DEVICE，USB HOST，EXT.I/O，Analog等(děng)接口(kǒu)，無論(lùn)上架測試，測(cè)試台還(huán)是自(zì)動化產(chǎn)綫集(jí)成(chéng)，都遊(yóu)刃(rèn)有餘(yú)。

2.  5寸(cùn)電容式觸摸(mō)屏，友好(hǎo)互動界麵

     TH2692采(cǎi)用5寸電(diàn)容(róng)式觸(chù)摸屏(píng)，積(jī)木式設(shè)計的操作界麵簡潔(jié)而(ér)又全(quán)麵，測(cè)量參數設置(zhì)，測量(liáng)參數回(huí)讀，極(jí)限設(shè)置，測(cè)量(liáng)結(jié)果判斷(duàn)等(děng)在(zài)單(dān)個(gè)頁麵即(jí)可(kě)顯(xiǎn)示(shì)，一(yī)目(mù)了(liǎo)然(rán)。

3.  接觸檢(jiǎn)查功能，保證(zhèng)測量(liáng)結果(guǒ)正(zhèng)確無誤(wù)。

在(zài)進行絕(jué)緣(yuán)電阻(zǔ)測試(shì)時，判(pàn)斷(duàn)依(yī)據(jù)是根據測量回(huí)路(lù)返回的電流值或電阻值(zhí)判斷是否(fǒu)合格，絕緣(yuán)電(diàn)阻越(yuè)高代表(biǎo)絕(jué)緣性能(néng)越(yuè)好。

但是(shì)如果測(cè)試(shì)綫斷(duàn)路(lù)，測試工裝表麵氧化或(huò)磨損(sǔn)，會導(dǎo)致測(cè)試綫與(yǔ)被測(cè)件接觸不(bù)良(liáng)，此(cǐ)時(shí)測(cè)量(liáng)回路會得到近似(sì)0的(dí)電流值或超(chāo)出儀器測(cè)量(liáng)範圍(wéi)的絕緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)值，依(yī)據預設的(dí)評判標(biāo)準，這(zhè)種讀數(shù)結(jié)果可能會被錯誤地(dì)解讀為被測元件(jiàn)處(chǔ)於(yú)良(liáng)好(hǎo)狀(zhuàng)態(tài)，即判(pàn)定為(wéi)良品(pǐn)。然(rán)而，事實真(zhēn)相(xiāng)是，由於(yú)實際測試並未有(yǒu)效進行，這(zhè)一(yī)判斷(duàn)結果是不(bù)準確的，因(yīn)此構成(chéng)了(liǎo)對被測元(yuán)件狀(zhuàng)態(tài)的誤(wù)判。

為(wéi)解(jiě)決(jué)此(cǐ)問(wèn)題，TH2692特(tè)別設計了接觸檢(jiǎn)查(chá)功能，開啟此功(gōng)能後，每次讀取測(cè)試電(diàn)壓後均進行(háng)接(jiē)觸(chù)檢(jiǎn)查(chá)，以保證測(cè)試(shì)過程(chéng)中測試回路突(tū)然中(zhōng)斷(duàn)亦能(néng)實時(shí)判(pàn)斷(duàn)，並(bìng)及時在(zài)主(zhǔ)參數區(qū)域(yù)顯示並標明接觸不(bù)良(liáng)的具體測(cè)試(shì)端。

4.  短路檢查（電池微短(duǎn)路測試）功能，無損檢(jiǎn)測電芯(xīn)微短(duǎn)路(lù)

鋰(lǐ)電池(chí)在生產(chǎn)過程中(zhōng)，會(huì)在(zài)電(diàn)池內部(bù)電(diàn)芯(xīn)與電(diàn)芯之(zhī)間，或單(dān)片(piàn)電芯內部(bù)形(xíng)成(chéng)微小局(jú)部(bù)短路(lù)情況，即(jí)微(wēi)短(duǎn)路(lù)。微短(duǎn)路情(qíng)況不會(huì)直(zhí)接(jiē)燒(shāo)壞(huài)電(diàn)池，而是在較短時間內（幾周(zhōu)或幾個(gè)月）降低(dī)電芯(xīn)性能，導致電芯或電(diàn)池(chí)組(zǔ)不能使用(yòng)。

造成(chéng)微短(duǎn)路通(tōng)常有如下幾(jī)個原因

1)     粉(fěn)塵或雜(zá)物(wù)：電芯疊(dié)片或(huò)卷(juàn)片時，因(yīn)空(kōng)氣環境不達標，導致粉塵或尖(jiān)銳雜物附著(zhuó)在(zài)電芯隔(gé)膜上(shàng)，刺穿隔(gé)膜(mó)，形成微短(duǎn)路。

2)     電(diàn)芯隔膜(mó)錯位：通(tōng)常(cháng)是在(zài)生產過程中隔(gé)膜邊緣縮(suō)小導致(zhì)電芯正負極(jí)直接(jiē)接(jiē)觸造(zào)成電芯(xīn)損壞。

3)     隔(gé)膜質量(liáng)差：由於電池組使(shǐ)用過程(chéng)中經(jīng)常(cháng)大電(diàn)流充放電(diàn)，質(zhì)量(liáng)不達(dá)標(biāo)的隔膜(mó)由(yóu)於(yú)無法(fǎ)承受短(duǎn)時間內巨(jù)大的(dí)鋰離子(zǐ)穿過(guò)而導(dǎo)致局部或大(dà)麵積(jī)破損，電(diàn)芯(xīn)劇烈發(fā)燙後(hòu)損(sǔn)壞。

4)     焊接工藝：采用(yòng)普通(tōng)電(diàn)焊或(huò)者(zhě)點(diǎn)焊等(děng)焊(hàn)接方式時，會極耳(ěr)焊接點出現微(wēi)焊接(jiē)或氣泡，極耳(ěr)容(róng)易脫落(là)。

微(wēi)短路(lù)對電(diàn)池危(wēi)害極大，是(shì)引起電(diàn)池(chí)自(zì)放(fàng)電的主要原(yuán)因(yīn)，主要(yào)表現在：

1） 鋰(lǐ)電池，鋰(lǐ)電(diàn)池(chí)組中(zhōng)單片(piàn)電(diàn)芯電(diàn)壓放電(diàn)時下降較(jiào)快，充(chōng)電時上升(shēng)快。

2） 電(diàn)池沒(méi)電壓或者(zhě)無法充放(fàng)電。 

因(yīn)此，在電池(chí)/電芯測試(shì)過程(chéng)中，微(wēi)短(duǎn)路測試(shì)非常(cháng)重(zhòng)要，常(cháng)規(guī)測(cè)試(shì)方法通常用大電壓或大電(diàn)流(liú)測(cè)試，但(dàn)這(zhè)種(zhǒng)方法(fǎ)極(jí)易(yì)直(zhí)接燒毀微(wēi)短路(lù)部(bù)位而導致(zhì)測試結(jié)果為良品。

TH2692采(cǎi)用了獨(dú)特(tè)的設(shè)計，可(kě)有(yǒu)效(xiào)規(guī)避直接使(shǐ)用高壓(yā)測(cè)試導(dǎo)致(zhì)燒(shāo)毀微(wēi)短路部位的誤(wù)判結果。

5.  主副參(cān)數比(bǐ)較(jiào)器，多(duō)種(zhǒng)判(pàn)斷結(jié)果輸(shū)出方(fāng)式，適(shì)合自動化(huà)係統(tǒng)配(pèi)套

儀器可對電(diàn)流(liú)或(huò)絕(jué)緣電阻(zǔ)進(jìn)行比較分(fēn)選(xuǎn)，主參(cān)數為(wéi)絕緣電(diàn)阻模式時上下(xià)限(xiàn)設置範圍(wéi)：0.000 - 1000GΩ，主(zhǔ)參數為電(diàn)流模式，上下限設(shè)置範圍：0.000 - 1000A，主副參數(shù)可直接點擊屏幕主參(cān)數(shù)位(wèi)置快(kuài)速切換(huàn)。

1） 測試結(jié)果(guǒ)和判斷(duàn)結(jié)果直接在儀器屏幕上(shàng)顯示(shì)

       直接(jiē)在(zài)儀器(qì)屏幕上顯(xiǎn)示(shì)

        除了(liǎo)在(zài)屏幕上顯示(shì)測量(liáng)結果外(wài)，還(huán)可通(tōng)過比較訊響(xiǎng)功(gōng)能(néng)直接(jiē)用(yòng)聲(shēng)音(yīn)輸(shū)出(chū)結(jié)果。

2） 測(cè)試(shì)過程中數(shù)據采(cǎi)集(jí)

       TH2692可通過RS232C或(huò)USB Device接(jiē)口自動(dòng)將測量(liáng)值(zhí)和判定(dìng)結(jié)果以(yǐ)數據(jù)方式發送給 PC。

3） 自(zì)動(dòng)化(huà)測試交互信(xìn)號(hào)

       對(duì)於自(zì)動化係(xì)統(tǒng)自動(dòng)判(pàn)斷，則(zé)可以通(tōng)過EXT.I/O接口接收自動(dòng)化產綫(xiàn)觸(chù)發(fā)信號，並將(jiāng)測量結果直(zhí)接(jiē)通過I/O信(xìn)號輸出(chū)。

     儀(yí)器更貼心的設計了(liǎo)外部接(jiē)口(kǒu)測試器，可對(duì)外(wài)部(bù)接(jiē)口信號(hào)進行調(tiáo)試與查看信(xìn)號(hào)狀(zhuàng)態。

      TH2692另外提(tí)供(gōng)了(liǎo)模(mó)擬輸(shū)出接口(kǒu)，可將測(cè)試(shì)結(jié)果轉化為0-4V的(dí)電壓(yā)輸(shū)出給數據記錄儀(yí)記(jì)錄